ParkSystems正式開通中文網站
Park Systems 是一家高起點的原子力顯微鏡領軍企業，長期以來一直與歐美的知名高校和科研院所保持著密切的合作。隨著中國技術的騰飛，Park Systems 與國內的聯系不斷加強。為了更好的服務于國內客戶，Park Systems 于2011年4月正式推出了中文網站（http://cn.parkafm.com）。該網站由專業設計師Jason Kim制作完成，整體效果簡介大方，內容清晰而詳實。網站的設計思想是以方便客戶了解原子力顯微鏡的應用為先，保持專業全面的內容。希望新的網站可以更好的幫助客戶了解和使用好原子力顯微鏡技術。 ......閱讀全文
原子力顯微鏡為什么是“原子力”
原子力顯微鏡也是運用了類似的原理。如果我們用一根探針來靠近某個物體的表面，當針尖與表面距離非常小時（一般在幾個納米左右），二者之間會存在一個微弱的相互作用。從圖2我們可以看到，針尖與物體表面之間的作用力大小和它們之間的距離直接相關，距離非常近時（一般小于零點幾納米）二者之間的力是相互排斥的，如果它們
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)是在1986年由掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Mi-croscope,STM)的發明者之一的Gerd Binnig博士在美國斯坦福大學與Quate C F和Gerber C等人研制成功的一種新型的顯微鏡[1
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互
原子力顯微鏡的力譜
原子力顯微鏡的另一個主要應用(除了成像)是力譜，它直接測量作為尖端和樣品之間間隙函數的尖端-樣品相互作用力(測量的結果稱為力-距離曲線)。對于這種方法，當懸臂的偏轉被監測為壓電位移的函數時，原子力顯微鏡的尖端向表面伸出或從表面縮回。這些測量已被用于測量納米接觸、原子鍵合、范德華力和卡西米爾力、液
原子力顯微鏡概述
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
相原子力顯微鏡
液相原子力顯微鏡(liquid cell Force Microscope )對生物分子研究而言，對DNA 基本結構及功能的了解一直是科學家追求目標，早在1953 年 DNA 雙螺旋結構的發現后，使人了解遺傳訊息如何在這當中傳送，并且也將生物研究推展到分子生物的領域，為了解個別分子的功能，許多解析分
原子力顯微鏡概述
原子力顯微鏡(AFM)概述最早掃描式顯微技術(STM)使我們能觀察表面原子級影像，但是STM 的樣品基本上要求為導體，同時表面必須非常平整， 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各種掃描式探針顯微技術中，以原子力顯微鏡(AFM)應用是最為廣泛，AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力，所
原子力顯微鏡簡介
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
原子力顯微鏡特點
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的
原子力顯微鏡簡介
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
原子力顯微鏡原理
概括 原子力顯微鏡(atomic force microscope，簡稱AFM)利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研
原子力顯微鏡原理
?原子力顯微鏡是顯微鏡中的一種類型，應用范圍十分廣泛。原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器，很多人對原子力顯微鏡原理不太了解，下面小編就為大家介紹一下原子力顯微鏡原理、工作模式及應用領域。?? ? ??原子力顯微鏡原理? ? ? ?將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固
原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法
原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法。原子力顯微鏡探針包括探針本體和設置在探針本體的針尖一側的接觸體，接觸體具有連接段和接觸段，接觸段具有接觸端面；接觸段為二維材料，且接觸端面為原子級光滑且平整的單晶界面。本發明ZL技術的原子力顯微鏡探針可精確地檢測受測樣品的各種性質。介紹隨著微米納米科學
原子力顯微鏡的原理
原子力顯微鏡用一個探針在樣品表面移動，根據探針的振動在測定樣品表面的起伏。這就類似你用手觸摸感受物體表面的光滑程度，所以當然不需要樣品導電。
原子力顯微鏡工作原理
如下：原子力顯微鏡的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定。帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢
原子力顯微鏡探針簡介
原子力顯微鏡（AFM),是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。首臺原子力顯微鏡在1985年研發成功，其模式可分為接觸模式和輕敲模式等多種模式。AFM探針由于應用范圍僅限于原子力顯微鏡，屬于高科技儀器的耗材，應用領域不廣，全世界的使用量也不多。主要的生產廠家分布在德國，瑞士，保加
原子力顯微鏡工作原理
原子力顯微鏡（AFM）是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。原子力顯微鏡自從問世以來在生物學研究中有其不可替代的作用，以其樣品制備簡單，可在多種環境中運作，高分辨率等優勢，成為生命科學研究中不可缺少的工具。 原子力顯微鏡工作原理： 通過檢測待測樣品表面和一個微型
原子力顯微鏡的特點
原子力顯微鏡的特點 1．高分辨力能力遠遠超過掃描電子顯微鏡（SEM），以及光學粗糙度儀。樣品表面的三維數據滿足了研究、生產、質量檢驗越來越微觀化的要求。 3．應用范圍廣，可用于表面觀察、尺寸測定、表面粗糙測定、顆粒度解析、突起與凹坑的統計處理、成膜條件評價、保護層的尺寸臺階測定、層間絕緣膜的平整
原子力顯微鏡(AFM)概述
原子力顯微鏡(AFM)概述最早掃描式顯微技術(STM)使我們能觀察表面原子級影像，但是STM 的樣品基本上要求為導體，同時表面必須非常平整， 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各種掃描式探針顯微技術中，以原子力顯微鏡(AFM)應用是最為廣泛，AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力，所
原子力顯微鏡的原理
原子力顯微鏡：是一種利用原子,分子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的新型實驗技術.它有一根納米級的探針,被固定在可靈敏操控的微米級彈性懸臂上.當探針很靠近樣品時，其頂端的原子與樣品表面原子間的作用力會使懸臂彎曲，偏離原來的位置.根據掃描樣品時探針的偏離量或振動頻率重建三維圖像.就能間接獲得樣品表
原子力顯微鏡使用分析
實驗概要了解原子力顯微鏡的基本結構和原理。掌握原子力顯微鏡對固體和粉末樣品的要求及制作方法。掌握原子力顯微鏡使用方法。實驗原理原子力顯微鏡的優點是：有較高的放大倍數，20-20萬倍之間連續可調；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；試樣制備簡單。1. 儀器結
原子力顯微鏡的原理
原子力顯微鏡是用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。主要用于測量物質的表面形貌、表面電勢、摩擦力、粘彈力和I/V曲線等表面性質，是表征材料表面性質強有力的新型儀器。另外此儀器還具有納米操縱和電化學測量等功能。 原子力顯微鏡的原理： 原子力顯微鏡是利用原子間的相互作用力來
原子力顯微鏡的原理
原子力顯微鏡：是一種利用原子,分子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的新型實驗技術.它有一根納米級的探針,被固定在可靈敏操控的微米級彈性懸臂上.當探針很靠近樣品時，其頂端的原子與樣品表面原子間的作用力會使懸臂彎曲，偏離原來的位置.根據掃描樣品時探針的偏離量或振動頻率重建三維圖像.就能間接獲得樣品表
原子力顯微鏡的好處
我們前面已經提到，原子力顯微鏡的測量依靠的是針尖與物體表面之間的相互作用，而這種相互作用是廣泛存在于各種分子或者原子之間的，所以原子力顯微鏡可以直接測量幾乎各種表面的結構而不需要像電子顯微鏡那樣做特殊的樣品處理，同時原子力顯微鏡也不像電子顯微鏡那樣需要一個高真空的環境。這不僅節省了大量的時間精力，而
熱離子原子力顯微鏡
熱離子原子力顯微鏡于是到了我們拍西瓜的時候。大家知道，離子運動可以由濃度梯度產生，即傳統的擴散項，也可以由電勢梯度產生，即電遷移項。此外，因為離子運動產生Vegard應變，從熱力學出發，可以預期應力也會誘導離子運動。這一理論基本框架在上世紀70年代由大材料學家John Cahn發展。老先生最著名的工
生物用原子力顯微鏡
生物用原子力顯微鏡是一種用于化學、生物學、材料科學領域的計量儀器，于2008年5月23日啟用。 技術指標 X、Y軸水平掃描范圍：≥100 μm Z軸范圍：≥15 μm 噪音水平：1nm 針尖定位噪音水平（閉環下）X-Y方向：＜0.2 nm RMS Z方向：＜0.035 RMS 激光： 850
液相原子力顯微鏡
液相原子力顯微鏡(liquid cell Force Microscope )對生物分子研究而言，對DNA 基本結構及功能的了解一直是科學家追求目標，早在1953 年DNA 雙螺旋結構的發現后，使人了解遺傳訊息如何在這當中傳送，并且也將生物研究推展到分子生物的領域，為了解個別分子的功能，許多解析分子
原子力顯微鏡的由來
原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 掃描隧道顯微鏡）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 發明。1
原子力顯微鏡及其應用
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比較，
原子力顯微鏡使用分析
實驗概要了解原子力顯微鏡的基本結構和原理。掌握原子力顯微鏡對固體和粉末樣品的要求及制作方法。掌握原子力顯微鏡使用方法。實驗原理原子力顯微鏡的優點是：有較高的放大倍數，20-20萬倍之間連續可調；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；試樣制備簡單。1. 儀器結