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  • 質譜分析法術語快原子轟擊電離

    快原子轟擊電離( fast atom bombardment,FAB)質譜常用的一種軟電離方法。在離子槍中,用電子轟擊的方法使高壓中性氣體(氬或氙)電離,形成的氬(或缸)離子被電子透鏡聚焦,經過一個中和器,中和掉氬或氙離子束所攜帶的電荷,成為定向高速運動的中性原子束,高速中性原子(Ar、Xe等)對溶解在基質中的樣品進行轟擊,在產生“爆發性”汽化的同時,發生離子-分子反應,從而引發質子轉移,最終實現樣品離子化。一般可生成[M+H]+、[M-H]-、[M]+及[M+Na]+等分子離子以及少數碎片離子。......閱讀全文

    質譜分析法術語快原子轟擊電離

    快原子轟擊電離( fast atom bombardment,FAB)質譜常用的一種軟電離方法。在離子槍中,用電子轟擊的方法使高壓中性氣體(氬或氙)電離,形成的氬(或缸)離子被電子透鏡聚焦,經過一個中和器,中和掉氬或氙離子束所攜帶的電荷,成為定向高速運動的中性原子束,高速中性原子(Ar、Xe等)對溶

    質譜分析法術語快粒子轟擊電離

    快粒子轟擊電離( fast particle bombardment,FPB)利用具有數千電子伏,或數萬電子伏動能的原子、分子或離子對樣品進行轟擊,以實現樣品離子化的方法統稱快粒子轟擊電離。

    快原子轟擊電離質譜儀種類

    快原子轟擊電離質譜儀種類有多種。1、按分析目的可分:快原子轟擊電離實驗室質譜儀和快原子轟擊電離工業質譜儀。2、按質量分析器的時空屬性可分:快原子轟擊電離時間型質譜儀和快原子轟擊電離空間型質譜儀。3、按結構可分:臺式快原子轟擊電離質譜儀和落地式快原子轟擊電離質譜儀。4、按聯用方式可分:快原子轟擊電離液

    質譜分析技術快原子轟擊的原理

      一束高能粒子,如氬、氙原子,射向存在于液態基質中的樣品分子而得到樣品離子,這樣可以得到提供分子量信息的準分子離子峰和提供化合物結構信息的碎片峰。快原子轟擊操作方便、靈敏度高、能在較長時間里獲得穩定離子流。當用于絕大多數生物體中寡糖及其衍生物的分析時,可測分子量達6000。而且在該質量范圍內,其靈

    快原子轟擊電離質譜儀分類方法

    快原子轟擊電離質譜儀種類有多種。1、按分析目的可分:快原子轟擊電離實驗室質譜儀和快原子轟擊電離工業質譜儀。2、按質量分析器的時空屬性可分:快原子轟擊電離時間型質譜儀和快原子轟擊電離空間型質譜儀。3、按結構可分:臺式快原子轟擊電離質譜儀和落地式快原子轟擊電離質譜儀。4、按聯用方式可分:快原子轟擊電離液

    連續流快原子轟擊質譜

      cf-FAB 是一種弱離子化技術,可將肽類或小分子量蛋白離子化成MH+或(M-H)形式。主要應用于肽類的分離檢測,其具有中等分辨率,精確度大于+0.2amu,流速一般在0.5-1.5μl·Ml-1。在測定使流動相需加0.5%-10%基質如甘油和高有機溶劑成分,使樣品在檢測探針處達到敏感化。  c

    快原子轟擊過程

    由氫離子槍放電產生氫離子,高能量的氫離子 }'}過I3.3322Pa(10托)左右的充氫的電荷交換室,經共振電 荷交換后得到高能量的氛}H子流,氫原子流打在溶有樣品的豁 滯基體(一般為甘油)卜。使被分析樣品的離子從墓體J--濺射出 來,這種電離過程稱為快原子轟擊。

    質譜分析法術語放電電離

    放電電離(discharge ionization)一種利用放電現象(如電弧、輝光、火花、電暈等)進行離子化的方法。

    質譜分析法術語電離效率

    電離效率(ionization efficiency)電離效率泛指在特定環境下,經電離生成的原子離子數與進入電離區預測量樣品原子總數之比,電離效率的高低取決于所采用的電離方法、電離機制和電離時的相關參數。

    質譜分析法術語表面電離

    表面電離(surface ionization,SI)原子或分子與熾熱的固體表面相互作用實現離子化。樣品涂覆在金屬表面,當加熱金屬表面時樣品受熱蒸發,蒸發出的原子(或分子)大部分飛離金屬表面,一部分與熱金屬表面直接作用形成離子的過程即表面電離。樣品受熱激發釋放電子形成正離子稱其為正熱電離;樣品吸收電

    質譜分析法術語電離度

    電離度(degree of ionization)泛指液體、氣體或氣溶膠在高溫或高頻電場作用下,生成的離子濃度M+與該體系中仍然存有的自由原子濃度M和生成離子濃度M+之和的比[M+(M+M+)]。電離度遵從Saha方程,即原子的電離度與原子蒸氣的分壓強、元素原子的電離電位和體系的溫度密切相關。

    質譜分析法術語電離效率曲線

    電離效率曲線(ionization efficiency curve)特定離子的離子流強度隨提供的能量大小變化的曲線。

    質譜分析法術語電離能

    電離能(ionization energyionization potential)亦稱電離電位(ionization potential)。當原子獲得足夠大的能量,其一個或某些外層電子脫離該原子核的作用力范圍,成為自由電子,這時原子由于失去電子成為離子,這種現象稱為電離。為使原子發生電離所需的能量

    質譜分析法術語表面電離質譜法

    表面電離質譜法(surface ionization mass spectrometry)熱電離質譜法的一種,將預測量樣品涂覆在高熔點、高功函數的金屬帶表面或金屬絲表面,借助通過帶或絲的電流產生的高溫而電離,電離生成的離子進入質量分析器進行分離和測量。

    質譜分析法術語場致電離

    場致電離(field ionization,FI)將金屬絲或金屬針加上高電壓,形成107~108V/cm的高場強,氣態的樣品分子在強電場作用下失去電子生成分子離子,分子離子的能量為12~13eV,適用于可以氣化的有機化合物的離子化,是一種溫和的“軟”電離方式。

    質譜分析法術語負離子電離

    負離子電離(negative ion ionization,NII)對于具有電子親和力比較大的元素捕獲一個電子可生成負離子,這種離子化的方法稱為負離子電離法。

    質譜分析法術語光致電離

    光致電離(photo ionization,PI)亦稱光誘導電離(photo-induced- ionization),用光照射樣品分子,使樣品分子吸收能量而實現離子化的方法。在各種光源中,激光具有高能、單色、易于調制、可聚焦成激光微束等特點。當使用激光為離子化光源時,稱為激光電離(laser io

    什么是快原子轟擊?

    快原子轟擊fa}}t atom fxnnbfuc3mcnt;} Af3是質譜儀的一 種軟電離技術。

    液質聯用的連續流動快原子轟擊

      1985 和1986 年,快原子轟擊(FAB)和連續流動快原子轟擊(CFFAB)接口技術相繼問世,并隨后投入了商業化生產。快原子轟擊是用加速的中性原子(快原子)撞擊以 甘油調和后涂在金屬表面的有機物(“靶面”),導致這些 有機化合物的 電離。分析物經中性原子的撞擊獲取足夠的動能以離子或中性分子的

    實驗室分析儀器質譜分析詞匯-快原子轟擊(FAB)

    是較早的所謂的軟電離技術之一,轟擊的結果通常有密集的分子離子,并且幾乎不發生碎裂。被測物放入流動的基質中(通常是甘油),或更常見置于探針的頂端,然后將其置于高能原子的路徑上-通常是氙或化銫。該技術對分子量大于10000原子單位的生物分子有效,但可與扇形磁場聯用的特點更加重要,使用這種聯用技術,能夠確

    實驗室分析方法質譜分析的質譜儀快原子轟擊源特點

    高能量的Xe原子轟擊涂在靶上的樣品,濺射出離子流。本法適合于高極性、大分子量、低蒸汽壓、熱穩定性差的樣品。FAB一般用作磁式質譜的離子源。

    質譜分析法術語激光電離質譜法

    激光電離質譜法( laser ionization mass spectrornetry, L IMS)是利用激光電離質譜儀進行質譜分析的一種方法,具有微區分析功能,可進行逐層剖析,剖析深度可達1um至幾十微米,分析雙敏度高,相對檢測極限5μg/g,在高純材料、生物、醫學等領域獲得成功應用。

    質譜分析法術語光共振電離質譜法

    激光共振電離質譜法(? laser resonance ionization mass spectrometry, LRIMS)是利用激光共振電離質儀進行質譜分析的方法。原則上 LRIMS可實現單原子探測,具有極高的元素、核素選擇性和探測靈敏度,是復雜基質下超痕量中長壽命核素定量分析的有效方法,在材

    質譜分析法術語原子量

    原子量(atomic weightrelative atomic weight)是該元素所含各穩定性同位素以碳-12的原子質量作為標準計算的原子質量的加權平均值。

    質譜分析法術語原子量

    原子量(atomic weightrelative atomic weight)是該元素所含各穩定性同位素以碳-12的原子質量作為標準計算的原子質量的加權平均值。

    質譜分析法術語原子質量單位

    原子質量單位(atomic mass unit)計量原子質量的單位(u),相當于碳同位素碳-12質量的1/12,其數值為1.6605×10-27g

    檢測河豚毒素的薄層色譜快原子轟擊質譜的測定方法

      Nagashima等建立了薄層色譜快原子轟擊質譜的測定方法。先在LHP-K板上進行TLC,純化TTX及其衍生物,然后用質譜定量,最低檢出限為0.1g。此法可以區分在其它TLC方法中難以區分的TTX和脫水TTX,其優點還在于不需TMS硅烷化,甚至當被測物的TLC行為不清時也可以測定。1988年,王

    實驗室分析方法快原子轟擊質譜法

    快原子轟擊質譜法(Fast-atom-bombardment Mass Spectrometry, FAB-MS)是用快原子轟擊方式作為離子源的質譜分析法。

    質譜分析法術語峰匹配測量法

    峰匹配測量法(peak matching measurement)一種測定離子精確質量的方法。精度可達(110)×10-6根據扇形磁質譜儀的基本公式:m/z=KB21V,當B2不變時,質量分別為m1和m2的兩個離子有如下關系:m1:m2=V1:V2。在離子接收狹縫前裝上一對偏轉電極,并在電極上加一個

    質譜分析法術語同位素稀釋法

    同位素稀釋法(isotope dilution method)采用同位素稀釋進行定量分析的方法。如在含有自然豐度的某元素未知濃度溶液中,加入該元素已知豐度的定量濃縮同位素或貧化同位素溶液,等待兩種溶液均勻混合,通過待測樣品、混合溶液的同位素豐度質譜法測量,根據待測、濃縮和混合溶液中的同位素豐度和所加

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