質譜分析法術語電離度
電離度（degree of ionization）泛指液體、氣體或氣溶膠在高溫或高頻電場作用下，生成的離子濃度M+與該體系中仍然存有的自由原子濃度M和生成離子濃度M+之和的比[M+（M＋M+)]。電離度遵從Saha方程，即原子的電離度與原子蒸氣的分壓強、元素原子的電離電位和體系的溫度密切相關。......閱讀全文
質譜分析法術語電離度
電離度（degree of ionization）泛指液體、氣體或氣溶膠在高溫或高頻電場作用下，生成的離子濃度M+與該體系中仍然存有的自由原子濃度M和生成離子濃度M+之和的比[M+（M＋M+)]。電離度遵從Saha方程，即原子的電離度與原子蒸氣的分壓強、元素原子的電離電位和體系的溫度密切相關。
質譜分析法術語表面電離
表面電離（surface ionization，SI）原子或分子與熾熱的固體表面相互作用實現離子化。樣品涂覆在金屬表面，當加熱金屬表面時樣品受熱蒸發，蒸發出的原子（或分子）大部分飛離金屬表面，一部分與熱金屬表面直接作用形成離子的過程即表面電離。樣品受熱激發釋放電子形成正離子稱其為正熱電離；樣品吸收電
質譜分析法術語放電電離
放電電離（discharge ionization）一種利用放電現象（如電弧、輝光、火花、電暈等）進行離子化的方法。
質譜分析法術語電離效率
電離效率（ionization efficiency）電離效率泛指在特定環境下，經電離生成的原子離子數與進入電離區預測量樣品原子總數之比，電離效率的高低取決于所采用的電離方法、電離機制和電離時的相關參數。
質譜分析法術語電離效率曲線
電離效率曲線（ionization efficiency curve）特定離子的離子流強度隨提供的能量大小變化的曲線。
質譜分析法術語光致電離
光致電離（photo ionization，PI）亦稱光誘導電離（photo-induced- ionization），用光照射樣品分子，使樣品分子吸收能量而實現離子化的方法。在各種光源中，激光具有高能、單色、易于調制、可聚焦成激光微束等特點。當使用激光為離子化光源時，稱為激光電離（laser io
質譜分析法術語場致電離
場致電離（field ionization，FI）將金屬絲或金屬針加上高電壓，形成107～108V/cm的高場強，氣態的樣品分子在強電場作用下失去電子生成分子離子，分子離子的能量為12～13eV，適用于可以氣化的有機化合物的離子化，是一種溫和的“軟”電離方式。
質譜分析法術語負離子電離
負離子電離（negative ion ionization，NII）對于具有電子親和力比較大的元素捕獲一個電子可生成負離子，這種離子化的方法稱為負離子電離法。
質譜分析法術語電離能
電離能（ionization energyionization potential）亦稱電離電位（ionization potential）。當原子獲得足夠大的能量，其一個或某些外層電子脫離該原子核的作用力范圍，成為自由電子，這時原子由于失去電子成為離子，這種現象稱為電離。為使原子發生電離所需的能量
質譜分析法術語表面電離質譜法
表面電離質譜法（surface ionization mass spectrometry）熱電離質譜法的一種，將預測量樣品涂覆在高熔點、高功函數的金屬帶表面或金屬絲表面，借助通過帶或絲的電流產生的高溫而電離，電離生成的離子進入質量分析器進行分離和測量。
質譜分析法術語光共振電離質譜法
激光共振電離質譜法（? laser resonance ionization mass spectrometry， LRIMS）是利用激光共振電離質儀進行質譜分析的方法。原則上 LRIMS可實現單原子探測，具有極高的元素、核素選擇性和探測靈敏度，是復雜基質下超痕量中長壽命核素定量分析的有效方法，在材
質譜分析法術語激光電離質譜法
激光電離質譜法（ laser ionization mass spectrornetry， L IMS）是利用激光電離質譜儀進行質譜分析的一種方法，具有微區分析功能，可進行逐層剖析，剖析深度可達1um至幾十微米，分析雙敏度高，相對檢測極限5μg/g，在高純材料、生物、醫學等領域獲得成功應用。
質譜分析法術語快粒子轟擊電離
快粒子轟擊電離（ fast particle bombardment，FPB）利用具有數千電子伏，或數萬電子伏動能的原子、分子或離子對樣品進行轟擊，以實現樣品離子化的方法統稱快粒子轟擊電離。
質譜分析法術語快原子轟擊電離
快原子轟擊電離（ fast atom bombardment，FAB）質譜常用的一種軟電離方法。在離子槍中，用電子轟擊的方法使高壓中性氣體（氬或氙）電離，形成的氬（或缸）離子被電子透鏡聚焦，經過一個中和器，中和掉氬或氙離子束所攜帶的電荷，成為定向高速運動的中性原子束，高速中性原子（Ar、Xe等）對溶
質譜分析法術語不確定度
不確定度（uncertainty）是表征合理地賦予被測量之值的分散性，與測量結果相關的參數。
質譜分析法術語靈敏度
靈敏度（sensibility）質譜儀的靈敏度通常用原子離子的轉換效率來定義，即用接收器接收到的離子數去除以進入離子源電離區域的樣品原子總數之比的百分數；質譜儀的絕對靈敏度通常用接收器檢測到的離子最小量度量；定量測量方法的靈敏度記為方法流程空白值標準偏差的3倍。取決于離子源的電離效率，離子在離子源、
質譜分析法術語同位素豐度
同位素豐度（isotope abundance）某元素的任一同位素占有該元素總核素的百分比，它是用檢測器檢測的該元素任一同位素離子束強度除以同一檢測器檢測到的該元素所有同位素離子束強度集合的百分數度量。
質譜分析法術語峰匹配測量法
峰匹配測量法（peak matching measurement）一種測定離子精確質量的方法。精度可達（110）×10-6根據扇形磁質譜儀的基本公式:m/z＝KB21V，當B2不變時，質量分別為m1和m2的兩個離子有如下關系:m1:m2＝V1:V2。在離子接收狹縫前裝上一對偏轉電極，并在電極上加一個
質譜分析法術語同位素稀釋法
同位素稀釋法（isotope dilution method）采用同位素稀釋進行定量分析的方法。如在含有自然豐度的某元素未知濃度溶液中，加入該元素已知豐度的定量濃縮同位素或貧化同位素溶液，等待兩種溶液均勻混合，通過待測樣品、混合溶液的同位素豐度質譜法測量，根據待測、濃縮和混合溶液中的同位素豐度和所加
質譜分析法術語質譜
質譜（mass spectra mass spectrum）按照被測體質量大小排序的譜線。
質譜分析法術語同位素豐度比
同位素豐度比（isotope abundance ratio）指某元素的任一同位素豐度與元素中的其他同位素豐度的比值。
質譜分析法術語同位素示蹤法
同位素示蹤法（isotope tracer method）用同位素作為示蹤劑來觀察和研究生命體，或物體中某一物質行為的方法。
質譜分析法術語質譜圖
質譜圖（mass spectrogram）質譜測定結果經計算機處理統計后，以棒狀圖（或數據列表形式）表示的譜圖。它是二維圖譜，橫坐標表示離子的質荷比（m/z），對于單電荷的離子，電荷數z＝1，橫坐標表示的數值即為離子的質量；縱坐標表示離子流的強度，通常用相對強度來表示，即把被記錄的各個質量數的離子峰
質譜分析法術語質荷比
質荷比（mass charge ratio，m/z）離子質量（以相對原子質量為單位）與它所帶電荷（以電子電量為單位）的比值。
質譜分析法術語測量
測量（measurement or determination）定義為以確定量值為目的的一組操作。
質譜分析法術語元素
元素（element）不能用化學分解方法再分成更簡單組分的基本物質，也可以把元素理解為組成分子的基本單元。
質譜分析法術語稀釋
稀釋（dilution）在較高濃度的溶液中，加入溶劑或試劑使溶液的濃度變小，稱為稀釋。所加的溶劑或試劑稱為稀釋劑（spike）
質譜分析法術語核素
核素（nuclide）泛指原子序數、原子質量和能態不同的原子形式，也可以定義為具有特定核特征的某種原子。核素分為穩定核素和放射核素，在已經發現的2000多種核素中，絕大多數是人造核素，天然核素僅有340種，其中穩定核素285種，其余為放射核素。
質譜分析法術語誤差
誤差（error）測量結果減去被測量的“真值”之差。由于真值不能確定，實際上用的是約定真值。誤差是一個單個數值，原則上已知誤差可以用來修正測量結果；通常認為誤差含有兩個分量，即隨機分量和系統分量，分別稱為隨機誤差和系統誤差。
質譜分析法術語基體
基體（matrix）亦稱基質。試樣中除被測成分之外的其他組分集合的稱謂，基體對被測成分的行為有時有重要影響。