• <table id="4yyaw"><kbd id="4yyaw"></kbd></table>
  • <td id="4yyaw"></td>

  • 開關電源系統待機功耗測試&分析(二)

    7.開關管MOSFET上的損耗mos損耗包括:導通損耗,開關損耗,驅動損耗。其中在待機狀態下最大的損耗就是開關損耗。改善辦法:降低開關頻率、使用變頻芯片甚至跳頻芯片(在空載或很輕負載的情況下芯片進入間歇式振蕩)8.整流管上的吸收損耗輸出整流管上的結電容與整流管的吸收電容在開關狀態下引起的尖峰電流反射到原邊回路上,引起的開關損耗。另外還有吸收電路上的電阻充放電引起的損耗。改善方法:在其他指標允許的前提下盡量降低吸收電容的容值,降低吸收電阻的阻值。當然還有整流管上的開關損耗、導通損耗和反向恢復損耗,這應該在允許的情況下盡量選擇導通壓降低和反向恢復時間短的二極管。9.輸出反饋電路的損耗如上圖采用TL431+光耦的控制方式如產品有專門的待機模式(待機功能)選擇更合適的待機輸出電壓,可以使系統的待機功耗進行最佳化設計!注意:原邊反饋和副邊反饋的芯片在待機功耗上的表現也是有所區別的;原邊反饋的好處是省了光耦和TL431,但可以說的優勢就是降......閱讀全文

    開關電源系統待機功耗測試分析(二)

    7.開關管MOSFET上的損耗mos損耗包括:導通損耗,開關損耗,驅動損耗。其中在待機狀態下最大的損耗就是開關損耗。改善辦法:降低開關頻率、使用變頻芯片甚至跳頻芯片(在空載或很輕負載的情況下芯片進入間歇式振蕩)8.整流管上的吸收損耗輸出整流管上的結電容與整流管的吸收電容在開關狀態下引起的尖峰電流反射

    開關電源系統待機功耗測試分析(二)

    4.整流橋的后面在母線上會有幾個高壓器件,需要特別注意漏電流的大小!300V的母線每10uA就產生3mW的損耗。半導體器件一般來說都還好,比如整流橋、MOSFET,關斷時的漏電基本都在1uA以下。高溫情況下會大一些;但在空載損耗基本也只看常溫條件,沒有負載電路本身也沒熱量產生。電解電容的漏電在有些情

    開關電源系統待機功耗測試分析(三)

    2.實際的數據測試參考(TL431及光耦設計電路標準化)保證可靠性前提!A.RCD吸收電路C=2200PF 電阻R=100K/2W CH1:VDD(IC) CH2:DRV(IC)CH3:CS(IC) ?5根脈沖;間隔時間14.58MsB.RCD吸收電路C=4700PF 電阻R=100K/2W CH1

    開關電源系統待機功耗測試分析(四)

    C.RCD吸收電路C=2200PF 電阻R=100K/2W 12V/10mA CH1:VDD(IC) CH2:DRV(IC)CH3:CS(IC) ?5根脈沖;間隔時間5.568MsD.RCD吸收電路C=4700PF 電阻R=100K/2W 12V/10mA CH1:VDD(IC) CH2:DRV(I

    開關電源系統待機功耗測試分析(一)

    現在的電子產品&設備,我們應用開關電源方式除了效率以外,空載或者待機功耗也變得越來越重要了!這不僅是因為各種各樣的能效標準的執行,也符合實際應用的需求;特別對于一些電子電器甚至大部分的用電設備都需要長時間工作在待機狀態。我們用AC/DC的開關電源系統,不同的產品應用要求不一樣,有500mW、300m

    FLY高低壓輸出待機功耗測試分析(二)

    實際上Burst的方式也有一些細節是值得注意的。每隔100ms連出10個開關和每10ms出一個開關,看起來平均頻率是一樣的,但轉換效率會不會有差別呢?注意是會有一些區別的。請關注下面的測試Data!!注意:FLY電源中,有RCD鉗位電路中的能量每次Burst都是充滿再放完的,這樣的話連續出的開關數多

    FLY高低壓輸出待機功耗測試分析(一)

    現在的電子產品&設備,我們應用開關電源方式除了效率以外,空載或者待機功耗也變得越來越重要了!這不僅是因為各種各樣的能效標準的執行,也符合實際應用的需求;特別對于一些電子電器甚至大部分的用電設備都需要長時間工作在待機狀態。我們用AC/DC的開關電源系統,不同的產品應用要求不一樣,有500mW、300m

    FLY高低壓輸出待機功耗測試分析(四)

    B.RCD吸收電路C=4700PF 電阻R=100K/2W CH1:VDD(IC) CH2:DRV(IC)CH3:CS(IC) ?5根脈沖;間隔時間14.38Ms C.RCD吸收電路C=2200PF 電阻R=100K/2W 12V/10mA CH1:VDD(IC) CH2:DRV(IC)CH3:CS

    FLY高低壓輸出待機功耗測試分析(三)

    10.RCD吸收電路設計分析RCD是比較常用的吸收電路,主要是吸收漏感的能量以限制開關管上的尖峰電壓。相信大家都清楚,RCD如果做的太強的話會對效率有很明顯的影響,那自然也會影響輕載效率和待機功耗。如果考慮到待機狀態下電源都是工作在極低頻率的Burst狀態下的話,實際上C的大小對待機功耗的影響比R要

    開關電源系統LLC應用的測試分析技巧(二)

    如上圖的LLC恒壓電源及如下的LED背光恒流的設計應用1.LLC半橋諧振變換器我們典型的在原邊側(高壓共地)和在次級側(輸出端共地)的應用其測試方析基本相同;確認IC的是否能正常工作(IC后級不工作)!A.電路設計焊接調試或者電源系統出現故障時;我們可以通過測試其驅動的波形進行IC的工作評估;B.測

    開關電源系統LLC應用的測試分析技巧(三)

    通過示波器測試在觸發模式時,單次觸發基線在幾uS/幾十uS上電測試系統帶載工作時啟動波形數據;測試Data如下;檢測LLC系統上電工作狀態:CH2:開關MOS下管-DRV2(驅動) CH3: 開關MOS上管-DRV1(驅動)系統控制檢測電路上電工作時,LLC-驅動會從輕載到滿載的工作變化過程;上電輕

    開關電源系統LLC應用的測試分析技巧(一)

    EMC在電子產品/設備已經成為可靠性的重要組成部分;將越來越被重視!特別對于我們的工業&消費類產品要求滿足其相應的認證和出口要求,對應的國家政策也在不斷完善;同時國際貿易的深化發展;EMC技術成為電子產品/設備必過的硬性指標!隨著電子產品/設備的供電系統都開始大量運用高頻開關電源并且也越來越高端化;

    開關電源系統LLC應用的測試分析技巧(四)

    產品的硬件電路測試!&調試技巧!注意用好示波器的觸發方法,可以幫助我們解決復雜的問題系統帶載上電需要考慮的幾個問題:A.電源系統:需要考慮上電的沖擊電壓&上電的沖擊電流B.IC的檢測:需要考慮上電的時序&上電的速度(檢測電路的瞬態響應判斷機制)任何的設計要從實際的需求出發;阿杜老師的理論是:產品可靠

    低功耗時代如何正確測量無線通訊功耗?(二)

    這個問題往往是由MCU的配置引起的,一般的MCU單個IO口功耗就能達到mA級別。換句話說,如果不小心漏掉或者錯配一個IO口的狀態,很有可能就將破壞前期的低功耗設計。下面以某產品為例進行一個小實驗,看看這個問題影響有多大。圖4 產品A的低功耗IO配置測試結果圖5 產品A的IO配置不當測試結果在圖4和圖

    低功耗時代如何正確測量無線通訊功耗?(二)

    3常見功耗問題與原因為了保證產品的低功耗,除了增加包間隔時間,還有就是降低產品本身的電流消耗,也就是上面提及到的I_work和 I_sleep。正常情況下,這兩個數值應該跟芯片數據手冊一致,但如果用戶使用不當,有可能出現問題。我們在測試模塊的發射電流時,發現是否安裝天線對測試結果有很大影響。

    功率分析儀LMG671功耗測試儀

      這篇內容是對一些“眾所周知”的功率測量參數的簡單描述,這些測量參數是經常用到的,但是事實上很少的人能記住,他們來自哪里,什么是他們的確切定義。   功率測量和理論背景   功率分析儀LMG671功耗測試儀   直流DC 數值   ■ 單純的信號   一個信號最簡*的情況是一個信號,它在

    功率分析儀LMG671功耗測試儀

      這篇內容是對一些“眾所周知”的功率測量參數的簡單描述,這些測量參數是經常用到的,但是事實上很少的人能記住,他們來自哪里,什么是他們的確切定義。   功率測量和理論背景   功率分析儀LMG671功耗測試儀   直流DC 數值   ■ 單純的信號   一個信號最簡*的情況是一個信號,它在

    開關電源的主要測試點

      調試開關電源時,除了用電壓表測量控制電路中相關元器件引腳的電壓外,更重要的是用示波器觀測相關的電壓波形,以便判斷開關電源是否處于最佳工作狀態。本篇文章主要講解示波器測試點的選擇。例如,測試點為PWM控制芯片的輸出引腳時,可用示波器同時測量驅動脈沖的幅度和占空比這兩個重要參數。  測試點的

    開關電源芯片內部電路解析(二)

    最后詳細的電路設計圖,如圖5。?圖5?這里有個技術難點是在電流模式下的斜坡補償,針對的是占空比大于50%時為了穩定斜坡,額外增加了補償斜坡,我也是粗淺了解,有興趣同學可詳細學習。??誤差放大器??誤差放大器的作用是為了保證輸出恒流或者恒壓,對反饋電壓進行采樣處理。從而來調節驅動MOS管的PWM,如圖

    開關電源系統電源提高效率設計技巧及方法(二)

    6.開關電源系統中看來變壓器電感的設計在功率達到一定的量時其損耗變得相對重要!變壓器設計的具體參數變化的效率對比變壓器KP(△I/IP)的設計大小對效率的影響:變壓器磁芯大小對效率的影響。磁芯越大(Ae值越大)效率越高設計變壓器KP值越小,電源效率越高。如下對比參考:將我做的小功率電源90V-265

    淺析嵌入式系統低功耗設計

    在嵌入式系統中,低功耗設計是在產品規劃以及設計過程中必須要面對的問題。半導體芯片每18個月性能翻倍。但同時,電池的技術卻跟不上半導體的步伐,同體積的電池10年容量才能翻一倍。嵌入式系統對于使用時間以及待機時間的要求也越來越高,這就需要在設計產品的時候充分考慮到整個系統的低功耗設計。功耗控制是一個系統

    如何解決RTC精度、功耗問題?(二)

    4、電路相關說明如圖1所示,R56、R57為I2C總線上拉電阻,PCF8563中斷輸出及時鐘輸出均為開漏輸出,所以也需要外接上拉電阻,如圖1中的的R58、R59,若不使用這兩個信號,對應的上拉電阻可以不用。對于PCF8563芯片,需外接時鐘晶振32.768kHz(如圖1的X1),推薦使用±20ppm

    硬件高手的開關電源設計心得(二)

    今天談一談印制板銅皮走線的一些事項:走線電流密度:現在多數電子線路采用絕緣板縛銅構成。常用線路板銅皮厚度為35μm,走線可按照1A/mm經驗值取電流密度值,具體計算可參見教科書。為 保證走線機械強度原則線寬應大于或等于0.3mm(其他非電源線路板可能最小線寬會小一些)。銅皮厚度為70μm

    原位光電分析測試系統

    ?? 原位光電分析測試系統以掃描電子顯微鏡為基礎,集成陰極熒光譜、微納機械臂、外部電學測量等功能,構建了一個直觀、實時和原位地研究先進功能材料和器件物理性能的系統,不僅可以實現對納米材料或器件的原位發光的檢測和電學物性的測試、納米尺度的操作和控制、以及特定納米光電子器件的構筑,還可以實現實時原位研究

    氨氣分析儀的待機時間超長

      氨氣分析儀的設計可原位運行,無需要維護的取樣系統,可減少總擁有成本。氨氣分析儀是用于檢測環境中氨氣濃度的電子儀器,可隨身攜帶。當檢測到環境中氨氣的濃度達到或超過預置報警值時,氨氣檢測儀會發出聲光及震動報警信號。氨氣分析儀廣泛應用于各類型冷庫機房、有氨氣存在的實驗室、氨氣存放倉庫等應用到氨氣的工業

    開關電源電路組成及各部分詳解(二)

    3、工作原理:R4、C3、R5、R6、C4、D1、D2組成緩沖器,和開關MOS管并接,使開關管電壓應力減少,EMI減少,不發生二次擊穿。在開關管Q1關斷時,變壓器的原邊線圈易產生尖峰電壓和尖峰電流,這些元件組合一起,能很好地吸收尖峰電壓和電流。從R3測得的電流峰值信號參與當前工作周波的占空比控制,因

    超低功耗MCU的選型技巧與設計思路(二)

      二:超低功耗mcu-如何降低mcu的功耗  低功耗是mcu的一項非常重要的指標,比如某些可穿戴的設備,其攜帶的電量有限,如果整個電路消耗的電量特別大的話,就會經常出現電量不足的情況,影響用戶體驗。  平時我們在做產品的時候,基本的功能實現很簡單,但只要涉及低功耗的問題就比較棘手了,比如某

    超長待機雨量記錄儀

      產品概述:   本產品的持續工作時長可達5年,其間無需更換電池。   本產品是一款能夠自動觀測并存儲“雨量”參數的儀器,由雨量傳感器、數據采集記錄儀、內置電池等組成,具有功耗低、靈敏度高、安裝便利、操作簡單、使用方便等特點,可長期在野外觀測并記錄雨量數據,不定期地用(筆記本)電腦讀取記錄儀內

    單層二硫化鉬低功耗柔性集成電路研究

      柔性電子是新興技術,在信息、能源、生物醫療等領域具有廣闊的應用前景。其中,柔性集成電路可用于便攜式、可穿戴、可植入式的電子產品中,對器件的低功耗提出了極高的技術需求。相對于傳統半導體材料,單層二硫化鉬二維半導體具有原子級厚度、合適的帶隙且兼具剛性(面內)和柔性(面外),是備受矚目的柔性集成電路溝

    如何選購凝膠成像分析系統(二)

    (1)、分辨率分辨率的大小和像素值是分不開的,像素指得是CCD能分別的最小的感光元件,我們平時說的多少萬像素就是這些感光元件的個數了。所以一般來講像素越多,成像也就越清晰細膩,當然這其中還要受許多因素限制,下面會慢慢提到的。但是高像素也不一定是好的CCD,其原因就是像素大小(Pixel Si

  • <table id="4yyaw"><kbd id="4yyaw"></kbd></table>
  • <td id="4yyaw"></td>
  • 调性视频