實驗室分析儀器質譜儀器離子流累積測量數據的處理
質譜測量中，將需要測量的質量峰按順序采集一遍稱為一個循環或稱一個掃描（scan），幾個循環劃成一組，取一組數據（平均值與標準偏差），多組數據進行統計計算后得到最終結果（平均值與標準偏差）。平均值和標準偏差的計算公式為：離子流累積測量要求在測量的間隙同時測量本底數據，用累積數據減去本底數據，可得到扣除本底的原始數據。在測量過程中，一些偶發因素，如電壓波動、機械振動等不可控的原因，會使得個別數據明顯偏離正常范圍。對于這類異常的數據，可在數據處理時加以剔除。異常數據的判定與剔除可采用標準的數據處理方法進行。采用離子脈沖計數法測量時，需要對數據的死時間校正。校正公式如下:式中，N0為校正后的計數率；Nc為測量得到的計數率。一般計數測量系統的死時間值（τ）可通過測量標準樣品的方法得到。倍增器或微通道板測量中的增益校正和計數效率校正也是數據處理中需注意的問題。由于倍增器的增益會隨時間發生變化，因此數據采集過程中應附加跳峰過程，使一束適當強度......閱讀全文
質譜儀數據處理的分析離子流累積測量數據的處理
離子流累積測量數據的處理質譜測量中，將需要測量的質量峰按順序采集一遍稱為一個循環或稱一個掃描（scan），幾個循環劃成一組，取一組數據（平均值與標準偏差），多組數據進行統計計算后得到最終結果（平均值與標準偏差）。平均值和標準偏差的計算公式為：離子流累積測量要求在測量的間隙同時測量本底數據，用累積數據
實驗室分析儀器質譜儀器離子流累積測量數據的處理
質譜測量中，將需要測量的質量峰按順序采集一遍稱為一個循環或稱一個掃描（scan），幾個循環劃成一組，取一組數據（平均值與標準偏差），多組數據進行統計計算后得到最終結果（平均值與標準偏差）。平均值和標準偏差的計算公式為：離子流累積測量要求在測量的間隙同時測量本底數據，用累積數據減去本底數據，可得到扣除
質譜儀質譜儀數據處理的分析離子流測量數據的處理
離子流累積測量數據的處理質譜測量中，將需要測量的質量峰按順序采集一遍稱為一個循環或稱一個掃描（scan），幾個循環劃成一組，取一組數據（平均值與標準偏差），多組數據進行統計計算后得到最終結果（平均值與標準偏差）。平均值和標準偏差的計算公式為：離子流累積測量要求在測量的間隙同時測量本底數據，用累積數據
質譜儀質譜儀數據處理的分析掃描質譜數據的處理
對于逐點掃描得到的一段質譜數據，數據處理的首要任務是峰位置的判別。其實質是峰數據與既有模型的匹配過程，這與質譜儀的特性、掃描參數以及數據的統計信息等多種因素有關系。簡單情況下，連續幾個數據都大于設定的閾值（如最大值5％）即可認為該段數據是峰數據，而剩余的數據可認為是本底。在峰位置判別的基礎上，根據本
實驗室分析儀器質譜儀器掃描質譜數據的處理介紹
對于逐點掃描得到的一段質譜數據，數據處理的首要任務是峰位置的判別。其實質是峰數據與既有模型的匹配過程，這與質譜儀的特性、掃描參數以及數據的統計信息等多種因素有關系。簡單情況下，連續幾個數據都大于設定的閾值（如最大值5％）即可認為該段數據是峰數據，而剩余的數據可認為是本底。在峰位置判別的基礎上，根據本
實驗室分析儀器質譜儀離子阱質量分析器特點
特定m/z離子在阱內一定軌道上穩定旋轉,改變端電極電壓,不同m/z離子飛出阱到達檢測器。特點:結構簡單、易于操作、靈敏度高。
實驗室分析儀器質譜儀的離子檢測器分類及結構原理
質譜儀中離子檢測器用于檢測和記錄離子流的強度。無機和同位素質譜的離子檢測器通常有法拉第杯、分離打拿極電子倍增器、通道式電子倍增器、微通道板以及閃爍光電倍增器（Daly）等，加速器質譜中還可能用到對離子能量敏感的探測器。在這些探測器中，法拉第杯直接收集離子的電荷，結合其對二次電子逸出的抑制，其線性動態
質譜儀數據處理的操作規范掃描質譜數據的處理
對于逐點掃描得到的一段質譜數據，數據處理的首要任務是峰位置的判別。其實質是峰數據與既有模型的匹配過程，這與質譜儀的特性、掃描參數以及數據的統計信息等多種因素有關系。簡單情況下，連續幾個數據都大于設定的閾值（如最大值5％）即可認為該段數據是峰數據，而剩余的數據可認為是本底。在峰位置判別的基礎上，根據本
實驗室分析儀器質譜儀器的組成離子源
離子源在離子源中樣品被電離成離子。不同性質的樣品可能需要不同的電離方式。近年來，生物大分子的分析對質譜的電離方式提出了更高的要求，新的離子源不斷出現。如電子轟擊離子化(EI)、化學離子化(CI)、激光解吸離子化(LDI)、基質輔助激光解吸/離子化(MALDI)、大氣壓離子化(API)、電噴霧離子化(
實驗室分析儀器質譜儀離子轟擊型離子源及原理
利用不同種類的一次離子源產生的高能離子束轟擊固體樣品表面，使樣品被轟擊部位的分子和原子脫離表面并部分離子化—一產生二次離子，然后將這些二次離子引出、加速進入到不同類型的質譜儀中進行分析。這種利用高能一次離子轟擊使被分析樣品電離的方式統稱為離子轟擊電離。使用的一次離子源包括氧源、氬源、銫源、鎵源等。1
實驗室分析儀器質譜儀熱電離離子源原理
熱電離離子源是分析固體樣品的常用離子源之一。其基本工作原理是:把樣品涂覆在高熔點的金屬帶表面裝入離子源，在真空狀態下通過調節流過金屬帶的電流強度使樣品加熱蒸發，部分中性粒子在蒸發過程中電離形成離子。熱電離效率依賴于所用金屬帶的功函數、金屬帶的表面溫度和分析物質的第一電離電位。通常金屬帶的功函數越大、
實驗室分析儀器質譜儀器的電感耦合等離子體離子源
電感耦合等離子是通過將射頻( radio frequency，RF)發生器產生的能量在電磁場中耦合至等離子支持氣所形成的。其中電磁場是通過對負載線圈施加一定RF功率(典型值為700~1500W)而產生。負載線圈是由直徑為3mm粗銅管，環繞成2匝或3匝3cm大小的銅環，繞石英炬管安裝并將所形成的等離子
測量投影儀的數據處理器相關介紹
1、多點采集確定直線和圓； 2、 各幾何元素預置設定； 3、 以組合方式確定各幾何元素； 4、具有坐標旋轉、坐標平移功能； 5、 Z軸可設定為傳感器長度值或編碼器角度值； 6、極坐標/直角坐標轉換功能； 7、 具有誤差修正功能； 8、 RS232輸出功能； 9、 打印頁面輸出功能
質譜儀的離子檢測器分類
無機和同位素質譜的離子檢測器通常有法拉第杯、分離打拿極電子倍增器、通道式電子倍增器、微通道板以及閃爍光電倍增器（Daly）等，加速器質譜中還可能用到對離子能量敏感的探測器。
質譜儀離子檢測器的作用
離子檢測器法拉第杯（直接電測法）離子流直接為金屬電極所接收，并用電學方法記錄離子流大小。二次電子倍增器（二次效應電測法） 一定能量的正離子打擊陰極的表面，產生若干二次電子，然后用多級瓦片狀的二次電極(或稱打拿極)使二次電子不斷倍增，后為陽極所檢測。 二次電子倍增器的檢測極限更低。好點的質譜會同時配備
實驗室分析儀器質譜儀電感耦合等離子體離子源原理
利用高溫等離子體將分析樣品離子化的裝置稱為電感耦合等離子體離子源，也叫ICP離子源。等離子體是處于電離狀態的氣體。它是一種由自由電子、離子和中性原子或分子組成的且總體上呈電中性的氣體，其內部溫度可高達上萬攝氏度。電感耦合等離子體離子源就是利用等離子體中的高溫使進入該區域的樣品離子化電離。ICP離子源
實驗室分析儀器質譜儀器的離子源化學電離（CI）
在電子轟擊電離中，樣品分子與具有一定能量的電子直接作用，產生的分子離子具有較高熱力學能，從而進一步發生碎裂。其缺陷是分子離子信號變得很弱，甚至檢測不到。化學電離（chemical ionization，CI）引入大量的試劑氣，使樣品分子與電離離子不直接作用，試劑氣分子被電子轟擊電離后因離子-分子反應
實驗室分析儀器質譜儀的離子源種類及各自原理
離子源是質譜儀器最主要的組成部件之一，其作用是使被分析的物質分子或原子電離成為離子，并將離子會聚成具有一定能量和一定幾何形狀的離子束。由于被分析物質的多樣性和分析要求的差異，物質電離的方法和原理也各不相同。在質譜分析中，常用的電離方法有電子轟擊、離子轟擊、原子轟擊、真空放電、表面電離、場致電離、化學
實驗室分析儀器質譜儀放電型離子源及原理
利用真空火花放電在很小的體積內積聚起的能量可使體積內的物質驟然完全蒸發和電離，從而獲得具有表征性的離子流信息。?Dempsteri最早把這一現象應用到質譜儀器上實現了當時物理、化學家們用電子轟擊型電離源無法解決的鉑、鈀、金、銥電離的遺留問題完成了當時已知元素同位素的全部測量。這一具有歷史意義的成果對
實驗室分析儀器質譜儀器的真空的獲得及真空測量
真空獲得的主要裝置是各種類型的真空泵，而不同類型的真空計則負責真空腔體內的真空測量。根據各類質譜儀器對真空的需求程度，可選擇不同類型的真空泵、真空計、真空閥門及相應的電子學控制部件，這些部件和質譜儀的真空室組合成一個完整的真空系統，使質譜儀器能夠獲得其所需要的真空度，圖1為熱離子質譜儀的一個真空系統
實驗室分析儀器質譜儀單聚焦分析器特點
離子的m/z與R,B, V有關。通過改變磁場可以把不同離子分開。在一定磁感應強度B下,改變加速電壓V可以使不同離子先后通過檢測器,實現質量掃描,得到質譜。特點:結構簡單,操作方便;只有方向聚焦,無能量聚焦,分辨率低。
實驗室分析儀器質譜儀雙聚焦分析器特點
實現方向聚焦和能量(速度)聚焦;對于動能不同的離子,通過調節電場能,達到聚焦的目的。特點:分辨率高。
實驗室分析儀器質譜儀質量分析器作用
將離子源產生的離子按質荷比m/z的大小分開。
束流收集器的束流位置測量系統
概述蘭州重離子加速器冷卻儲存環(HIRFL-CSR)由主環(CSRm)和實驗環(CSRe)組成,每個環有一套電子冷卻裝置。電子冷卻是通過以相同平均速度運動的離子束與強流電子束的庫侖碰撞將離子束的橫向振蕩與縱向振蕩能量轉移到電子束,從而降低儲存環中離子束橫向發射度和縱向動量散度、提高束流品質目的的方法
實驗室分析儀器質譜儀器的離子源電離轟擊電離（EI）
電子轟擊（electron impact，EI）電離使用具有一定能量的電子直接作用于樣品離子，使其電離。其結構大致為：用鎢或錸制成的燈絲在高真空中被電流熾熱，發射出電子。在電離盒與燈絲之間加一電壓，電子在電壓的加速下經過入口狹縫進入電離區。樣品氣化后在電離區與電子作用，一些分子丟一個電子形成正離子。
實驗室分析儀器質譜儀原子轟擊型離子源及原理
與離子轟擊電離相似，原子轟擊電離也是利用轟擊濺射使樣品電離的，所不同的是用于轟擊的粒子不是帶電離子，而是高速的中性原子，因此原子轟擊電離源又稱為快原子轟擊源（fast atom bombardment source， FAB）。原子轟擊源是20世紀80年代發展起來的一種新技術。由于電離在室溫下進行和
實驗室分析儀器質譜儀電子轟擊型離子源及原理
電子轟擊離子源（electron impact ion source）是利用具有一定能量的電子束使氣態的樣品分子或原子電離的離子源（簡稱EI源）。具有結構簡單、電離效率高、通用性強、性能穩定、操作方便等特點，可用于氣體、揮發性化合物和金屬蒸氣等樣品的電離，是質譜儀器中廣泛采用的電離源之一。在質譜分析
實驗室分析儀器－質譜儀的定義
質譜儀能用高能電子流等轟擊樣品分子,使該分子失去電子變為帶正電荷的分子離子和碎片離子。這些不同離子具有不同的質量,質量不同的離子在磁場的作用下到達檢測器的時間不同,其結果為質譜圖。原理公式:q/m=E/B1B2r質譜分析是先將物質離子化,按離子的質荷比分離,然后測量各種離子譜峰的強度而實現分析目的一
實驗室分析儀器ICPMS離子流的動力學特征
離子錐通過截取錐，在接口室與離子透鏡系統之間壓差的作用下，迅速膨脹，膨脹過程受氣體動力學而非電動力學控制。主要原因之一為離子采樣過程中，因德拜波長比雙錐錐孔小，離子束與錐孔之間靜電作用弱，同時離子之間的相互作用較小。因此離子束通過接口區域時，其組分完整性得以保持。受透鏡低壓影響，電子從離子束中擴散。
多通道樹木連續生長及莖流測量系統數據采集器簡介
供電：額定電壓12VDC，最高工作電壓16V，最大容忍電壓60V，最大加熱功率4W 平均工作效率：＞90% 預設溫度控制：1K、2K或3K 數據存儲：固態存儲，120000條數據，存儲1年@10min采樣間隔 USB/IrDA紅外數據下載 工作溫度：?20~50°C 專業數據下載分析