關于能譜儀的優點簡介
分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和確定樣品中含有的所有元素，帶鈹窗口的探測器可探測的元素范圍為11Na~92U，20世紀80年代推向市場的新型窗口材料可使能譜儀能夠分析Be以上的輕元素,探測元素的范圍為4Be~92U。 靈敏度高 X射線收集立體角大。由于能譜儀中Si(Li)探頭可以放在離發射源很近的地方(10㎝左右)，無需經過晶體衍射，信號強度幾乎沒有損失，所以靈敏度高(可達104cps/nA，入射電子束單位強度所產生的X射線計數率)。 此外，能譜儀可在低入射電子束流(10-11A)條件下工作，這有利于提高分析的空間分辨率。 譜線重復性好 由于能譜儀沒有運動部件，穩定性好，且沒有聚焦要求，所以譜線峰值位置的重復性好且不存在失焦問題，適合于比較粗糙表面的分析工作。......閱讀全文
關于能譜儀的優點簡介
分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和確定樣品中含有的所有元素，帶鈹窗口的探測器可探測的元素范圍為11Na~92U，20世紀80年代推向市場的新型窗口材料可使能譜儀能夠分析Be以上的輕元素,探測元素的范圍為4Be~92U。 靈敏度高 X射線收
關于電子能譜儀的簡介
電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構，在表面化學分析、分子結構、催化劑、新材料等研究領域中已得到應用。
什么是能譜儀？能譜儀的原理簡介
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。 原理 各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子
電子能譜儀的簡介
電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構，在表面化學分析、分子結構、催化劑、新材料等研究領域中已得到應用。
能譜儀是什么？能譜儀與波譜議相比有哪些優點？
波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2方向上
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
能譜儀的測試原理簡介
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電
關于俄歇電子能譜的簡介
俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生于受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄歇效應，而逃脫出
與能譜儀相比，波譜儀的主要優點是什么
波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2方向上
簡介能譜儀的使用范圍
使用范圍 1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析； 2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定； 3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測； 4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域； 5、進行材
俄歇電子能譜儀的簡介
歐杰電子能譜術也稱俄歇電子能譜儀（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生于受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄
俄歇電子能譜儀簡介
俄歇電子能譜儀（AugerElectronSpectroscopy，AES），作為一種最廣泛使用的分析方法而顯露頭角。這種方法的優點是：在靠近表面5-20埃范圍內化學分析的靈敏度高；數據分析速度快；能探測周期表上He以后的所有元素。雖然最初俄歇電子能譜單純作為一種研究手段，但現在它已成為常規分析
關于X射線光電子能譜儀的簡介
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合
關于光電子能譜的簡介
光電子能譜主要用于表面分析，由激發源發出的具有一定能量的X射線，電子束，紫外光，離子束或中子束作用于樣品表面時，可將樣品表面原子中不同能級的電子激發出來，產生光電子或俄歇電子等．這些自由電子帶有樣品表面信息，并具有特征動能．通過能量分析器收集和研究它們的能量分布，經檢測紀錄電子信號強度與電子能量
能譜法的簡介
中文名稱能譜法英文名稱spectroscopy定 義用具有一定能量的粒子束轟擊試樣物質，根據被激發的粒子能量(或被試樣物質反射的粒子能量和強度)與入射粒子束強度的關系圖（稱為能譜）實現試樣的非破壞性元素分析、結構分析和表面物化特性分析的方法。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜
俄歇電子能譜儀的特點簡介
①俄歇電子的能量是靶物質所特有的，與入射電子束的能量無關。右圖是一些主要的俄歇電子能量。可見對于Z=3-14的元素，最突出的 俄歇效應是由KLL躍遷形成的，對Z=14-40的元素是LMM躍遷，對Z=40-79的元素是MNN躍遷。大多數元素和一些化合物的俄歇電子能量可以從手冊中查到。 ②俄歇電子
關于鐵譜儀的簡介
1、鐵譜儀是20世紀70年代發明的一種新的機械磨損測試方法。是一種借助磁力將油液中的金屬顆粒分離出來，并按照顆粒的大小排列在基片上，既能讀出大小顆粒的相對濃度，也能對微粒的物理性能作出進一步分析。 2、鐵譜儀測定的主要內容： (1)磨粒濃度和大小 (2)磨粒形貌(反應磨粒產生原因和機理)
關于表面張力儀的優點簡介
1.鉑金板法可測量液體表面（或界面）張力隨時間的變化：鉑金板法測量時是一直接觸被測液體的，只要液體的表面張力發生變化，測試值就會有變化，如果選用數據處理軟件還可觀測的表面張力隨時間的變化曲線。 2.可方便地測量中高粘度液體的表面張力：鉑金環法測試時需要鉑金環向上提升，在此過程中除了表面張力的作
關于電子能譜儀的分類介紹
電子能譜儀的類型有許多種，它們對樣品表面淺層元素的組成能做出比較精確的分析，有時還能進行在線測量如膜形成成長過程中成分的分布、變化的探測等，使監測制備高質量的薄膜器件成為可能。 1、光電子能譜儀 光電子譜儀分析樣品成分的基本方法，就是用已知光子照射樣品，然后檢測從樣品上發射的電子所帶有關于樣
關于能譜儀的測試原理介紹
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電
電子能譜法的簡介
中文名稱電子能譜法英文名稱electron spectroscopy定 義記錄試樣物質被激發的電子能譜的分析方法。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）
能譜儀
原理編輯各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一?[1]??特點來進行成分分析的。性能指標編輯固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好檢出角：理論上該角度越大越好探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步
能譜儀
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
光電子能譜儀的作用簡介
光電子能譜儀（photoelectron spectrograph）是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素。 用途 光電子能譜儀可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構，在表面化學分析、分子結構、催化劑、
關于紫外光電子能譜的簡介
紫外光電子能譜UPS（ultraviolet photo-electron spectroscopy）以紫外線為激發光源的光電子能譜。激發源的光子能量較低，該光子產生于激發原子或離子的退激，最常用的低能光子源為氦Ⅰ和氦Ⅱ。紫外光電子能譜主要用于考察氣相原子、分子以及吸附分子的價電子結構。
關于x射線光電子能譜的簡介
以X射線為激發光源的光電子能譜，簡稱XPS或ESCA。 處于原子內殼層的電子結合能較高，要把它打出來需要能量較高的光子，以鎂或鋁作為陽極材料的X射線源得到的光子能量分別為1253.6ev和1486.6ev，此范圍內的光子能量足以把不太重的原子的1s電子打出來。周期表上第二周期中原子的1s電子的
關于能譜儀的使用范圍介紹
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析； 2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定； 3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測； 4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域； 5、進行材料表面微區成
關于電子能譜儀的構成結構介紹
一臺電子能譜儀的基本組成由所研究的試樣、一個初級激發源和電子能量分析器組成。它們安裝在超高真空(UHV)下工作。實際上，經常再備有一個UHV室安裝各種試樣制備裝置，和可能的輔助分析裝置。此外還有數據采集與處理系統。 [1] (1)真空系統。電子能譜分析技術本身的表面靈敏度要求必須維持超高真空。
X射線光電子能譜儀的簡介
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
簡介俄歇電子能譜儀的樣品安置系統
一般包括樣品導入系統，樣品臺，加熱或冷卻附屬裝置等。為了減少更換樣品所需的時間及保持樣品室內高真空，俄歇譜儀采用旋轉式樣品臺，能同時裝6-12個樣品，根據需要將待分析樣品送至檢測位置。 俄歇能譜儀的樣品要求能經得住真空環境，在電子束照射下不產生嚴重分解。有機物質和易揮發物質不能進行俄歇分析，粉