X射線能譜測量與模擬
1895年,德國科學家倫琴發現了X射線,開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領域。其中,針對電子打靶產生的韌致輻射X射線的研究,是X射線研究領域的一個重要課題。本文在國內外針對X射線能譜測量與解析的基礎上,利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶X射線能譜進行了測量。工作分為以下幾個部分：1)利用標準點源分別對高純鍺(HPGe)探測器與碲化鎘(CdTe)探測器進行能量刻度,得到能量刻度曲線。2)利用工業CT對能譜探測器內部結構進行掃描,得到能譜探測器內部結構的精確尺寸,并以此為基礎建立蒙特卡洛模型。利用蒙特卡洛模型計算HPGe探測器與CdTe探測器的本征探測效率,得到探測效率的模擬曲線,以此確定選用何種探測器作為能譜探測器。3)利用標準點源對HPGe探測器進行效率刻度,并計算出HPGe探測器的本征探測效率。將HPGe探測器實驗測得本征探測效率與模擬本征探測效率相比較,計算相對標準偏差測器模型的準確度。......閱讀全文
DPF脈沖X射線能譜測量
采用濾光法對ＤＰＦ脈沖Ｘ射線源裝置的Ｘ射線能譜進行了測量，取得了較好的結果，為輻射效應環境測量提供了一種手段。?
高能脈沖X射線能譜測量
給出了高能脈沖X射線能譜測量的基本原理及實驗結果.采用Monte-Carlo程序計算了高能光子在能譜儀中每個靈敏單元內的能量沉積,利用能譜儀測量了"強光Ⅰ號"加速器產生的高能脈沖X射線不同衰減程度下的強度,求解得到了具有時間分辨的高能脈沖X射線能譜,時間跨度57ns,時間步長5ns,光子的最高能量3
X射線能譜測量與模擬
1895年,德國科學家倫琴發現了X射線,開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領域。其中,針對電子打靶產生的韌致輻射X射線的研究,是X射線研究領域的一個重要課題。本文在國內外針對X射線能譜測量與解析的基礎上,利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶X射線能譜進行了測量。工作
X射線機重過濾X射線能譜的測量
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
X－射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
Z箍縮軟X射線連續能譜測量
診斷Z箍縮等離子體不同時刻的空間分布及狀態是認識等離子體運動規律進而控制其箍縮過程以便加以利用的必經環節。在箍縮過程中,離子、電子和光子發生強烈的相互作用,探測出射的X光可不破壞等離子體原有狀態而獲取三者運動信息。通過測量X光能譜可以探知輻射場溫度、離子密度、輻射沖擊過程等等。受現有裝置驅動能力的限
軟X射線能譜定量測量技術研究
采用每毫米 10 0 0線的自支撐透射光柵配上背照射軟X射線CCD(charge coupleddevice)組成了透射光柵譜儀 ,利用北京同步輻射裝置 (BSRF) 3W1B光束線軟X射線實驗站上X射線源分別對透射光柵的衍射效率和軟X射線CCD的響應靈敏度進行了準確的實驗標定 ,獲得了 15 0e
快脈沖硬X射線能譜測量實驗研究
研究設計了以解析吸收片后的透射率來測量快脈沖硬X射線輻射場能譜的實驗方法。對實驗方案進行了理論模擬設計,并獲得了解譜必要的理論數據,通過測量不同吸收片后光強的實驗方法獲得了透射系數,用微擾的數學方法完成了測量譜的解析,復現了測量位置處快脈沖硬X射線輻射場能譜,最后對該方法的可靠性進行了驗證。?
X射線能譜測量的蒙特卡羅成像模擬
針對高能強流電子束轟擊高Z靶產生的X射線的能譜測量問題,采用蒙特卡羅方法進行成像模擬研究。高能X射線能譜通常由對X射線經過衰減體的直穿透射率曲線進行解譜獲得。設計了帶多準直孔的截錐體模型,在單次模擬成像中獲得完整的衰減透射率曲線,有效避免了散射光子對透射率曲線以及X射線能譜重建的影響。成像面采用非均
用于高能X射線能譜測量的MLS法
為滿足高能X射線能譜測量的需要,提出采用MLS法進行能譜測量的方案。MLS法克服了其他測量方法散射不易控制、光場不均勻性影響較大的缺點,還具有對不同角度能譜進行測量的優勢。對MLS法的測量原理以及測量過程中的注意事項進行了明確,并利用蒙特卡羅方法針對一特定的X射線能譜設計了兩種不同介質的測量裝置,并
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
用透射光柵譜儀測量金箔背側X射線能譜
在星光激光裝置上利用波長為 0 3 5 μm的激光輻照金箔靶 ,在金箔靶背側用透射光柵配X射線chargecoupleddevice系統測量了其發射的軟X射線能譜 ,并與用亞千能譜儀測量的結果進行了比較 ,獲得了比較一致的結果 .測量結果表明 ,0 17μm厚度的金箔靶背側的X射線能譜偏離平衡輻射譜
HPGe測量連續硬X射線能譜的解譜方法研究
結合數值模擬得到的單能光子在HPGe探測器上能量響應函數,用改進的剝譜法對測量得到的連續硬X射線能譜進行解譜。扣除測量譜中康普頓、反散射等效應產生的計數對測量能譜的影響,得到了僅反映探測器對光電效應的能量響應的能譜。最后,通過效率修正,完成了測量譜到實際能譜的還原,為連續硬X射線能譜解析提供了可靠方
NaI晶體譜儀采集X射線能譜測量方法研究
為準確測量軔致輻射X射線能譜,利用NaI晶體譜儀對于測量光子的能譜展寬效應,結合理論模擬分析,提出了采用變能量矩陣求解法實現X射線能譜的重建。該方法通過合理選擇能量區間,可有效消除能譜響應矩陣中各矢量的相關性,從而實現能譜的準確重建。并分別以均勻能譜分布和實際軔致輻射X射線能譜為例,進行了X射線的能
用改進的透射光柵譜儀定量測量X射線能譜
利用最新研制的小型化透射光柵譜儀在"神光Ⅲ"原型實驗裝置上測量了激光注入金腔靶時激光注入口的X射線能譜,首次實現了在上極點附近對柱腔注入口輻射的測量,且實現對X射線的二維空間分辨和譜分辨的測量。改進后的透射光柵譜儀成像系統首次使用一種錯位排布的狹縫陣列結構來解決因譜儀尺寸減小帶來的能譜分辨問題,并同
HPGe測量連續硬X射線能譜的方法研究
采用數值模擬與實驗測量相結合的方法,完成了探測系統刻度,得到了該探測器對單能光子的能量全響應函數,在此基礎上探索出改進的剝譜法,對測量得到的連續硬X射線能譜進行解析,扣除了測量譜中非光電效應對每道計數的貢獻,復現了測量位置處的實際能譜,并對該能譜測量方法進行了誤差分析,提出了進一步完善措施。?
激光等離子體X射線能譜的測量
分別用K邊濾波和濾波-熒光法測量了激光等離子體發射的1.5—100keV的X射線連續譜。文中敘述了激光等離子體X射線能譜的測量方法和多道X射線能譜儀,介紹了激光聚變實驗結果。?
高能X射線能譜測量中衰減材料特性影響
基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量,采用蒙特卡羅成像模擬的方法研究衰減材料選擇對能譜準確穩定重建的影響。設計多孔準直模型模擬X射線穿過不同衰減材料的透射過程,并在單次成像中獲得完整的衰減透射率曲線。由衰減透射率求解能譜是一種病態條件問題,采用改進的迭代擾動法進行解譜,計算時考慮透射率計算值與真實值
單光子入射方法測量超快硬X射線能譜
利用單光子入射方法測量了高強度超短脈沖激光 (1 3 0fs,1 0 16 W cm2 ,744nm)與固體等離子體相互作用產生的超快 (ps)硬X射線 (>3 0keV)能量連續譜。采用鉛屏蔽、激光脈沖和線性門同步符合技術將HPGeX射線譜儀的本底計數率降低到 1 0 -4 炮 ,滿足了單光子計數
HL2A裝置SDD軟X射線能譜測量結果
用兩道獨立的硅漂移探測器(SDD)測量了HL-2A等離子體在電子回旋加熱(ECRH)期間的軟X射線能譜,給出了電子溫度。SDD軟X射線能譜測量系統所測量的結果與電子回旋輻射(ECE)所測量的電子溫度分布能較好地相互吻合。SDD軟X射線能譜測量結果表明:在軸ECRH期間,等離子體芯部(z=0)得到加熱
X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
X射線能譜數據處理
本文提出運用FFT,對雙路實測能譜信息在變換域中加以濾波修正,同時完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并與諸元素特征峰及背底的譜分析相比較,獲取濾波修正頻窗。文中編制了雙路能譜同時作濾波修正程序。試驗表明:此法實現了數據壓縮及零相位校正,增快了濾波速度,減小了相位滯移量,提高了分
Si(Li)X射線能譜儀
Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。
X射線能譜定性分析
X射線能譜定性分析快速有效，是電子探針和掃描電鏡分析必須的組成部分。用X射線能譜儀測量試樣特征X射線全譜中各譜峰的能量值，計算機釋譜得出試樣的元素組成。X射線能譜定性分析要注意背景的判別、峰的位移、峰的重疊、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干擾峰等問題，以免導致錯誤的分析結果。(1)背景的判別在使用X射線
軟X射線能譜儀與透射光柵譜儀測量結果的對比
對軟 X射線譜儀和透射光柵譜儀的測量結果進行了對比。它們的回推譜形大致符合 ,只是透射光柵譜儀的復原譜的 N帶相對于 O帶太小。其原因可能是 X射線 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,對 N帶吸收較多。經過對透射光柵譜進行吸收補償后 ,兩種譜儀的復原譜基本一致。?
用x射線能譜儀測量樣品成份的新方法
本文提出了x射線能譜測試中的一個新參數η_A~B,其物理意義是單個電子激發元素A與B的特征x射線強度之比。在此基礎上,提出了一種新的測試方法。實驗證明,新方法既具有全標樣法的精度又具有無標樣法簡便迅速的優點。?