質譜分析法術語穩定離子
穩定離子（stable ion）指在離子源生成的，離開離子源后直至到達檢測器不發生裂解的離子。通常指壽命比10-5s長的離子。......閱讀全文
質譜分析法術語穩定離子
穩定離子（stable ion）指在離子源生成的，離開離子源后直至到達檢測器不發生裂解的離子。通常指壽命比10-5s長的離子。
質譜分析法術語不穩定離子
不穩定離子（unstable ion）在離子源內生成，但在離開離子源之前就分解的離子。通常指壽命小于10-6s的離子。由于這種離子的裂解發生在離子源內，因此稱為源內碎裂（in--source fragmentation）。
質譜分析法術語負離子
負離子（negative ions）帶負電荷的離子，產生于質譜儀的負離子源。
質譜分析法術語穩定同位素
穩定同位素（stable isotope）稱謂是相對放射性同位素而言的，一般指壽命極長的同位素，通常以半衰期109年為界，大于此數的同位素均可認為是穩定同位素。目前已經發現的穩定核素285種，其中的單核素元素21種，實際僅有264種穩定同位素。
質譜分析法術語負離子電離
負離子電離（negative ion ionization，NII）對于具有電子親和力比較大的元素捕獲一個電子可生成負離子，這種離子化的方法稱為負離子電離法。
質譜分析法術語離子化
離子化（ionization）或稱為電離。指中性原子或分子失去電子或捕獲電子生成離子的過程。在質譜分析中，指氣相、液相、固相樣品的原子、分子變為氣態的正離子或負離子的過程。
質譜分析法術語多電荷離子
多電荷離子（multiple charged ion）帶有兩個以上電荷的離子，通常多電荷離子具有非整數質荷比，出現在質譜圖的分數質量上，形成“本底”。
質譜分析法術語等離子體
等離子體（plasma）亦稱等離子區。一般指電離的氣體，主要由離子、電子和未經電離的中性粒子所組成。因正負電荷密度幾乎相等，故從整體上看呈現電中性。例如，火焰和電弧中的高溫部分，太陽和氣體恒星的表面等。在等離子體中電磁力起主要作用，能引起和普通氣體大不相同的內部運動形態，如電子和離子的集體振蕩，因此
質譜分析法術語離子計數測量
離子計數測量（ counting measurement of ion）質譜分析時測量離子的一種方法，該法將接收的離子通過離子甄別器排除干擾離子后，經脈沖放大器放大，用脈沖計數器測量，計數率通常在10?6cp5。目前閃爍探測器和通道式電子倍增器都可用離子計數測量。
質譜分析法術語離子模擬測量
離子模擬測量（ analog measurement of ion）是測量離子的一種方法，該法將接收的離子通過高穩定、高歐姆值的電阻放大，轉換為電壓信號，再經過電子學放大器放大后，借助模數轉換器轉換為數字信號進行測量。當離子濃度較高時，采用法拉第杯接收器測量，模擬值可達1012cps（ count
質譜分析法術語二次離子質譜法
二次離子質譜法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）采用二次離子質譜儀進行質析的方法，該法依賴于所用不同二次離子質譜儀，可劃分為四極桿二次離子質（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辯二次離子質譜儀（ high resolu
質譜分析法術語離氣體穩定同位素質譜法
氣體穩定同位素質譜法（ gas stable isotope ratio mass spectrometry， GSIRMS）該法因測量氣體穩定同位素比值而得名，如測量碳、氧、氮、硫等元素的穩定性同位素，測量結果的品位通常以δ表示，在同位素地球化學、同位素地質學、石油勘探與開采、同位素宇宙學、海洋學
質譜分析法術語峰匹配測量法
峰匹配測量法（peak matching measurement）一種測定離子精確質量的方法。精度可達（110）×10-6根據扇形磁質譜儀的基本公式:m/z＝KB21V，當B2不變時，質量分別為m1和m2的兩個離子有如下關系:m1:m2＝V1:V2。在離子接收狹縫前裝上一對偏轉電極，并在電極上加一個
質譜分析法術語同位素稀釋法
同位素稀釋法（isotope dilution method）采用同位素稀釋進行定量分析的方法。如在含有自然豐度的某元素未知濃度溶液中，加入該元素已知豐度的定量濃縮同位素或貧化同位素溶液，等待兩種溶液均勻混合，通過待測樣品、混合溶液的同位素豐度質譜法測量，根據待測、濃縮和混合溶液中的同位素豐度和所加
質譜分析法術語質譜
質譜（mass spectra mass spectrum）按照被測體質量大小排序的譜線。
質譜分析法術語同位素示蹤法
同位素示蹤法（isotope tracer method）用同位素作為示蹤劑來觀察和研究生命體，或物體中某一物質行為的方法。
質譜分析法術語質譜圖
質譜圖（mass spectrogram）質譜測定結果經計算機處理統計后，以棒狀圖（或數據列表形式）表示的譜圖。它是二維圖譜，橫坐標表示離子的質荷比（m/z），對于單電荷的離子，電荷數z＝1，橫坐標表示的數值即為離子的質量；縱坐標表示離子流的強度，通常用相對強度來表示，即把被記錄的各個質量數的離子峰
質譜分析法術語質荷比
質荷比（mass charge ratio，m/z）離子質量（以相對原子質量為單位）與它所帶電荷（以電子電量為單位）的比值。
質譜分析法術語測量
測量（measurement or determination）定義為以確定量值為目的的一組操作。
質譜分析法術語元素
元素（element）不能用化學分解方法再分成更簡單組分的基本物質，也可以把元素理解為組成分子的基本單元。
質譜分析法術語稀釋
稀釋（dilution）在較高濃度的溶液中，加入溶劑或試劑使溶液的濃度變小，稱為稀釋。所加的溶劑或試劑稱為稀釋劑（spike）
質譜分析法術語核素
核素（nuclide）泛指原子序數、原子質量和能態不同的原子形式，也可以定義為具有特定核特征的某種原子。核素分為穩定核素和放射核素，在已經發現的2000多種核素中，絕大多數是人造核素，天然核素僅有340種，其中穩定核素285種，其余為放射核素。
質譜分析法術語誤差
誤差（error）測量結果減去被測量的“真值”之差。由于真值不能確定，實際上用的是約定真值。誤差是一個單個數值，原則上已知誤差可以用來修正測量結果；通常認為誤差含有兩個分量，即隨機分量和系統分量，分別稱為隨機誤差和系統誤差。
質譜分析法術語基體
基體（matrix）亦稱基質。試樣中除被測成分之外的其他組分集合的稱謂，基體對被測成分的行為有時有重要影響。
質譜分析法術語質譜法
質譜法（ mass spectrometry，MS）亦稱質譜學（ mass spectroscopy），采用不同離子化方式，將待測物電離形成帶電離子，離子按質荷比m/z分離、檢測的方法。質譜法是實現原子（分子）質量測定，同位素分離、分析，物質結構鑒定以及氣相離子化學基礎研究的譜學方法。作為一種檢測手
質譜分析法術語示蹤劑
示蹤劑（tracer）用于追蹤生命體內某一物質，或某一組織行為的試劑稱為示蹤劑，它通常是被濃縮的穩定性同位素或放射性同位素。
質譜分析法術語計量
計量（metrology）以確定量值為目的的操作，且具有計量法規依據，確定的量值具有溯源性，則此操作可視為計量。
質譜分析法術語本底
本底（background）是指在測量條件下，當欲測量樣品的離子還未抵達接收器時，探測器所記錄的電信號。通常“本底”由儀器的記憶效應、殘存氣體分子離子、儀器噪聲和零點漂移等信號組成。
質譜分析法術語同量（質）異位素
同量（質）異位素（isobaric nucleus）原子質量數M（M＝Z＋N）相同，質子數（Z）不同，即原子序數不同的核素。
質譜分析法術語彈性碰撞
彈性碰撞（elastic collision）如果離子與原子，或離子與分子之間的碰撞，僅僅是改變了離子的運動方向，并不發生相互間的能量交換，這種相互碰撞就稱為彈性碰撞。