布拉格衍射的定義
布拉格衍射不僅對方向有選擇性，還對波長有選擇性。晶格衍射可根據晶格種類和光源單色性分類。按照晶格分類，一種是單晶的布拉格衍射，一種是多晶的布拉格衍射。......閱讀全文
布拉格衍射的定義
布拉格衍射不僅對方向有選擇性，還對波長有選擇性。晶格衍射可根據晶格種類和光源單色性分類。按照晶格分類，一種是單晶的布拉格衍射，一種是多晶的布拉格衍射。
布拉格衍射的特點和類型
布拉格衍射不僅對方向有選擇性，還對波長有選擇性。晶格衍射可根據晶格種類和光源單色性分類。按照晶格分類，一種是單晶的布拉格衍射，一種是多晶的布拉格衍射。
布拉格條件的定義
當電磁輻射或亞原子粒子波的波長，與進入的晶體樣本的原子間距長度相若時，就會產生布拉格衍射，入射物會被系統中的原子以鏡面形式散射出去，并會按照布拉格定律所示，進行相長干涉。
選區衍射的定義
中文名稱選區衍射英文名稱selected-area diffraction定 義在透射電子顯微成像鏡物鏡的后焦面上對樣品的微小區域衍射成像，并用電子透鏡放大的衍射圖像。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞（三級學科）
衍射襯度的定義
晶體試樣在進行TEM電鏡觀察時，由于各處晶體取向不同和(或)晶體結構不同，滿足布拉格條件的程度不同，使得對應試樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面形成一個隨位置而異的衍射振幅分布，這樣形成的襯度，稱為衍射襯度。這種襯度對晶體結構和取向十分敏感，當試樣中某處含有晶體缺陷時，意味著該處相對于周圍完整
衍射襯度的定義
晶體試樣在進行TEM電鏡觀察時，由于各處晶體取向不同和(或)晶體結構不同，滿足布拉格條件的程度不同，使得對應試樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面形成一個隨位置而異的衍射振幅分布，這樣形成的襯度，稱為衍射襯度。這種襯度對晶體結構和取向十分敏感，當試樣中某處含有晶體缺陷時，意味著該處相對于周圍完整
衍射襯度的定義
晶體試樣在進行TEM電鏡觀察時，由于各處晶體取向不同和(或)晶體結構不同，滿足布拉格條件的程度不同，使得對應試樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面形成一個隨位置而異的衍射振幅分布，這樣形成的襯度，稱為衍射襯度。這種襯度對晶體結構和取向十分敏感，當試樣中某處含有晶體缺陷時，意味著該處相對于周圍完整
X射線衍射儀的定義和用途
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ra
何謂布拉格方程
布拉格方程：2dsinθ=nλθ為入射束與反射面的夾角，λ為X射線的波長，n為任何正整數該方程是晶體衍射的理論基礎
什么是布拉格條件？
當電磁輻射或亞原子粒子波的波長，與進入的晶體樣本的原子間距長度相若時，就會產生布拉格衍射，入射物會被系統中的原子以鏡面形式散射出去，并會按照布拉格定律所示，進行相長干涉。
布拉格方程物理意義
膠體晶體為一種非常有序的粒子陣列，可以在大范圍內形成（長度從幾微米到幾毫米不等），而且可被看作原子及分子晶體的類比。球狀粒子的周期性陣列，會形成出相似的空隙陣列，而這種陣列可被用作可見光的衍射光柵，尤其是當空隙與入射波長為同一數量級的時候。因此，科學家們在很多年前就發現了，由于相斥庫侖相互作用的關系
Aeris，重新定義臺式X射線衍射儀
Aeris，重新定義臺式X射線衍射儀：（1）Aeris內置的觸摸屏界面直觀，可直接顯示各種分析結果，所有人都可以無障礙地使用這款儀器。（2）Aeris 還具有擁有成本低的優點 - 它僅需要一個單相電源插口，既不需要冷卻水，也不需要壓縮空氣。（3）Aeris還具備帕納科設備所含的多種成熟技術，其性能超
X射線繞射法的原理及應用
原理 當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線繞射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線繞射的基本原理。 布拉格方程 1
X射線衍射分析的簡介
定義： X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。 分析原理 當一束X射線入射到晶體時，首先被原子（電子）所散射，每個原子都是一個新的輻射源，向空間輻射出與入射波同頻率的電磁波。由于晶體是由
聲光調制器的工作原理
將信息加載于光頻載波上的一種物理過程。調制信號是以電信號（調幅）形式作用于換能器上，再轉化為以電信號形式變化的機械波場，當光波通過介質時，由于作用，使光載波受到調制而成為“攜帶”信息的強度調制波。圖2無論是拉曼-納斯衍射，還是布拉格衍射，其衍射效率均與附加相位延遲因子?有關，而其中折射率差Δn正比于
聲光調制器的工作原理
將信息加載于光頻載波上的一種物理過程。調制信號是以電信號（調幅）形式作用于換能器上，再轉化為以電信號形式變化的機械波場，當光波通過介質時，由于作用，使光載波受到調制而成為“攜帶”信息的強度調制波。圖2無論是拉曼-納斯衍射，還是布拉格衍射，其衍射效率均與附加相位延遲因子?有關，而其中折射率差Δn正比于
實驗室光學儀器X射線衍射儀應用
英國物理學家布拉格(Bragg)父子在1912年提出了著名的布拉格定律。該定律對X射線衍射的方向做出了精確的表述。布拉格方程:nλ=2dsinθ(λ為X射線波長,n為衍射級數,d為晶面間距,θ為衍射半角。)其推導過程為:當一束平行X射線射入晶體后,晶體內部的不同晶面將使散射線具有不同的光程。設一組晶
X射線衍射分析的基本原理
如果讓一束連續X射線照到一薄片晶體上，而在晶體后面放一黑紙包著的照相底片來探測X射線，則將底片顯影、定影以后，可以看到除了連續的背景和透射光束造成的斑點以外，還可以發現有其他許多斑點存在。這些斑點的存在表明有部分X射線遇到晶體后，改變了其前進的方向，與原來的入射方向不一致了，這些X射線實際上是晶體中
X射線衍射分析的基本原理
如果讓一束連續X射線照到一薄片晶體上，而在晶體后面放一黑紙包著的照相底片來探測X射線，則將底片顯影、定影以后，可以看到除了連續的背景和透射光束造成的斑點以外，還可以發現有其他許多斑點存在。這些斑點的存在表明有部分X射線遇到晶體后，改變了其前進的方向，與原來的入射方向不一致了，這些X射線實際上是晶體中
衍射光柵
光電系的同學們對衍射光柵應該不陌生，例如在光通信行業中，光柵波導負責將不同波長的光耦合進入光纖，隨著技術的進步，光柵可以直接刻在光纖斷面上。而在增強現實（Augmented Reality，簡稱AR）領域，衍射光柵又有了新的應用——光波導，利用光柵衍射原理達到了傳播圖像，耦入眼睛的目的。為了研究
X射線衍射技術的理論基礎
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。布拉格方程1913年英國物理學家
X射線衍射發分析物質結構的原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。布拉格方程1913年英國物理學家
X射線衍射的原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。布拉格方程1913年英國物理學家
X射線衍射的工作原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。 布拉格方程 1913年
X射線原理
X射線定義X射線是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流，是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁波。其波長很短約介于0.01~100埃之間。X射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片
明暗場的成像原理
明暗場成像原理：晶體薄膜樣品明暗場像的襯度（即不同區域的亮暗差別），是由于樣品相應的不同部位結構或取向的差別導致衍射強度的差異而形成的，因此稱其為衍射襯度，以衍射襯度機制為主而形成的圖像稱為衍襯像。如果只允許透射束通過物鏡光欄成像，稱其為明場像；如果只允許某支衍射束通過物鏡光欄成像，則稱為暗場像。有
明暗場成像的工作原理
明暗場成像原理：晶體薄膜樣品明暗場像的襯度（即不同區域的亮暗差別），是由于樣品相應的不同部位結構或取向的差別導致衍射強度的差異而形成的，因此稱其為衍射襯度，以衍射襯度機制為主而形成的圖像稱為衍襯像。如果只允許透射束通過物鏡光欄成像，稱其為明場像；如果只允許某支衍射束通過物鏡光欄成像，則稱為暗場像。有
簡介x射線單晶體衍射儀派特遜函數的定義
派特遜函數的定義 從派特遜圖上可以比較容易地得到晶體中所含重原子的位置坐標，可依此計算各衍射的相角 αHKL，將此αHKL去與實驗測得的結構振幅|FHKL|結合生成FHKL，可據此計算電子密度圖，可以定出更多原子的原子位置及修正已有的原子位置。再利用這些數據重新計算αHKL、FHKL及ρ（x
X射線繞射法的原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線繞射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線繞射的基本原理。 布拉格方程 1913年
關于X射線單晶體衍射儀的實驗儀器要求
若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數的晶面能符合布拉格公式而發生衍射。如何才能使各晶面族都發生衍射呢？最常用的方法就是轉動晶體。轉動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角，會在某個時候符合布拉格方程而產生衍射。目前常用的收集單晶體衍射數據