納米粒度電位分析儀
納米粒度及電位分析儀是一種用于生物學、工程與技術科學基礎學科、材料科學、紡織科學技術領域的物理性能測試儀器，于2004年04月14日啟用。 技術指標 ①粒徑范圍：0.6～6000nm〔最小樣品量20微升〕②Zeta電位：電導率0～200ms/cm的樣品③靈敏度：0.1mg/ml溶菌酶單體④分子量測定：1×103～2×107Da。 主要功能 適用于納米及亞微米級顆粒大小樣品的測試和粒子在介質中的ZETA電位隨PH、鹽濃度和導電率的變化測試等。......閱讀全文
納米粒度電位分析儀
納米粒度及電位分析儀是一種用于生物學、工程與技術科學基礎學科、材料科學、紡織科學技術領域的物理性能測試儀器，于2004年04月14日啟用。 技術指標 ①粒徑范圍：0.6～6000nm〔最小樣品量20微升〕②Zeta電位：電導率0～200ms/cm的樣品③靈敏度：0.1mg/ml溶菌酶單體④分
納米粒度及Zeta電位分析儀
納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用于環境科學技術及資源科學技術領域的物理性能測試儀器，于2012年4月5日啟用。 技術指標 1、Zeta電位部分： 1.1電泳測量適用粒度范圍：0.005-30μm；1.2電泳遷移率范圍：10 -10 -10 -7 m2 /V.s；1.3 樣品池：3ml方形
納米粒度與Zeta電位分析儀的應用
? ? 納米粒度與Zeta電位分析儀是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合數個ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可滿足濃度從0.1ppm到40%樣品的可粒
Nanotrac－wave納米粒度及Zeta電位分析儀特點
技術參數：粒度分析范圍:0.8nm-6.5μm重現性：誤差≤1%Zeta電位測量范圍：-200mV~200mV電導率：0-200ms/cm濃度范圍：ppb-40%檢測角度：180°分析時間：30-120秒準確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子測量精度:無需預選，依據實際測量結果，自動生成單峰/多
Nanotrac－wave納米粒度及Zeta電位分析儀簡介
納米粒度測量——最新動態光背散射技術隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經典動態光散射技術的自相關檢測（PCS）變得更加不確定。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術在顆粒粒度測量中的應用。作為行業的先鋒，早在1990年，超細顆粒分析儀器UPA（
納米粒度及Zeta電位分析儀－數據結果怎么看
Zeta電位與電泳速度間的關系公式在印永嘉、李大珍合編的《物理化學簡明教程》下冊（第一版）142頁，而電泳速度與分散粒子半徑的關系式在該書的第136頁，將下式代入上式就得到你所要的關系了。你想的很對，就是在膠體化學部分。
麥克儀器隆重推出NanoPlus納米粒度與Zeta電位分析儀
NanoPlus是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合數個ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可滿足濃度從0.1ppm到40%樣品的可粒度(從 0.
納米粒度分析儀
納米粒度分析儀是一種用于物理學領域的物理性能測試儀器，于2005年10月01日啟用。 技術指標 1、檢測器：采用高信噪比的PMT光電倍增管檢測器或APD檢測器 2、分析時間：30-120秒 3、可根據樣品散射信號相對于樣品池等其他因素產生的散射干擾自動調節激光強度，以獲得最佳信噪比（樣品散射
納米粒度分析儀
儀器通途：檢測粒度分布和分散體系穩定性，不但可以檢測低濃度的納米物料，更可對高濃度納米物料直接進行檢測，而且在檢測納米顆粒的粒度的同時還可進行納米樣品分散體系穩定性檢測。 測量原理：光子交叉相關光譜法（PCCS），可以完全消除多重散射效應對于測試結果的影響，保證測試結果的真實準確。使得測試
納米粒度分析儀
納米粒度分析儀是一種用于物理學領域的物理性能測試儀器，于2005年10月01日啟用。 技術指標 1、檢測器：采用高信噪比的PMT光電倍增管檢測器或APD檢測器 2、分析時間：30-120秒 3、可根據樣品散射信號相對于樣品池等其他因素產生的散射干擾自動調節激光強度，以獲得最佳信噪比（樣品散射
納米粒度及zeta電位儀有哪些特點
1.膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。2.快速傅利葉變換算法，迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時間。3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態光散射技術，引入能普概念代替傳統光子相關光譜法。4.“Y”型光纖光路系統，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流
Zetasizer－Nano系列納米粒度和Zeta電位儀
新一代Zetasizer Nano 系列可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。?這些系統中內置了新技術，提供無比的靈敏性和多功能性。?粒度 - NIBS 技術可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。?Zeta 電位 - M3
“納米粒度及電位分析儀品質優秀獎”進入大眾評審階段
芳菲四月，春暖花開。2022年ANTOP獎的申報和評審工作已經如火如荼的開展了。由珠海歐美克儀器有限公司申報的“納米粒度及電位分析儀品質優秀獎”Antop獎已經進入大眾評審階段。 獲獎名稱：納米粒度及電位分析儀品質優秀獎 獎項主體：NS-90Z 納米粒度及電位分析儀NS-90Z 納米粒度及電
馬爾文納米粒度電位儀Zetasizer－Nano－ZSP簡介
Zetasizer Nano ZSP是全世界性能最高的系統，特別適用于需要最高粒度及ZETA電位測量靈敏度的蛋白質及納米顆粒的表征。Zetasizer Nano ZSP測量的參數：顆粒粒度及分子大小、平移擴散、電泳遷移率、高濃度及低濃度顆粒的ZETA電位、蛋白質與聚合物溶液的粘性及粘彈性、濃度、MW
納米粒度分析儀工作原理
工作原理： 【動態光散射技術】： NS-90使用動態光散射技術測量粒子和分子大小。 液體中的粒子由于周圍的溶劑分子撞擊產生隨機布朗運動。小粒子在液體中運動速度較快，而大顆粒運動相對緩慢。這種運動一直都在進行，所以如果我們取一小段時間間隔拍攝樣品運動“圖像”，我們可以
納米粒度分析儀工作原理
工作原理： 【動態光散射技術】： NS-90使用動態光散射技術測量粒子和分子大小。 液體中的粒子由于周圍的溶劑分子撞擊產生隨機布朗運動。小粒子在液體中運動速度較快，而大顆粒運動相對緩慢。這種運動一直都在進行，所以如果我們取一小段時間間隔拍攝樣品運動“圖像”，我們可以
珠海歐美克NS90Z－納米粒度及電位分析儀榮獲2022年ANTOP獎
記錄分析測試行業前行的每一步，2022年ANTOP獎正式起航。在歷經網友投票和專家評審后，歐美克申報的“納米粒度及電位分析儀品質優秀獎”正式獲得2022年ANTOP獎。NS-90Z 納米粒度及電位分析儀創新點NS-90Z 納米粒度及電位分析儀是珠海歐美克儀器有限公司在成功引進和吸收馬爾文帕納科公司（
馬爾文的納米粒度、Zeta電位和絕對分子量分析儀送樣要求
英國馬爾文公司的納米粒度、Zeta電位和絕對分子量分析儀型號：Nano-2s ZEN3600主要技術指標：粒度測定范圍：0.6nm - 6000nm；濃度范圍：0.1ppm - 40%（W/v)；分子量測定范圍：1000-10000000道爾頓；溫度控制范圍：2-90℃。應用范圍： 納米粒度、Ze
“納米粒度及電位分析”進入2022年ANTOP獎專家評審階段
春回大地，花紅柳綠。2022年第一期ANTOP獎也正式起航。由珠海歐美克申報的ANTOP“納米粒度及電位分析儀品質優秀獎”進入專家評審階段。 獎項名稱：納米粒度及電位分析儀品質優秀獎 獎項主體：NS-90Z納米粒度及電位分析儀歐美克 NS-90Z納米粒度及電位分析儀 申報理由NS-90Z
納米粒徑與電位分析儀的工作原理分析
NICOMP 380 ZLS&S納米粒徑與電位分析儀采用先進的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位
納米粒徑與電位分析儀的工作原理分析
NICOMP 380 ZLS&S納米粒徑與電位分析儀采用先進的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位
納米粒度儀
納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數字相關器的納米激光粒度儀，其采用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復及測試準確等特點，是納米顆粒粒度測試的首選產品。
珠海歐美克NS90Z－Plus納米粒度及電位分析儀申報ANTOP獎進入大眾評審階段了！
納米粒度和電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器，可分析所有能夠穩定存在于溶液中作布朗運動的顆粒。珠海歐美克儀器有限公司提出以“be true”、“own it”、“aim high”為核心內容的“贏之有道”核心價值觀和行為準則！歐美克具有深厚的測量理論研究功底和活躍的
歐美克NS90Z－Plus，榮獲“新一代高性價比納米粒度及電位分析儀”2023ANTOP獎！
生活是一只看不見的儲蓄罐，你投入的每一份努力都不會白費！歷經全網投票和專家評審后，由珠海歐美克儀器有限公司申報的NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀正式榮獲“新一代高性價比納米粒度及電位分析儀”ANTOP獎！ 獎項名稱：新一代高性價比納米粒度及電位分析儀 獎項主體：NS-90Z Plu
膠束的Zeta電位及粒度測試
? ?以EDC/NHS催化殼聚糖上的氨基與巰基乙酸上的羧基反應形成酰胺鍵，得到CTS-HS，CTS-HS可以作為自由基聚合的鏈轉移劑。以甲基丙烯酰氧乙基肉桂酸酯(CEMA)為光敏單體和聚乙二醇甲基丙烯酸酯(MPEG)為水溶性單體，偶氮二異叮腈(AIBN)為引發劑，CTS-HS為鏈轉移劑，進行鏈轉移自
DelsaMax－PRO多角度Zeta電位及納米粒徑分析儀
?貝克曼庫爾特最新發布新一代的DelsaMaxTM系列-速度與卓著功能俱備的粒徑與Zeta電位分析儀。從DelsaMax Pro模型的粒徑分析與Zeta電位分析獨家技術到ASSIST輔助處理系統（選配項），DelsaMax系列分析儀令你的分析探索達到前所未有的深度、廣度和速度。DelsaMax Pr
經皮給藥制劑線下研討會－－學習補給站之南京站
5月15-16日，上海梓夢科技攜多功能顆粒度分析儀參加會展，在會場一對一進行測樣演示，以及產品功能講解，將多功能顆粒度分析儀的優勢展現出來，手把手教會您如何分析。在跟各位老師的交流當中，我們也受益匪淺，本次研討會，我們不僅是主講人、組織方更是學習者，梓夢科技會在每次會展中不斷的成長進步，助力行業發展
納米激光粒度儀原理
?納米激光粒度儀原理：? ? ? ?采用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測?定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，激光照射這些顆粒，不?同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的?光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本
納米材料的粒度分析
? ? 大部分固體材料均是由各種形狀不同的顆粒構造而成，因此，細微顆粒材料的形狀和大小對材料結構和性能具有重要的影響。尤其對于納米材料，其顆粒大小和形狀對材料的性能起著決定性的作用。因此，對納米材料的顆粒大小、形狀的表征和控制具有重要的意義。一般固體材料顆粒大小可以用顆粒粒度概念來描述。但由于顆粒形
納米材料的粒度分析
1． 粒度分析的概念????大部分固體材料均是由各種形狀不同的顆粒構造而成，因此，細微顆粒材料的形狀和大小對材料結構和性能具有重要的影響。尤其對于納米材料，其顆粒大小和形狀對材料的性能起著決定性的作用。因此，對納米材料的顆粒大小、形狀的表征和控制具有重要的意義。一般固體材料顆粒大小可以用顆粒粒度概念