HidenAnalytical推出二次離子質譜儀成功應用于鋰電池研究

　　據外媒報道，先進科學儀器供應商Hiden Analytical宣布，其四極聚焦離子束二次離子質譜（FIB-SIMS）成功應用于鋰離子電池研究。這項突破性技術具有無與倫比的靈敏度和分辨率，適合低質量鋰檢測，將大幅推進鋰離子電池研究的進程。

　　現在，人們對電動汽車和便攜式電子設備的需求日益增長，更加需要可靠、有效的儲能系統。鋰離子電池被視為有前景的解決方案，但只有深入了解電池內部的復雜過程，才能進一步提高性能和安全性。Hiden Analytical的FIB-SIMS為這一挑戰提供了強大的解決方案，使研究人員能夠獲得關于電池內部鋰分布和濃度的重要信息。

　　該研究展示了Hiden Analytical的FIB-SIMS在高靈敏度和高精度檢測鋰等低質量元素方面的能力。

　　Hiden Analytical的FIB-SIMS可與聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）無縫集成，為研究人員提供諸多優勢，如相關成像、原位樣品制備和三維元素分析。這樣的組合有助于全面了解鋰離子電池的微觀結構，從而開發更高效、更安全的儲能系統。

　　該公司技術營銷經理Dr. Dane Walker表示：“很高興看到FIB-SIMS技術在鋰離子電池研究領域得到應用。這項突破表明，Hiden Analytical致力于推進科學研究，為不斷發展的儲能市場提供尖端解決方案。”