梅特勒托利多新超越系列XPE／XSE分析天平榮耀上市
在超越系列XP/XS分析天平引領全球高端分析天平市場10年之際，在美麗的常州，來自全國各地的50余家梅特勒-托利多天平合作經銷商伙伴聚集一堂，體驗梅特勒-托利多全新發布的新超越系列XPE/XSE分析天平。新XPE和XSE系列天平將會延續XP和XS系列天平的成功，通過推廣“無憂稱量”，再一次體現梅特勒-托利多在分析天平領域無可撼動的創新領導者的地位。 新超越系列XPE/XSE分析天平具有的眾多創新特性：StatusLightTM 狀態指示燈StaticDetectTM 靜電檢測LevelGuideTM 水平向導懸掛式SmartGrid網格秤盤SmartSens紅外感應器 新超越系列XPE/XSE分析天平，為您帶來更多價值！便捷的天平管理專業的靜電解決方案全面的過程控制 隨著新超越系列XPE/XSE分析天平登錄中國市場，為了更有效、簡明的將價值主張介紹給中國的用戶，現面向所有......閱讀全文
梅特勒托利多新超越系列XPE/XSE分析天平榮耀上市
?2014年6月26日，2014世界制藥機械、包裝設備及材料中國展(P-MEC China)揭開帷幕。梅特勒-托利多公司在亮相展會的同時，于26日上午舉行了”新超越系列XPE/XSE分析天平新品發布會”。梅特勒-托利多中國區實驗室業務總經理陳淮先生和天平產品市場團隊董文忠先生出席了新品發布會。
梅特勒托利多新超越系列XPE/XSE分析天平榮耀上市
在超越系列XP/XS分析天平引領全球高端分析天平市場10年之際，在美麗的常州，來自全國各地的50余家梅特勒-托利多天平合作經銷商伙伴聚集一堂，體驗梅特勒-托利多全新發布的新超越系列XPE/XSE分析天平。新XPE和XSE系列天平將會延續XP和XS系列天平的成功，通過推廣“無憂稱量”，再一次體現梅特勒
梅特勒托利多新超越系列分析天平中文宣傳語有獎征集
2011年9月，由梅特勒-托利多主辦的首次以“高端天平的未來”為主題的創新技術交流會在上海華亭賓館順利落下帷幕。與會期間，眾多天平用戶、經銷商及銷售人員各抒己見，提供了近100個未來高端天平的產品功能創意，共同描繪了一個能自行判斷狀態，并且為用戶考慮樣品特性的未來智能化稱量系統。經過2年多的努力，
梅特勒托利多：實驗天平領域研制專家
? 導讀：2014年9月24日，第七屆慕尼黑上海分析生化展（analytica China）在上海新國際博覽中心盛大揭幕。來自29個國家和地區的695家參展商參與此次盛會。中國化工儀器網組織強大的團隊，分三個報道小組，用影像記錄了展會盛況。展會現場，梅特勒-托利多天平產品市場部高級產品專員季忱接
梅特勒托利多新超越系列－輕松應對各項挑戰
食品和食品成分的質量控制涉及多種參數，如pH，氯離子含量，酸值或者過氧化值。通常每個月有幾百個樣品需要分析，因此，需要一個完善的滴定系統來減少實驗室人員的工作量。梅特勒-托利多的新超越系列電位滴定儀提供了快速熟悉的用戶界面，并且減少了培訓和更新的需求。為每個實驗室或者工廠的用戶定制個性化的用戶界面，
瑞士梅特勒托利多超越系列XS分析天平/電子天平
梅特勒-托利多XS分析天平，配合其創新選件，為快速高效的稱量過程設立了全新標準。儀器特點/功能：1. 采用高精度高分辨率后置式傳感器，滿足用戶高精度的稱量需求；2. 具有中文界面的觸摸屏(TouchScreen)，實現安全、便捷的天平操作；3. 網格秤盤(SmartGrid)，獲得快速、準確的稱量結
梅特勒托利多推出高性能新型XPE系列天平
梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵蓋了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液體自動加樣模塊。憑借最新的靜電消除、智能秤盤以及狀態指示燈技術，新型XPE天平可以保證測量結果的穩定性和合規性，幫助客戶輕松實現無憂測量。 如何處理靜電是分析天平和微量
梅特勒托利多推出高性能新型XPE系列天平
梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵蓋了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液體自動加樣模塊。憑借最新的靜電消除、智能秤盤以及狀態指示燈技術，新型XPE天平可以保證測量結果的穩定性和合規性，幫助客戶輕松實現無憂測量。 如何處理靜電是分析天平和微量天平所要
梅特勒托利多超越系列中文熔點儀
品牌： METTLER 貨號： MP50/70/90 ? ?
梅特勒托利多誠邀您蒞臨－“2014慕尼黑上海分析生化展”
由德國慕尼黑國際博覽集團和慕尼黑展覽（上海）有限公司主辦的2014慕尼黑上海分析生化展將于2014年9月24日至9月26日在上海新國際博覽中心召開。梅特勒-托利多將帶來最新、最全面的實驗室解決方案，包括在在制藥、化工、食品、材料等行業領域的檢測應用。如梅特勒-托利多最新產品新超越系列XPE分析天平、
新型XPE系列天平——更強技術，更高性能！
梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵蓋了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液體自動加樣模塊。憑借最新的靜電消除、智能秤盤以及狀態指示燈技術，新型XPE天平可以保證測量結果的穩定性和合規性，幫助客戶輕松實現無憂測量。 如何處理靜電是分析天平和微量天平所要面對的一大
梅特勒托利多－超越系列電位滴定儀
超越系列滴定儀模塊化與滴定效率和過程安全性相結合??完全根據您的需求量身定制高效、安全、模塊化直觀的 One Click? 一鍵操作用戶界面個性化主屏幕可擴展至多種應用，容量法或庫侖法卡爾費休滴定、電導率滴定等等。靈活的數據管理自動識別滴定管和電極的熱插拔功能通過 StatusLight? 功能提高
梅特勒托利多NewClassic系列天平上市
梅特勒-托利多全新NewClassic系列天平即將上市，NewClassic系列天平是面對各種業務挑戰而開發的新一代分析和精密天平，上市后將逐步替代現有的經典B系列和L-IC系列天平。??? “Classic"表示延續了梅特勒-托利多作為稱量領域的領導者，長期以來積累的傳統和先進技術，以及倍受客戶贊
梅特勒托利多超越系列HX/HS鹵素水分測定儀即將上市
梅特勒-托利多即將上市的新款超越系列鹵素水分測定儀采用創新的懸掛式秤盤設計以及第二代鹵素燈加熱技術，提供了極佳的測量性能，可在很短的時間內獲得非常可靠的結果。一鍵水分測定 (One Click? Moisture) 的圖形化用戶界面可快速、順暢地執行操作，同時提供了實時的干燥曲線和控制圖表
梅特勒托利多超越系列中文密度計/折光率儀上市公告
2010年3月，梅特勒-托利多新型超越系列中文密度計/折光率儀在中國正式上市！?新的中文密度計和折光率儀包括5款主機：DM40、DM45 DeltaRange、DM50、RM40、RM50和對應的5款模塊：DX40、DX45 DeltaRange、DX50、RX40、RX50。新儀器具有操作更加簡單
梅特勒托利多：新一代超越系列滴點軟化點儀上市公告
?梅特勒-托利多代表新一代超越系列滴點軟化點儀于2011年12月正式上市。新一代的滴點軟化點儀有兩種型號DP70和DP90：?DP70 —獨立的單元適合大部分材料的滴點或軟化點測定；DP90 —儀器包含控制模塊和外部測量池兩個組成部分，方便進行低溫條件下的滴點或軟化點測定。?滴點和軟化點常被用于確定
梅特勒托利多：新一代超越系列滴點軟化點儀上市公告
梅特勒托利多代表新一代超越系列滴點軟化點儀于2011年12月正式上市。新一代的滴點軟化點儀有兩種型號DP70和DP90： DP70 —獨立的單元適合大部分材料的滴點或軟化點測定; DP90 —儀器包含控制模塊和外部測量池兩個組成部分，方便進行低溫條件下的滴點或軟化點測定。 滴點
梅特勒XSE分析天平操作規程
?1、梅特勒XSE分析天平調水平?? ? 放入網格秤盤，檢查網格秤盤放置在相應合適位置。轉動天平裝置后部的兩個水平調節螺紋腳，直至水平儀中的空氣泡位于內圈中央。無論何時，天平的位置一經搬移后，必須重新調整其水平位置。?2、接通電源，使天平預熱60分鐘。輕觸《On/Off》鍵，開啟天平，它將進行一個簡
梅特勒托利多MP超越系列熔點儀有獎問答
為配合新產品上市的推廣，現梅特勒-托利多熱分析部開展MP超越系列熔點儀有獎問卷反饋活動！ 活動時間：即日起至2010年9月1日。? 請在此填寫問卷 請如實填寫您的個人信息及儀器使用情況，以便我們能夠及時與您聯系！ 我們將每周對前一周的反饋人員進行一次隨機抽獎，
梅特勒托利多－SevenExcellenceTM系列儀表全新上市
梅特勒-托利多新一代SevenExcellenceTM系列模塊組合式多參數測試儀于2012年10月正式上市。 SevenExcellenceTM系列產品包含pH/mV測量儀、電導率儀、pH/離子濃度測量儀和雙通道pH/電導率測量儀： l SevenExcellenceTM pH/mV測量儀(S
梅特勒托利多東南科儀食品檢測交流會落幕
? ? 3月30日，東南科儀聯合全球領先的精密儀器及衡器制造商瑞士梅特勒-托利多（mettler toledo）主辦的“2017食品分析檢測技術交流會”在深圳順利舉行。 ? ? 為進一步指導檢測、研發相關人員更好的理解和應用最新的食品檢驗相關國家標準，加強食品檢測與控制，提升食品行業實
梅特勒托利多東南科儀食品檢測交流會圓滿落幕
3月30日，東南科儀聯合全球領先的精密儀器及衡器制造商瑞士梅特勒-托利多（METTLER TOLEDO）主辦的“2017食品分析檢測技術交流會”在深圳順利舉行。為進一步指導檢測、研發相關人員更好的理解和應用最新的食品檢驗相關國家標準，加強食品檢測與控制，提升食品行業實驗室的管理水平，在與客戶進行技術
梅特勒新型天平――更強技術，更高性能
?? 梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵蓋了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液體自動加樣模塊。憑借最新的靜電消除、智能秤盤以及狀態指示燈技術，新型XPE天平可以保證測量結果的穩定性和合規性，幫助客戶輕松實現無憂測量。 ? ? ? ? ? ? ? ?
利用梅特勒XP超越系列分析天平檢測顆粒粒度
顆粒粒度指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長表示。對不規則的礦物顆粒，可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。有時候，在描述粉塵顆粒大小的時候也會用到。?利用梅特勒XP精密天平檢測顆粒粒度，需要配備篩分易巧稱量組件。梅特勒篩分易巧稱量組件，是將樣品篩
新年新超越—梅特勒托利多電位滴定液
新年新超越—梅特勒托利多電位滴定儀敲黑板(劃重點、客戶必考考點)今天小編為大家帶來梅特勒-托利多電位滴定儀精編簡介，簡單粗暴有內容，打動客戶從這里開始！One Click? 一鍵滴定 ，高效 ，安全 ，模塊化梅特勒-托利多模塊化解決方案1. 為您的需求量身定制：專注于行業應用、擁有多種附件 2. 在
瑞士梅特勒托利多超越系列XP精密天平/電子天平
梅特勒-托利多XP精密天平快速安全的滿足所有稱量需求，特別適合于例如制藥行業的嚴格法規環境。儀器特點/功能：1. 采用高速單模塊傳感器(MonoBlocHighSpeed)，以最快的速度準確稱量結果，具有良好的抗沖擊、抗過載性能；2. 有中文界面的TFT彩色觸摸屏(SmartScreen)，實現安全
梅特勒托利多全能助手SevenCompact系列儀表全新上市
梅特勒-托利多新一代SevenCompactTM系列pH/離子計（S220）和電導率儀（S230）于2011年12月正式上市，S220可測量pH、ORP和各種單位的離子濃度，S230可測量電導率、鹽度、TDS、電阻率及電導灰分。SevenCompactTM系列產品秉承Seven系列臺式儀表的優良
梅特勒托利多Five系列酸度計閃亮上市
產品簡介 Five系列實驗室/便攜式pH計設計簡潔實用，性能可靠，多種全自動功能使操作更簡便、測量更精確，完全滿足從實驗室到戶外的常規測量要求。 詳細介紹 Five系列實驗室/便攜式pH計設計簡潔實用，性能可靠，多種全自動功能使操作更簡便、測量更精確，完全滿足從實驗室到戶外的常
新年新超越—梅特勒托利多電位滴定儀
梅特勒-托利多電位滴定儀精編簡介，簡單粗暴有內容，打動客戶從這里開始！ ?one click? 一鍵滴定 ，高效 ，安全 ，模塊化梅特勒-托利多模塊化解決方案1. 為您的需求量身定制：專注于行業應用、擁有多種附件2. 在一個包裝中，獲得您所需要的一切、在一臺設備上提高效率3. be future r
梅特勒托利多BBA228系列臺秤全新上市
梅特勒-托利多全新推出的BBA228系列臺秤現已正式上市！??? BBA228系列臺秤集簡單稱重、檢重、分選和計數等多種功能于一體，可滿足您的不同使用需求；特殊的衛生設計，使得秤體上任何一個部位的清洗都異常的方便，保證您的生產過程更加衛生安全；使用全不銹鋼儀表IND226和防護等級高達IP68/IP