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  • 生物用原子力顯微鏡

    生物用原子力顯微鏡是一種用于化學、生物學、材料科學領域的計量儀器,于2008年5月23日啟用。 技術指標 X、Y軸水平掃描范圍:≥100 μm Z軸范圍:≥15 μm 噪音水平:1nm 針尖定位噪音水平(閉環下)X-Y方向:<0.2 nm RMS Z方向:<0.035 RMS 激光: 850 nm。 主要功能 空氣相及液相多模式掃描成像,單分子成像定位與原位操縱,力曲線、力鉗模式。......閱讀全文

    生物用原子力顯微鏡

      生物用原子力顯微鏡是一種用于化學、生物學、材料科學領域的計量儀器,于2008年5月23日啟用。  技術指標  X、Y軸水平掃描范圍:≥100 μm Z軸范圍:≥15 μm 噪音水平:1nm 針尖定位噪音水平(閉環下)X-Y方向:<0.2 nm RMS Z方向:<0.035 RMS 激光: 850

    原子力顯微鏡用膠

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      原子力顯微鏡的另一個主要應用(除了成像)是力譜,它直接測量作為尖端和樣品之間間隙函數的尖端-樣品相互作用力(測量的結果稱為力-距離曲線)。對于這種方法,當懸臂的偏轉被監測為壓電位移的函數時,原子力顯微鏡的尖端向表面伸出或從表面縮回。這些測量已被用于測量納米接觸、原子鍵合、范德華力和卡西米爾力、液

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    原子力顯微鏡在生物領域中的應用

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    原子力顯微鏡的在生物領域的應用

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    原子力顯微鏡的在生物領域的應用

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    原子力顯微鏡概述

      原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描,從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比

    原子力顯微鏡簡介

      原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描,從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比

    原子力顯微鏡概述

    原子力顯微鏡(AFM)概述最早掃描式顯微技術(STM)使我們能觀察表面原子級影像,但是STM 的樣品基本上要求為導體,同時表面必須非常平整, 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各種掃描式探針顯微技術中,以原子力顯微鏡(AFM)應用是最為廣泛,AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力,所

    原子力顯微鏡簡介

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    原子力顯微鏡特點

    原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡稱AFM)利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力,從而達到檢測的目的,具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體,也可以觀察非導體,從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的

    原子力顯微鏡原理

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    原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法。原子力顯微鏡探針包括探針本體和設置在探針本體的針尖一側的接觸體,接觸體具有連接段和接觸段,接觸段具有接觸端面;接觸段為二維材料,且接觸端面為原子級光滑且平整的單晶界面。本發明ZL技術的原子力顯微鏡探針可精確地檢測受測樣品的各種性質。介紹隨著微米納米科學

    原子力顯微鏡(AFM)在生物領域中的應用

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    原子力顯微鏡對生物細胞的表面形態觀察

      原子力顯微鏡可以用來對細胞進行形態學觀察,并進行圖像的分析。通過觀察細胞表面形態和三維結構,可以獲得細胞的表面積、厚度、寬度和體積等的量化參數等。例如,利用原子力顯微鏡可以對感染病毒后的細胞表面形態的改變、造骨細胞在加入底物(鈷鉻、鈦、鈦釩等)后細胞形態和細胞彈性的變化、GTP對胰腺外分泌細胞囊

    原子力顯微鏡的原理

    原子力顯微鏡用一個探針在樣品表面移動,根據探針的振動在測定樣品表面的起伏。這就類似你用手觸摸感受物體表面的光滑程度,所以當然不需要樣品導電。

    原子力顯微鏡及其應用

    ????? 原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描,從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規

    原子力顯微鏡測量架構

    原子力顯微鏡測量架構AFM 的探針一般由懸臂梁及針尖所組成,主要原理是由針尖與試片間的原子作用力,使懸臂梁產生微細位移,以測得表面結構形狀,其中最常用的距離控制方式為光束偏折技術。AFM 的主要結構可分為探針、偏移量偵測器、掃描儀、回饋電路及計算機控制系統五大部分。AFM 探針長度只有幾微米長,探針

    原子力顯微鏡測量架構

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    原子力顯微鏡的原理

    原子力顯微鏡:是一種利用原子,分子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的新型實驗技術.它有一根納米級的探針,被固定在可靈敏操控的微米級彈性懸臂上.當探針很靠近樣品時,其頂端的原子與樣品表面原子間的作用力會使懸臂彎曲,偏離原來的位置.根據掃描樣品時探針的偏離量或振動頻率重建三維圖像.就能間接獲得樣品表

    相位式原子力顯微鏡

    相位式原子力顯微鏡(Phase Ima ging Force Microscope)原子力顯微鏡在輕敲式AFM(tapping mode)操作下,量測及回饋因表面抵擋及黏滯力的作用,會引起振動探針的相位改變量,而抵擋及黏滯力的差異為不同材料性質引起,因此有機會用相位差(Phase la g)來觀察表

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