空中課堂即將開播！應對RoHS2.0檢測，您的XRF準備好了嗎
何為RoHS 2.0？ RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準，它的全稱是《關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》。該標準已于2006年7月1日開始正式實施，主要用于規范電子電氣產品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環境保護。 RoHS2.0管控項目 2015年6月4日，歐盟委員會在公報上發布(EU)2015/863指令，將鄰苯二甲酸二(2-乙基已)酯(DEHP)、鄰苯二甲酸二丁酯(DBP)、鄰苯二甲酸丁芐酯(BBP)和鄰苯二甲酸二異丁酯(DIBP)列入RoHS2.0附件II受限物質清單中。至此，RoHS 2.0 的限制列表中已達到10種物質。 RoHS2.0中的限制以及各個物質的限量 鉛(Pb) 0.1% : 汞(Hg) 0.1% 鎘(Cd) 0.01% 六價鉻(CrVI) 0.1% 多溴聯苯(PBB) 0.1% 多溴聯苯醚(PBDE) 0.1% 鄰苯二甲酸二(2-乙基已基)酯(D......閱讀全文
空中課堂即將開播！應對RoHS2.0檢測，您的XRF準備好了嗎
何為RoHS 2.0？ RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準，它的全稱是《關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》。該標準已于2006年7月1日開始正式實施，主要用于規范電子電氣產品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環境保護。 RoHS2.0管控項目 2015年6月4日
x射線熒光光譜儀－SPECTRO－XEPOS的廣泛應用
斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術的飛躍。它提供突破性的進步multi-elemental分析專業,小,微量元素濃度。新發展激勵和檢測提供出色的靈敏度和檢測限制收益顯著的精密度和準確
6月27日－14:30開播－|－電子電器玩具合規性分析的難點及XRF熒光分析應對方案
電子電器玩具合規性分析涉及到產品的安全性、電磁兼容性、化學物質含量等方面的要求，是一項復雜的工作。X熒光光譜分析技術可以作為一種有效的分析手段。X熒光光譜分析是一種非破壞性的化學分析方法，可以快速準確地檢測樣品中的各種元素成分；通過X熒光分析，可以快速獲取樣品中的有害物質信息，幫助企業及時發現并
XRF
能量色散X熒光光譜儀，簡稱XRF，是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。可應用于：1、歐盟RoHS指令限定有害元素檢測： 鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻
“原油/蠟油/渣油中元素分析的難點及ICP/XRF光譜分析應對方案”－主題網絡研討會
各有關單位：????為響應科技部、中國科協等各部委“科技服務團”工作的安排，提高廣大分析檢測技術人員的分析檢測技術水平,掌握前沿行業信息、了解最新的技術發展趨勢，“石化測控術服務平臺”擬定于2024年7月31日在線上推出“原油/蠟油/渣油中元素分析的難點及ICP/XRF應對方案”主題網絡研討會，旨在
斯派克光譜儀測量原理相關
PMT的測量原理是光電效應，CCD是電荷耦合；CCD不受通道數量的限制因為它是全譜檢測器，這一點PMT不行，因為PMT是一個對應一個波長，這是CCD 的最大優勢，基于此可以將光譜儀小型化；但是CCD只能檢測一級光譜而PMT可以檢測更高級次的光譜；作為商品儀器CCD的價格要比CPM型儀器便宜。
江蘇分析測試協會舉辦2012年最新光譜分析技術交流會
由江蘇省分析測試協會、江蘇省理化測試中心、德國斯派克(SPECTRO)分析儀器公司聯合舉辦的“2012年最新光譜分析技術交流會”，于2012年3月23日在南京新世紀大酒店成功召開。來全省高等院校、科研院所、質檢、藥檢、農檢、疾控、環保、地礦等單位從事分析測試的技術人員、科技工作者130多人參加了
XRF測試
XRF測試若干問題： XRF中文稱為X射線熒光光譜儀，它包括能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）和波長色散型X射線熒光光譜儀(WDXRF)，WDXRF在精度和準確度方面要比EDXRF好，價格也較高。目前市場上使用較多的是EDXRF。無論是哪種X射線熒光光譜儀，它都是利用熒光散射的原理探測樣品中是
鈦合金行業分析應用——斯派克手持式合金分析儀
鈦合金是以鈦元素為基礎加入其他元素組成的合金, 鈦是20世紀50年代發展起來的一種重要的結構金屬，鈦合金因具有強度高、耐蝕性好、耐熱性高等特點而被廣泛用于各個領域。 首實用的鈦合金是1954年美國研制成功的Ti-6Al-4V合金，由于它的耐熱性、強度、塑性、韌性、成形性、可焊性、耐蝕性
鈦合金行業分析應用——斯派克手持式合金分析儀
鈦合金是以鈦元素為基礎加入其他元素組成的合金, 鈦是20世紀50年代發展起來的一種重要的結構金屬，鈦合金因具有強度高、耐蝕性好、耐熱性高等特點而被廣泛用于各個領域。 首實用的鈦合金是1954年美國研制成功的Ti-6Al-4V合金，由于它的耐熱性、強度、塑性、韌性、成形性、可焊性、耐蝕
斯派克光譜儀相關內容
光電倍增管，CCD，CID檢測器的差異 目前較成熟的主要是電荷注入器件Charge-Injection Detector（CID）、電荷耦合器件Charge-Coupled Detector （CCD）。 在這兩種裝置中，由光子產生的電荷被收集并儲存在金屬-氧化物-半導體（MOS）電容器中，
德國斯派克推出ICPOES新品“SPECTROBLUE”
2011年9月，發射光譜和X射線熒光光譜分析儀器的領先供應商――德國斯派克分析儀器公司，宣布推出了電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP-OES的)SPECTROBLUE。SPECTROBLUE的推出為操作簡單、低維護成本和運行成本的緊湊型中檔光譜儀設置了新的基準。 “SPECTR
斯派克直讀光譜儀如何檢查漏氣
一、氬氣純度一定要保證≥99.998﹪，生產日期要求近30天以內的。二、檢查是否有漏氣的情況。1、首先用肥皂水檢查上涂所注①②③三個部位是否漏氣。①②是減壓表的進氣和出氣口，③是光譜儀的氬氣進氣口。如發現有漏氣現象，請用生料帶密封。2、請檢查火花臺板下的密封墊或圈是否完好無損，固定火化臺的四個螺釘是
波散XRF與能散XRF的區別
一．X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同事測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶
什么是XRF？
XRF：X射線熒光光譜分析（X Ray Fluorescence），通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線
什么是XRF
XRF:X射線熒光光譜分析(X?Ray?Fluorescence)? ??人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray?Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。? ??一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探
XRF的分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強
XRF的優點
分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2-5分鐘就可以測完樣品中的全部元素。非破壞性。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。分析精密度高。制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。測試元素范圍大，WDX可在ppm-100%濃
XRF檢測原理
原理 （XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X?射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種
XRF技術講解
X射線熒光光譜（XRF）技術是一項可用于確定各類材料成分構成的分析技術，已經成熟運用多年。其應用方向包括金屬合金、礦物、石化產品等等。 X射線形成部分電磁波譜。其處于紫外線輻射的高能側，使用千電子伏特表示能量高低，納米表示波長。 XRF一般可用于分析從鈉到鈾的所有元素，其可識別濃度范圍最低至
XRF的原理
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。 X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫
XRF是什么
XRF是什么??XRF測試及XRF原理,本內容深入探討了XRF的相關內容，并做了整體的講解分析。1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線
XRF的分類
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射 線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。 因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型： 波長色
XRF的優點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。
走進斯派克X射線熒光光譜儀，
冶金分析是指冶金生產過程中各物料的化學組成及其含量的分析。它對原料的選擇，在冶煉前的爐料計算，冶煉工藝流程的控制中，產品的檢驗，新產品的試制，以及冶金工廠中環保分析都是必不可少的。 特點是： ①在保證生產質量的前提下，分析速度要快，特別是分析； ②冶金分析物料種類繁多，有固體、粉
斯派克光譜儀光電倍增管簡介
外光電效應所釋放的電子打在物體上能釋放出更多的電子的現象稱為二次電子倍增。光電倍增管就是根據二次電子倍增現象制造的。它由一個光陰極、多個打拿極和一個陽極所組成，見圖，每一個電極保持比前一個電極高得多的電壓（如100V）。當入射光照射到光陰極而釋放出電子時，電子在高真空中被電場加速，打到第一打拿極
WD－XRF與ED－XRF的優缺點
WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
WD－XRF與ED－XRF有什么區別
WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
影響薩斯派克光纖光譜儀性能的原因
影響薩斯派克光纖光譜儀性能的原因? ??薩斯派克光纖光譜儀采用國際上先進的全光譜法，滿足IEC和相關國家標準的要求，測量各種光源及顯示器件的光譜功率分布、色品坐標、色溫、顯色指數、色容差、色偏差、顏色純度和主波長、光通量、輻射功率、光發光效率等參數。? ? 薩斯派克光纖光譜儀標準接口，方便與各種微機
斯派克光譜儀電荷注入器件相關簡介
CID是一種電荷注入器件（Charge-Injected Device），其基本結構與CCD相似，也是一種MOS結構，當柵極上加上電壓時，表面形成少數載流子（電子）的勢阱，入射光子在勢阱鄰近被吸收時，產生的電子被收集在勢阱里，其積分過程與CCD一樣。 CID與CCD的主要區別在于讀出過程，在C