實驗室光譜儀器短炬管ICP原子／離子熒光光譜
使用短炬管的 ICP 原子化器、離子化器進行原子/離子熒光信號觀測時，觀測區域一般也是在等離子體的尾焰部分，使用的入射功率也要比 ICP-AES 分析時的等離子體功率低，一般為800W 左右。對 HCMP-HCL 激發的短炬管 ICP-AFS/IFS 的研究表明，由于熒光信號觀測區域的等離子體溫度較高，大部分元素在觀測區域中的電離程度也較高，容易觀測到離子熒光信號而較難觀測到原子熒光信號。下表列出易電離元素 Ca、Sr、Ba、Sc 和 Y 在短炬管 ICP 中觀測到的熒光光譜實驗結果。這些元素在短炬管 ICP 中主要以離子存在，觀測到的均為離子熒光信號，難以觀測到原子熒光信號。短炬管 ICP 中，難熔元素 Ba的離子熒光光譜的檢出限比 CP- HCL 激發的加長炬管 ICP-AFS 的檢出限改善50倍以上，而Sc、Y的檢出限改善3?47倍，Ca、Sr 離子熒光和原子熒光的檢出限基本一致。短炬管 ICP 中離子熒光光譜檢出限（3a......閱讀全文
實驗室光譜儀器短炬管－ICP－原子/離子熒光光譜
使用短炬管的 ICP 原子化器、離子化器進行原子/離子熒光信號觀測時，觀測區域一般也是在等離子體的尾焰部分，使用的入射功率也要比 ICP-AES 分析時的等離子體功率低，一般為800W 左右。對 HCMP-HCL 激發的短炬管 ICP-AFS/IFS 的研究表明，由于熒光信號觀測區域的等離子體溫度較
實驗室光譜儀器短加長炬管－ICP－原子/離子熒光光譜
加長炬管ICP原子/離子熒光光譜利用 Plasa/AFS 2000系統中加長炬管 ICP 為原子化器/離子化器進行等離子體原子/離子熒光光譜研究，原因之一是充分利用已有的硬件設備，尤其是系統本身的等離子體光源以及元素組件，二 是建立的等離子體原子/離子熒光光譜檢測系統可直接與 Plasa/ AFS
實驗室光譜儀器MPT－原子/離子熒光光譜
無論使用 HCL 或 Xe 弧燈、Ar 或 He， MIP 都可以用作原子熒光光譜的原子化器，開展對堿金屬、堿土金屬以及過渡金屬元素的原子熒光光譜研究；普通 HCL 與 Xe 弧 燈作激發源的 Ar MIP-AFS 對所研究元素的原子熒光光譜的檢出限基本相當，都表現為堿金屬、堿土金屬元素的檢出限比其
實驗室光譜儀器電感耦合等離子體原子/離子熒光光譜
1、 空心陰極燈的強短脈沖供電電源與 DC-HCL 或 CP-HCL 供電電源相比，HCMP-HCL 供電電源需要進行特殊設計，電源要提供微秒寬度的脈沖，峰值工作電流 一般為幾安培，最大可到十幾安培。下圖所示為強短脈沖電源示意圖。強短脈沖供電時，HCL 工作在大電流狀態，電流一般為幾安培，對個別元素
實驗室光譜儀器電感耦合等離子體原子/離子熒光光譜
對 ICP-AFS/IFS 研究工作的主要方向是追求被測元素，尤其是難熔金屬元素的檢出限，使該技術能滿足痕量、超痕 量金屬元素分析的要求。由于 ICP 優異的高溫性能，增加 ICP 的入射功率，可增大待測元素原子的電離度，增加待測元素粒子數密度，因此，ICP-IFS 是解決難熔元素原子熒光光譜測定靈
icp炬管介紹
等離子炬管分為輸入載氣ar的內層管、輸入輔助氣ar的中層管和輸入等離子氣ar的外層管。用ar做工作氣體的優點：ar為單原子惰性氣體，不與試樣組份形成難離解的穩定化合物，也不象分子那樣因離解而消耗能量，有良好的激發性能，本身光譜簡單。外層管：外層管通ar氣作為冷卻氣，沿切線方向引入，并螺旋上升，其作用
ICP炬管箱
炬管和霧化室可以通過計算機x、y、z三維調控，調節精確度可達0.1mm；使用接頭夾固定炬管和連接管，方便器件的維護、更換；通過化學工作站軟件可以控制、移動整個炬管箱至后方，方便用戶直接維護錐和提取透鏡。
實驗室光譜儀器等離子體原子/離子熒光光譜分析應用
痕量、超痕量金屬元素的檢測是實驗室日常工作中經常遇到的問題。金屬元素最常用的測定方法主要有 ICP-AES、石墨爐原子吸收光譜（GFAAS）、火焰原子吸收光譜（FAAS）和原子熒光光譜分析技術。ICP-MS 是最近一些年快速發展起來的一種痕量、超痕量元素分析技術，其優異的分析性能，如靈敏度高、動態線
實驗室光譜儀器MIP－原子熒光光譜
Perkins 等采用 TM010?腔獲得的低功率 MIP 為原子化 器，通過使用普通 HCL 或 Xe 弧燈為激發光源、Ar 或 He 為 工作氣體研究了多種元素的原子熒光光譜，證明 MIP 也可用作原子熒光光譜的原子化器。在 Perkins 等此建立的研究系統中，樣品經氣動霧化后不 經去溶直接進
ICP原子發射光譜儀器結構
電感耦合等離子體原子發射光譜儀由樣品引入系統、電感耦合等離子體（ICP）光源、色散系統、檢測系統等構成，并配有計算機控制及數據處理系統，冷卻系統、氣體控制系統等。
實驗室光譜儀器色散型原子熒光光譜儀
色散型原子熒光光譜儀的光學系統由激發光源、原子化器、單色器及接收放大器組成。色散系統對分辨能力要求不高，但要求有較大的集光本領，常用的色散元件是光柵。為了提高原子熒光輻射強度，通常在激發光源的入射光路采取一系列措施，如采用全反射裝置、雙橢圓反射鏡和卡塞格倫反射鏡系統等。由于原子熒光輻射強度比較弱、譜
實驗室光譜儀器原子熒光光譜儀的原子化器概述
原子化器是原子熒光光譜儀中一個直接影響元素分析的靈敏度 和檢出限的關鍵部件，其主要作用是將被測元素（化合物）原子化形成基態原子蒸氣。一個理想的用于原子熒光光譜儀的原子化器應具有下列特點：①原子化效率高，被測原子的密度大；②在光路中原子有較長的停留時間；③在測量波長處具有較低的背景輻射；④均勻性和穩定
實驗室分析儀器電感耦合等離子體發射光譜儀通用炬管
ICP光源由高頻電源和ICP炬管構成，而炬管的結構和特性對分析性能有更大的影響，是ICP光譜裝置的核心構件。?材料物理學家為拉制氧化鋯單晶體需要，首先設計了由三個同心石英管組成的等離子體炬管。光譜學家 Greenfield和 Fassel參照Reed的炬管分別設計了兩種用作光譜分析的炬管，通常被稱為
Optima8300DV－型ICP光譜儀常見問題分析及處理
摘 要: 電感耦合等離子體原子發射光譜儀廣泛應用于航空金屬材料的檢測中，本文介紹了Optima8300DV型 全譜直讀光譜儀上的結構和特點，日常檢測工作中出現的一些故障判斷和快速解決方法，討論了光譜儀的 輔助設備水冷循環機和空壓機對光譜儀正常工作的影響，對儀器的日常保養提出一些建議。 關鍵詞：電
原子熒光光譜分析儀等離子體原子化器之ICP原子化器
曾作為原子熒光原子化器的等離子體有電感耦合等離子體 （inductively coupled plasma， ICP）、微波誘導等離子體（micro-wave induced plasma， MIP）和微波等離子體炬（microwave plas-ma touch， MPT）。下面簡要地介紹一下這三
分析電感耦合等離子體光譜儀的工作原理
電感耦合等離子體光譜儀可用于地質、冶金、稀土及磁材料、環境、醫藥衛生、生物、海洋、石油、化工新型材料、核工業、農業、食品商檢、水質等各領域及學科的樣品分析。可以快速、準確地檢測從微量到常量約70種元素。?ICP原理：高頻振蕩器產生高頻電流，經耦合系統連接在位于等離子體發生管上端，銅制內部用水冷卻的管
實驗室光譜儀器無色散原子熒光光譜儀介紹
原子熒光光譜法在原則上與原子吸收光譜法和原子發射光譜法相同，可進行幾十種元素的定量分析，且與原子發射光譜儀器一樣，可以進行多元素同時測量，如上述的 Baird 公司的 AFS-2000 型原子熒光。但是迄今為止，原子熒光光譜法只成功地應用于測量那些易形成氫化物或冷蒸氣的元素，如 As、Sb、Bi、H
實驗室光譜儀器非色散型原子熒光光譜儀
非色散型的光學系統由激發光源、原子化器、濾光片（也可不加濾光片）及日盲光電倍增管組成。對于無色散原子熒光而言，其光學系統不需要單色器、只需要些焦透、光學濾光片，或者連光學濾光片都不要，而直接用日面光電信管進行原子光檢測，因此其光學系統相對簡單。非色散型儀器的濾光器用來分離分析線和鄰近譜線，降低背景。
原子吸收光譜和ICP光譜比較
淺談原子吸收光譜和ICP光譜 原子吸收光譜法和原子發射光譜法都屬于原子光譜分析技術。不同之處在于原子發射光譜分析技術是通過測量被測元素的發射譜線的波長與強度進行定性與定量分析的一種原子光譜技術；而原子吸收光譜則是依據被測元素對銳線光源的吸收程度進行定量分析的一種原子光譜技術
原子吸收光譜和ICP光譜比較
原子吸收光譜法和原子發射光譜法都屬于原子光譜分析技術。不同之處在于原子發射光譜分析技術是通過測量被測元素的發射譜線的波長與強度進行定性與定量分析的一種原子光譜技術；而原子吸收光譜則是依據被測元素對銳線光源的吸收程度進行定量分析的一種原子光譜技術。下面對兩種技術簡單進行分別介紹。?第一部分??原子吸收
淺談原子吸收光譜和ICP光譜
原子吸收光譜法和原子發射光譜法都屬于原子光譜分析技術。不同之處在于原子發射光譜分析技術是通過測量被測元素的發射譜線的波長與強度進行定性與定量分析的一種原子光譜技術；而原子吸收光譜則是依據被測元素對銳線光源的吸收程度進行定量分析的一種原子光譜技術。下面對兩種技術簡單進行分別介紹。?第一部分??原子吸收
淺談原子吸收光譜和ICP光譜
原子吸收光譜法和原子發射光譜法都屬于原子光譜分析技術。不同之處在于原子發射光譜分析技術是通過測量被測元素的發射譜線的波長與強度進行定性與定量分析的一種原子光譜技術；而原子吸收光譜則是依據被測元素對銳線光源的吸收程度進行定量分析的一種原子光譜技術。下面對兩種技術簡單進行分別介紹。?第一部分? 原子吸收
原子吸收光譜和ICP光譜比較
淺談原子吸收光譜和ICP光譜 原子吸收光譜法和原子發射光譜法都屬于原子光譜分析技術。不同之處在于原子發射光譜分析技術是通過測量被測元素的發射譜線的波長與強度進行定性與定量分析的一種原子光譜技術；而原子吸收光譜則是依據被測元素對銳線光源的吸收程度進行定量分析的一種原子光譜技術。下面對兩種技術簡單
實驗室分析儀器ICP炬管的結構及要求
ICP炬管是ICP火焰形成的重要部分。它是由三層同心石英管套接而成。三層石英管內通入工作氣體，商品化的ICP光譜儀均通入氬氣（當然實驗裝置有通入空氣、N2、Ar-N2混合氣、He等），外管由切線方向通入氬氣，稱為等離子氣，形成等離子體能源（也稱冷卻氣，它有冷卻炬管的作用）。中間管通入氬氣稱為輔助氣（
實驗室分析儀器常用的ICP炬管類型介紹
ICP發射光譜技術的開創者 Greenfild和?Fassel在炬管的設計和加工方面，為這門技術立下汗馬功勞。至今，商品化ICP光譜儀多數仍然采用 Fassel型炬管作為常規炬管。常用的ICP炬管如下：（1）Fassel型炬管?形狀與尺寸見圖1。其外管外徑20mm、壁厚1mm；中間管外徑16mm、壁
電感耦合等離子體質譜分析常見的干擾和消除手段
關鍵詞：電感耦合等離子體發射光譜法；等離子體發射光光譜儀；應用及領域；化學分析；線性范圍； ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?1 概述電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP
電感耦合等離子體質譜常見的干擾和消除手段
關鍵詞：電感耦合等離子體發射光譜法；等離子體發射光光譜儀；應用及領域；化學分析；線性范圍； ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?1 概述電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP
淺談常用金屬的定量檢測方法
一、原子吸收光譜法 原子吸收光譜法是20世紀50年代創立的一種新型儀器分析方法，它與主要用于無機元素定性分析的原子發射光譜法相輔相成，已成為對無機化合物進行元素定量分析的主要手段。 原子吸收分析過程如下： 1、將樣品制成溶液(空白); 2、制備一系列已知濃度的分析元素的校正溶液(標樣);
ICP炬管對溫度的要求
如果溫度超出石英的熔點，ICP炬管毫無疑問會熔化。ICP炬管熔化普遍的原因是氬氣流量錯誤。等離子體不與石英接觸是至關重要的。而氬氣的流動將等離子體固定在正確位置使其不與ICP炬管接觸。如果氬氣流量設置不正確，或是流量中斷，又或是氬氣管路內出現裂縫，可能會立即引起ICP炬管熔化。深圳市華得隆推薦使用G
常見重金屬檢測方法
通常認可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高。也有的采