BMS靜電放電ESD測試基本知識（二）

組件充電模型（Charged－Device Model，CDM）：是指IC內部首先積累了靜電，但未損傷，然后此IC接觸地面時，通過IC的PIN腳，產生了放電。（圖片來源于網絡）

除此之外，還有其他的幾個模型，就不展開了，因為理解的也不深入。其實我感覺在IEC 61000－4－2和ISO 10605里面弱化了放電模型的概念，更加務實，直接推薦單板系統層級測試ESD的RC阻容網絡，與上面模型的阻容參數也是不相同的；而放電模型的概念更多在工業或軍用的標準中，針對對象為元件，此處當做了解吧。ESD試驗方案下圖列出了ESD的測試方案，首先分為直接放電與間接放電兩個大方向，直接放電又包括了空氣放電與接觸放電兩種測試方法，而間接放電只做接觸放電。

直接放電：直接對DUT實施放電的試驗方法。間接放電：對DUT附近的耦合板實施放電，一般用來模擬人體對DUT附近的物體進行放電。接觸放電：在發生放電之前，將ESD發生器的放電電極尖端保持與DUT接觸，通過觸發發生器內部的放電開關對DUT進行放電；接觸放電的金屬電極頂端為尖狀。

空氣放電：將發生器的電極充電到試驗電壓，然后以規定的速度接近DUT，當發生器的放電尖端足夠接近DUT時，放電尖端和試驗點之間的電介質材料被擊穿，通過電弧進行放電；空氣放電的金屬電極頂端為圓形。

DUT的狀態DUT存在帶電與不帶電兩種狀態；帶電狀態模擬DUT在工作時出現的ESD場景；而不帶電狀態模擬DUT在生產過程或維修過程中出現的ESD場景。一般的RC阻容網絡選取規則標準中規定，使用2KΩ電阻，模擬人體直接通過皮膚放電；而使用330Ω電阻，模擬人體通過金屬部分（例如鑰匙）放電。DUT安裝在車輛上容易接觸的位置時，電容選取330pF，否則選取150pF。最后，把相關測試總結成為下面的一張圖，需要注意的是，實際上根據參考標準的不同，是有一些出入的。

總結：這幾天更新的比較慢，原因是本來在寫另外一個題材，寫到一半感覺理解不透徹，所以就先擱置了，等成熟后再說，又重新開了新方向；以上所有，僅供參考。