雪迪龍TOFSIMS國產化項目正式啟動，開啟高端分析儀器自主創新新篇章

2025年9月17日，一場承載著高端分析儀器自主化突破使命的盛會——雪迪龍飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）國產化項目啟動儀式，在雪迪龍北京研發生產基地隆重舉行。該項目的正式啟動，不僅標志著雪迪龍在高端質譜儀器領域的國產化征程邁入關鍵階段，更為我國在半導體、新能源等戰略新興產業的核心檢測設備自主可控注入強勁動力。

雪迪龍董事長敖小強、海外業務總經理Kim Sand、董事會秘書葛毅捷、總工程師張倩暄等核心管理層悉數出席，與子公司英國Kore公司的技術專家Daniel Blenkhorn、Elizabeth Roberts，以及雪迪龍中國質譜團隊核心成員齊聚一堂，共同見證這一重要時刻。各方代表深入交流，為項目后續的研發攻堅與市場拓展凝聚共識，形成跨地域、跨團隊協同創新的強大合力。

作為此次項目的核心發力點，依托子公司Kore公司在TOF-SIMS技術領域的深厚積淀，結合雪迪龍在國內分析儀器市場的豐富經驗與強大研發實力，雙方聯合共同攻克TOF-SIMS技術國產化過程中的關鍵難題，推動技術與場景化應用的深度融合。項目團隊將以“模塊化設計、高性價比定位、聚焦場景應用”為三大核心抓手，針對半導體芯片表面污染物分析、新能源材料界面成分表征、材料科學領域的微觀結構分析、生物醫學領域的細胞表面分子檢測，以及環境監測中的痕量污染物溯源等核心需求，以技術創新破解行業痛點。

長期以來，我國高端TOF-SIMS儀器市場主要被國外品牌壟斷，不僅設備采購成本高昂，后期的維護保養與技術支持也存在諸多不便，在一定程度上制約了我國相關產業的高質量發展。雪迪龍TOF-SIMS國產化項目的推進，將有效打破這一局面，降低國內企業與科研機構對國外高端儀器的依賴，提升我國在高端分析儀器領域的自主創新能力與國際競爭力，為我國戰略新興產業的持續健康發展保駕護航。

飛行時間二次離子質譜儀 SurfaceSeer S TOF-SIMS

飛行時間二次離子質譜儀 SurfaceSeer I TOF-SIMS

? 檢測效能升級：采用脈沖式離子束技術，實現無損分析與高靈敏度檢測；

? 分析性能卓越：配備液態金屬離子槍，空間分辨率≤0.5μm，支持多場景化學成像與三維深度剖析，提升材料失效分析效率；

? 數據支撐強大：開發專用數據處理軟件，集成上千種材料譜庫。