X射線測角儀的簡介
中文名稱X射線測角儀英文名稱X-ray goniometer定 義在X射線分析法中，用于測量入射X射線束與衍射X射線束之間夾角的儀器。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）......閱讀全文
X射線測角儀的簡介
中文名稱X射線測角儀英文名稱X-ray goniometer定 義在X射線分析法中，用于測量入射X射線束與衍射X射線束之間夾角的儀器。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線測角儀的原理
測角儀與德拜相機有許多相似之處。平板試樣安裝在試樣臺上，后者可圍繞垂直于圖4中的軸O旋轉。S為X射線源，即X射線管靶面上的線狀焦斑，它與圖面相垂直。當一束發散X射線照射到試樣上時，滿足布拉格關系的某種晶面，其反射線便形成一根收斂光束。RS為接收狹縫，它與計數管D一起安裝在圍繞O旋轉的支架上。當計數管
X射線衍射儀測角儀的相關介紹
測角儀是X射線衍射儀測量中最核心部分，用來精確測量衍射角。 工作原理：在試樣臺C處裝好試樣，，入射線從X射線管焦點S發出，經入射光闌系統A投射到試樣表面產生衍射，衍射線經接收光闌系統B、F、G進入計步器E。S、F在同一圓周（測角儀圓）上。試樣臺和計數器分別固定在兩個同軸的圓盤上，由兩個步進馬達
自動測角儀簡介
自動測角儀，是由精密氣浮轉軸、高精度圓光柵和動態瞄準觸發系統等組成的自動化角度檢測儀器，具有高效率、高精度、高可靠性和角度動態測試等特點，主要用于高精度光學及機械零件拋光平面的角度測量。可實現多面棱體、角度塊等標準角度量具的動態檢測和測量數據自動處理、數據庫管理以及證書的自動打印，亦可實現非標準
X射線譜儀簡介
X射線譜儀設計有20路探測器，是此次載荷中探測器路數最多的系統，為有效預防多路探測器之間相互干擾，在硬/軟件設計中還專門設計了“隔離”探測器單元功能及對太陽監測器計數率的調閾指令，以提高探測器在軌長期工作的可靠性。 X射線譜儀指向月面，由16路硬X射線半導體探測器陣列，4路高分辨軟X射線半導體
小角X射線散射儀簡介
小角X射線散射儀是一種用于物理學、化學領域的分析儀器，于2013年1月12日啟用。 技術指標 最大功率：40kV、50mA；小角測量范圍（q）：0.07°～5°；大角測量范圍（q）：0.07°～40°。 主要功能 1)分散體系中粒子的形貌、尺寸、孔結構以及尺寸分布等； 2)高分子聚合物
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
x射線衍射儀的原理簡介
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德
x射線衍射儀的相關簡介
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。 X射線衍射儀的英文名稱是
X射線光譜儀的簡介
中文名稱X射線光譜儀英文名稱X-ray spectrometer定 義X射線波譜儀和X射線能譜儀的總稱。用于獲得試樣X射線光譜，并測量譜線的位置和強度。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
多道X射線光譜儀簡介
中文名稱多道X射線光譜儀英文名稱multichannel X-ray spectrometer定 義能對多種不同波長或能量同時進行測量的X射線光譜儀。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線粉末衍射儀簡介
CXRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱
X射線異物檢測儀簡介
X射線(X-ray)檢測機是在下使用低能量X 光，快速檢測出被檢物品的內部質量和其中的異物，并通過計算機顯示被檢物品圖像的測試手段。 當待檢品經X射線照射后，物質的密度和原子序數越大，物質吸收X射線的比率也會越大。而食品中的蛋白質、碳水化合物、脂肪、水分以及骨頭（鈣質）、玻璃（硅質）、金屬和毛
掃描X射線光譜儀的簡介
中文名稱掃描X射線光譜儀英文名稱sequential X-ray spectrometer定 義能對其中不同波長的X射線光譜進行連續研究的X射光譜儀。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線晶體光譜儀的簡介
中文名稱X射線晶體光譜儀英文名稱X-ray crystal spectrometer定 義利用晶體作分光器的X射線光譜儀。晶體具有適當的點陣間隔，對一定波長的X射線產生衍射作用，可起到類似于光學式分析儀器中衍射光柵的作用。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜
X射線測厚儀測厚原理
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度。下面大成精密技術人員給大家說說X射線測厚儀的基本原理和應用：一、應用領
X射線測厚儀測厚原理
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度。下面大成精密技術人員給大家說說X射線測厚儀的基本原理和應用：一、應用領
X射線衍射簡介
1912年，勞厄等人根據理論預見，證實了晶體材料中相距幾十到幾百皮米（pm）的原子是周期性排列的；這個周期排列的原子結構可以成為X射線衍射的“衍射光柵”；X射線具有波動特性， 是波長為幾十到幾百皮米的電磁波，并具有衍射的能力。??這一實驗成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X射線入射到晶體時，
X射線分析的簡介
利用 X射線與物質間的交互作用來分析物質的結構、組織和成分的一種材料物理試驗。 X射線是德國人W C 倫琴于 1895年發現的。它是一種肉眼不可見的射線，但能使感光材料感光和熒光物質發光；具有較強的穿透物質的本領；能使氣體電離；與可見光一樣，它是沿直線傳播的，在電磁場中不發生偏轉。由于當時對其
軟X射線的簡介
波長小于0.1埃的稱超硬X射線，在0.1～1埃范圍內的稱硬X射線，1～10埃范圍內的稱軟X射線(X射線波長略大于0.5nm的被稱作軟X射線)。
X射線管的簡介
利用高速電子撞擊金屬靶面產生 X射線的真空電子器件。按照產生電子的方式,X射線管可分為充氣管和真空管兩類。 充氣X射線管是早期的X射線管。1895年，W.C.倫琴在進行克魯克斯管實驗時發現了 X射線。克魯克斯管就是最早的充氣X射線管。這種管接通高壓后,管內氣體電離，在正離子轟擊下，電子從陰極逸
X射線攝譜儀的簡介
中文名稱X射線攝譜儀英文名稱X-ray spectrograph定 義配有照相或其他記錄裝置，能同時取得一定波長范圍Ｘ射線光譜的X射線光譜儀。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
x射線測厚儀的簡介
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度。
關于X射線的簡介
X射線，是一種頻率極高，波長極短、能量很大的電磁波。 X射線的頻率和能量僅次于伽馬射線，頻率范圍30PHz~300EHz，對應波長為0.01nm~10nm [12] ，能量為124eV~1.24MeV。X射線具有穿透性，但人體組織間有密度和厚度的差異，當X射線透過人體不同組織時，被吸收的程度不
X射線能譜微區分析中出射角對X射線強度的影響
利用SEM-EDS研究了硅襯底上Au、Cu薄膜發射的不同線系特征X射線相對強度間比值隨出射角的變化規律,探討了影響其變化的原因。結果顯示:隨著出射角變大,同一元素不同線系X射線相對強度間比值具有一定變化規律。低能量譜線的強度相對高能量譜線逐漸變大,這種變化主要是受X射線被基體吸收效應的影響所致。在低
X射線熒光光譜儀簡介
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
x射線熒光光譜儀簡介
x射線熒光光譜儀提供了一種最簡單，最準確，最經濟的分析方法，可用于確定多種類型材料的化學成分。它是無損且可靠的，不需要或只需很少的樣品制備，適用于固體，液體和粉末狀樣品。它可以用于從鈉到鈾的多種元素，并提供亞ppm級以下的檢測限；它也可以輕松，同時地測量高達100％的濃度。
X射線熒光光譜儀的簡介
X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特
關于X射線粉末衍射儀的簡介
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之
非衍射X射線光譜儀的簡介
中文名稱非衍射X射線光譜儀英文名稱nondiffraction X-ray spectrometer定 義一種不采用衍射原理的Ｘ射線光譜儀。它的檢測器輸出信號或與X射線光子能量有關或與試樣對X射線的選擇吸收有關。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析