分時高速Si(Li)軟X射線能譜儀測量高溫等離子體電子溫度
本文敘述了用三探頭Si(Li)漂移探測器測量HL—1M托卡馬克等離子體輻射的軟X射線能譜,得到等離子體溫度以及重金屬雜質水平隨時間變化,自制4096道快速分時多道分析器,其時間分辨可達50ms,每次放電可測16個譜,每個譜256道,探測系統的能量測量范圍1．25～25keV之間。......閱讀全文
分時高速Si(Li)軟X射線能譜儀測量高溫等離子體電子溫度
本文敘述了用三探頭Si(Li)漂移探測器測量HL—1M托卡馬克等離子體輻射的軟X射線能譜,得到等離子體溫度以及重金屬雜質水平隨時間變化,自制4096道快速分時多道分析器,其時間分辨可達50ms,每次放電可測16個譜,每個譜256道,探測系統的能量測量范圍1．25～25keV之間。
Si(Li)X射線能譜儀
Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
X射線能譜Si(Li)探測器污染問題的研討
通常X射線能譜Si(Li)探測器經使用后,不可避免地會受到污染,污染可分為兩類:探測器外部——Be窗口污染;探測器內部——Si(Li)晶體和場效應管的污染。前者主要是探測器在有油真空中使用,探測器的低溫使油蒸氣不斷凝結在Be窗口上,形成一層油膜,形成探測器外部的污染。后者主要是探測器真空容器密封不完
高計數率軟X射線能譜儀診斷高溫等離子體
本文給出了在ＨＴ－６Ｍ托卡馬克裝置上做ＥＣＲＨ實驗時，用軟Ｘ射線診斷等離子體電子溫度的數據及處理結果。還嘗試了能夠提供每次放電數據的方法。如果在實驗中要求溫度的時間分布，本方法能夠及時提供每次放電的電子溫度及其隨時間變化的情況。
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
Z箍縮軟X射線連續能譜測量
診斷Z箍縮等離子體不同時刻的空間分布及狀態是認識等離子體運動規律進而控制其箍縮過程以便加以利用的必經環節。在箍縮過程中,離子、電子和光子發生強烈的相互作用,探測出射的X光可不破壞等離子體原有狀態而獲取三者運動信息。通過測量X光能譜可以探知輻射場溫度、離子密度、輻射沖擊過程等等。受現有裝置驅動能力的限
軟X射線能譜定量測量技術研究
采用每毫米 10 0 0線的自支撐透射光柵配上背照射軟X射線CCD(charge coupleddevice)組成了透射光柵譜儀 ,利用北京同步輻射裝置 (BSRF) 3W1B光束線軟X射線實驗站上X射線源分別對透射光柵的衍射效率和軟X射線CCD的響應靈敏度進行了準確的實驗標定 ,獲得了 15 0e
軟X射線能譜儀與透射光柵譜儀測量結果的對比
對軟 X射線譜儀和透射光柵譜儀的測量結果進行了對比。它們的回推譜形大致符合 ,只是透射光柵譜儀的復原譜的 N帶相對于 O帶太小。其原因可能是 X射線 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,對 N帶吸收較多。經過對透射光柵譜進行吸收補償后 ,兩種譜儀的復原譜基本一致。?
軟X射線能譜儀數據采集系統
在 線 存 儲 軟X射線能譜儀的結構框圖見圖1。不同能量的軟X射線被Johann彎晶衍射分光,分光后的能量分布轉化成在探測器上對應的位置分布。位置靈敏、時間分辨好的MWPC和MCP都可做為這種探測器。軟X射線區適用的MWPC采用逐絲陽極讀出法以允許高計數率,同時也是為了滿足將可測能區延伸到更低能區時
用于診斷磁約束等離子體的軟X射線能譜儀
文章描述HT-6M托卡馬克裝置上的軟X射線能譜儀的組成。給出HT-6 M弦積分的軟X射線連續譜的解析表達式,計算其強度并據以進行真空準直系統的物理設計。首批實驗結果表明物理設計合理,譜儀性能良好。?
激光等離子體X射線能譜的測量
分別用K邊濾波和濾波-熒光法測量了激光等離子體發射的1.5—100keV的X射線連續譜。文中敘述了激光等離子體X射線能譜的測量方法和多道X射線能譜儀,介紹了激光聚變實驗結果。?
多層鏡軟X射線能譜儀的研制
軟X射線能譜測量是ICF實驗中的重要內容,測量意義重大。軟X射線能診斷通過光譜分析,可以得到X射線總的通量,輻射溫度,轉換效率以及反照率。這些都是間接驅動黑腔熱力學的重要參數。作為黑體腔特征診斷系統,軟X射線能診斷系統測量黑體腔中發射出的X射線,可得出黑腔中輻射溫度的時間變化圖。針對目前常用的譜儀往
HL2A裝置SDD軟X射線能譜測量結果
用兩道獨立的硅漂移探測器(SDD)測量了HL-2A等離子體在電子回旋加熱(ECRH)期間的軟X射線能譜,給出了電子溫度。SDD軟X射線能譜測量系統所測量的結果與電子回旋輻射(ECE)所測量的電子溫度分布能較好地相互吻合。SDD軟X射線能譜測量結果表明:在軸ECRH期間,等離子體芯部(z=0)得到加熱
Si（Li）X射線譜儀用的脈沖處理器
４Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射線譜儀用的脈沖處理器梁祺愷Ｓｉ（Ｌｉ）半導體探測器已廣泛用于Ｘ射線能譜測量。為使這種探測器實現極好的能量分辯率，必須有與此相適應的測量譜儀系統。近年來，時變濾波器巳應用在Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射線訊號成形。
雙示蹤元素X射線能譜診斷激光等離子體電子溫度
在“星光Ⅱ”激光裝置上對Mg/Al混合材料平面靶和Mg/Al示蹤層金盤靶進行三倍頻激光打靶實驗 ,用平面晶體譜儀測量靶材料發射的X射線能譜 ,獲取了示蹤離子譜線實驗數據 .采用多組態Dirac Fock方法計算所需原子參數 ,并在局域熱動平衡條件下建立了雙示蹤離子譜線強度比隨電子溫度變化關系 .在此
硅漂移(SDD)陣列探測器X射線能譜測量診斷
采用最新的SDD探測器陣列測量HL-2A托卡馬克等離子體軟X射線(1～20keV)輻射的能譜,獲得電子溫度、Zeff、重金屬雜質含量絕對值及其時、空分布。由于SDD探測器較之傳統的Si(Li)探測器有體積小、計數率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷卻的特點,并采用高速ADC和海量緩
HT7電子加熱實驗的軟X射線能譜診斷
介紹了HT-7裝置上軟X射線能譜診斷系統,用軟X射線能譜對HT-7托卡馬克上電子溫度進行了測量。在離子伯恩斯坦波和低雜波協同實驗中,觀察到了對等離子體的較好的加熱效果。?
DPF脈沖X射線能譜測量
采用濾光法對ＤＰＦ脈沖Ｘ射線源裝置的Ｘ射線能譜進行了測量，取得了較好的結果，為輻射效應環境測量提供了一種手段。?
高能脈沖X射線能譜測量
給出了高能脈沖X射線能譜測量的基本原理及實驗結果.采用Monte-Carlo程序計算了高能光子在能譜儀中每個靈敏單元內的能量沉積,利用能譜儀測量了"強光Ⅰ號"加速器產生的高能脈沖X射線不同衰減程度下的強度,求解得到了具有時間分辨的高能脈沖X射線能譜,時間跨度57ns,時間步長5ns,光子的最高能量3
X射線能譜測量與模擬
1895年,德國科學家倫琴發現了X射線,開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領域。其中,針對電子打靶產生的韌致輻射X射線的研究,是X射線研究領域的一個重要課題。本文在國內外針對X射線能譜測量與解析的基礎上,利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶X射線能譜進行了測量。工作
X射線機重過濾X射線能譜的測量
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。
X射線光電子能譜儀原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。?XPS的原理
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
HT7基于軟X射線能譜診斷的電子加熱實驗研究
HT-7上軟X射線能譜診斷所使用的硅漂移探測器(SDD)采用peltier效應制冷,體積緊湊,在短的成形時間下具有高的能量分辨率,非常適合用于托卡馬克的空間多道溫度測量。在HT-7所開展的兆瓦(MW)加熱功率實驗下,作為不可或缺的重要診斷,利用它對歐姆加熱、低雜波(LHW)加熱以及離子伯恩斯坦波(I
X射線光電子能譜
X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技術也被稱作用于化學分析的電子能譜(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS屬表面分析法,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類、化學組成以及有
軟X射線能譜測試Ross濾片對設計
為獲得“陽”加速器上Z箍縮等離子體軟X射線輻射譜,設計了一套6通道的軟X射線能譜儀,譜儀范圍0.1keV-1.5keV,采用Ross濾片差分法。文中介紹了測量箍縮軟X射線能譜的Ross濾片對的設計,并從理論上計算了對應“陽”加速器上等離子溫度為20eV的黑體輻射譜時,PIN探頭的輸出電流,從計算結果
腔靶軟X射線能譜結構的實驗研究
敘述了利用雙狹縫透射光柵譜儀,在高功率激光物理聯合實驗室神光裝置上,對腔靶不同位置的能譜進行診斷,給出了腔靶源區能譜的空間分布和爆區的能譜結構,為腔靶輻射場的研究提供了重要信息。
X－射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
噴氣式Z箍縮等離子體輻射軟X射線能譜的研究
研制了一臺五通道ROSS-FILTER-PIN軟X射線能譜儀,能譜范圍為0·28—1·56keV.它由5個連續能段組成,每個能段的起止邊由羅斯濾片對(ROSS-FILTERS)的L或K吸收邊確定.羅斯濾片對的厚度通過優化計算得到,為了使每個通道的靈敏區外響應(即所測能段外響應)與通道總響應之比最小,