如何選擇X熒光光譜儀（XRF）
應選擇歷史悠久，技術過硬，故障率低，日常運行成本低，使用年限長，性價比高，品牌過硬的儀器。Niton公司成立超過20年，其便攜式光譜儀在世界上處于ling先地位，在世界各地已安裝超過12000臺，可快捷測試元素周期表中從22號元素鈦(Ti)至83號元素鉍(Bi)中的23個標準合金成分元素，輔助氦(He)測試環境，可測定Al、Si、Mg、P等輕金屬非金屬元素。Niton便攜式X熒光光譜儀創造了以下幾個“*”：*臺環境適應性手持式XRF：采用世界先進的具有自動恒溫裝置的半導體制冷檢測器，被測樣品的環境溫度可由-60℃到600℃*臺手持式XRF使用小型X光管做光源：新型的微型X光管具有低功率率的特點，提高測試準確度*臺可測試輕金屬的手持式XRF：選配充氦裝置后，可準確測試Mg, Al, Si,P等輕金屬元素*臺具有小點測試能力的手持式XRF：可聚焦測試小元件，焊點等小目標 ......閱讀全文
如何選擇X熒光光譜儀（XRF）
??應選擇歷史悠久，技術過硬，故障率低，日常運行成本低，使用年限長，性價比高，品牌過硬的儀器。Niton公司成立超過20年，其便攜式光譜儀在世界上處于ling先地位，在世界各地已安裝超過12000臺，可快捷測試元素周期表中從22號元素鈦(Ti)至83號元素鉍(Bi)中的23個標準合金成分元素，輔助氦
XRF(X射線熒光光譜儀)選擇寶典
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 ?????對六種有害物質總量的定量檢測： 一、?按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 ???該方法建議對來料先便攜式（手持式）ROHS檢測儀檢測，能通過的就算合
X射線熒光光譜儀（XRF）
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X射線熒光光譜儀(XRF)
原理：用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射二次特征X射線，也叫X射線熒光。這些X射線熒光的能量或波長是特征的，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。從而根據特征能量線鑒別元素的種類，根據譜線強度來進行定量分析。XRF有波長散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)兩種，前者測量精密度好
X熒光光譜儀XRF的概述
是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X-射線波長和強度，從而測定各種元素的含量；而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線，照射樣品發射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分
X熒光光譜儀XRF的優勢介紹
1、采用獨特的激發X光源，樣品激發結構和探測系統，大大提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）； 2、具有現代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化； 3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求； 4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便； 5、配備功能齊全的
X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成;X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。
X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成；X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。
X熒光光譜儀XRF的性能特點
專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。 超薄窗大面積的進口SDD探測器。 內置信噪比25倍。 抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析 針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。 任意多個可選擇的分析和識別模型 相互獨立的基體效應校正模型 多變量非線性回歸程
X射線熒光光譜儀(XRF)－簡介
X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)，是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的
簡述X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm 4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，請提前說明
以色列X熒光光譜儀XRFCaliburSDD
儀器介紹： XRF-Calibur?SDD非常適合于傳統的實驗室操作，它有完全整合的電腦控制系統。重型設計及制造使得該儀器成為移動實驗室的理想選擇。 主要特點： 1.?真正實現了快速，準確的檢測，直接顯示元素的ppm含量或者百分比。 2.?礦石、巖石、礦渣、碎片、土壤、泥土、泥漿等固體和液體物質。
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干；2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm；3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，需提前說明。
X熒光光譜儀（XRF）的基本原理
?X熒光光譜儀是根據X射線熒光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀，它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。 X射線熒光（XRF）能夠測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。凡是能和x射
X熒光光譜儀器XRF篩選方法若干問題
1．取樣 1.1對于非破壞方式：操作者應該將樣品放在儀器合適的位置上，即要保證待測試部分位置準確，又要保證其它非測試部分不會被檢測。操作者必須保證待測試部分和儀器之間距離和幾何位置的可重現性。操作者必須考慮待測試部分盡可能具有規則外形，如面積、表面粗糙度、已知的物理結構等。如果需要從大的物體中獲
X射線熒光光譜儀（XRF）的基本分類
作為一種比較分析技術，在一定的條件下，利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析的儀器。 按激發、色散和探測方法的不同，分為： X射線光譜法（波長色散） X射線能譜法（能量色散）
XRFX射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。 探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種
X射線熒光光譜儀（XRF）基本原理
X射線熒光光譜儀簡稱：XRF，適用于簡單的元素識別和定量以及更加復雜的分析，X射線熒光光譜分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光，它是利用一定波長的X射線照射材料，元素處于激發狀態，從而激發出光子，形成一種熒光射線，由于不同元素的激發態的能量大小不一樣
X射線熒光光譜儀（XRF）基本原理
X射線熒光光譜儀簡稱：XRF，適用于簡單的元素識別和定量以及更加復雜的分析，X射線熒光光譜分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光，它是利用一定波長的X射線照射材料，元素處于激發狀態，從而激發出光子，形成一種熒光射線，由于不同元素的激發態的能量大
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能
X射線熒光光譜儀的探測器應該如何選擇
X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應用用途，X射線熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術可以對一些低原子序數元素進行
如何使用X熒光光譜儀
??X熒光光譜儀的原理? ? 當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 （10）-12-（10）-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態.這個過程稱為馳過程.馳豫過程既可以是非輻射躍遷,
X熒光光度計（XRF）
原理：受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。3.主要特點：（1）快速，測試一個樣品只需2min-3min；
微－X－射線熒光－(μXRF)技術詳解
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X 射線
xrf分析儀（X熒光光譜儀）的優勢和劣勢
??優勢: a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變
X熒光光譜儀XRF的性能特點和技術優勢
X熒光光譜儀XRF是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X-射線波長和強度，從而測定各種元素的含量；而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線，照射樣品發射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導體
波長色散X射線熒光光譜儀（XRF）設備采購項目招標公告
項目概況 波長色散X射線熒光光譜儀（XRF）設備采購項目的潛在投標人應在陜西省政府采購綜合管理平臺項目電子化交易系統（以下簡稱“項目電子化交易系統”）獲取招標文件，并于2023年11月21日 09時00分（北京時間）前遞交投標文件。 一、項目基本情況 項目編號：【KRDL】K2-23102
在生產進程中如何選擇X熒光測厚儀呢
??X熒光測厚儀采用了磁性測厚法：是一種超小型丈量儀,X熒光測厚儀能快速,無損傷,切確地進行鐵磁性金屬基體上的噴涂.電鍍層厚度的丈量，可普遍用于制造業,金屬加工業,化工業,商檢等檢測領域.出格適用于工程現場丈量。????X熒光測厚儀采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩