簡介電子探針顯微分析的特點
1.顯微結構分析 電子探針是利用0.5μm－1μm的高能電子束激發待分析的樣品，通過電子與樣品的相互作用產生的特征X射線、二次電子、吸收電子、 背散射電子及陰極熒光等信息來分析樣品的微區內(μm范圍內)成份、形貌和化學結合狀態等特征。電子探針是幾個μm范圍內的微區分析， 微區分析是它的一個重要特點之一, 它能將微區化學成份與顯微結構對應起來，是一種顯微結構的分析。 2. 元素分析范圍廣 電子探針所分析的元素范圍從硼(B)——鈾(Ｕ)，因為電子探針成份分析是利用元素的特征X射線，，而氫和氦原子只有K層電子，不能產生特征X射線， 所以無法進行電子探針成分分析，鋰(Li)和鈹(Be)雖然能產生X射線，但產生的特征X射線波長太長，通常無法進行檢測，少數電子探針用大面間距的皂化膜作為衍射晶體已經可以檢測Be元素。能譜儀的元素分析范圍現在也和波譜相同，分析元素范圍從鈹(Be)——鈾(Ｕ)。 3. 定量分析準確度高 電子探針是目......閱讀全文
簡介電子探針顯微分析的特點
1.顯微結構分析 電子探針是利用0.5μm－1μm的高能電子束激發待分析的樣品，通過電子與樣品的相互作用產生的特征X射線、二次電子、吸收電子、 背散射電子及陰極熒光等信息來分析樣品的微區內(μm范圍內)成份、形貌和化學結合狀態等特征。電子探針是幾個μm范圍內的微區分析， 微區分析是它的一個重要
電子探針X射線顯微分析儀簡介
電子探針X射線顯微分析儀，簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線，并根據X射線的波長和強度，對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從
電子探針顯微分析的原理
用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特征x射線。 分析特征x射線的波長(或特征能量)即可知道樣品中所含元素的種類(定性分析)。 分析x射線的強度，則可知道樣品中對應元素含量的多少(定量分析)。 電子探針儀鏡筒部分的構造大體上和掃描電子顯微鏡相同，只是在檢測器部分使用的是x射線譜儀，
電子探針儀器的分析特點
1.微區性、微量性:幾個立方um范圍能將微區化學成分與顯微結構對應起來。而一般化學分析、X射線熒光分析及光譜分析等，是分析樣品較大范圍內的平均化學組成，也無法與顯微結構相對應，不能對材料顯微結構與材料性能關系進行研究。 2.方便快捷:制樣簡單，分析速度快。 3.分析方式多樣化:可以連續自動進
電子探針的分析特點介紹
第一、微區性、 微量性：幾個立方μm范圍能將微區化學成分與顯微結構對應起來。而一般化學分析、 X射線熒光分析及光譜分析等， 是分析樣品較大范圍內的平均化學組成，也無法與顯微結構相對應, 不能對材料顯微結構與材料性能關系進行研究。 第二、方便快捷：制樣簡單，分析速度快。 第三、分析方式多樣化：
電子探針顯微分析的方法介紹
電子探針分析有兩種基本分析方法：定性分析和定量分析。 （1）定性分析 定性分析是對試樣某一選定點（區域） 進行定性成分分析，以確定點區域內存在的元素。 定性分析的原理：用光學顯微鏡或在熒光屏顯示的圖像上選定需要分析的點，使聚焦電子束照射在該點上，激發該點試樣元素的特征X射線。用X射線譜儀探
關于電子探針X射線顯微分析儀的結構特點介紹
電子探針X射線顯微分析儀(簡稱電子探針)利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方
電子探針顯微鏡之顯微結構分析
電子探針是利用 0.5μm－1μm 的高能電子束激發待分析的樣品，通過電子與樣品的相 互作用產生的特征 X 射線、二次電子、吸收電子、 背散射電子及陰極熒光等信息來分析樣 品的微區內(μm 范圍內)成份、形貌和化學結合狀態等特征。電子探針是幾個μm 范圍內的 微區分析， 微區分析是它的一個重要
礦物的成分測試方法（電子探針顯微分析）
電子探針X射線顯微分析儀（EPM），簡稱電子探針，是一種現代成分分析儀器。由于它可以獲得礦物微米量級微區內的化學成分，并且無需分離和破壞樣品，費用也不高，尤其是對于那些含量少、顆粒微小以及成分不均勻樣品的成分分析，提供了有效的分析方法，因此目前在礦物成分研究中應用最廣。它除了可以給出一個微區的成分外
什么是電子探針顯微分析儀
電子探針顯微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全稱：電子探針x射線顯微分析，是一種顯微分析和成分分析相結合的微區分析。適用于分析試樣中微小區域的化學成分，是研究材料組織結構和元素分布狀態的有效方法。 電子探針顯微分析是利用聚焦電子束（電子探測針）照
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的功能特點
電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。由于電子探針技術具有操作迅速簡便（相對復雜的化學分析方法而言）、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的功能特點
電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。由于電子探針技術具有操作迅速簡便（相對復雜的化學分析方法而言）、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品
電子探針顯微分析的兩種掃描方式
電子探針分析有兩種掃描方式：線掃描分析和面掃描分析。 （1）線掃面分析 使聚焦電子束在試樣觀察區內沿一選定直線（穿越粒子或界面）進行慢掃描。 X射線譜儀處于探測某已知元素特征X射線狀態，得出反映該元素含量變化的特征X射線強度沿試樣掃描線的分布。 X射線譜儀處于探測未知元素狀態，得出沿掃描
電子探針X射線顯微分析儀概述
電子探針X射線顯微分析儀(Electron probe X-raymicroanalyser , EPMA )的簡稱為電子探針 。在眾多樣品化學成分分析的儀器中，電子探針分析技術(EPMA)是一種應用較早、且至今仍具有獨特魅力的多元素分析技術。 二戰以來，世界經濟和社會的迅猛發展極大的促進了科
電子探針X射線顯微分析儀概述
電子探針可以對試樣中微小區域微米的化學組成進行定性或定量分析，除做微區成分分析外，還能觀察和研究微觀形貌、晶體結構等。電子探針技術具有操作迅速簡便、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優點，在冶金、地質、土壤、生物、醫學、考古以及其他領域中得到日益廣泛應用，是土壤和礦物測
電子探針顯微鏡之元素分析范圍廣
電子探針所分析的元素范圍從硼(B)——鈾(Ｕ)，因為電子探針成份分析是利用元素的特 征 X 射線，而氫和氦原子只有 K 層電子，不能產生特征 X 射線， 所以無法進行電子探針 成分分析。鋰(Li)和鈹(Be)雖然能產生 X 射線，但產生的特征 X 射線波長太長，通常無法進 行檢測，少數電子探針
簡介電子探針X射線微區分析的實驗條件
(1) 樣品 樣品表面要求平整，必須進行拋光；樣品應具有良好的導電性，對于不導電的樣品，表面需噴鍍一層不含分析元素的薄膜。實驗時要準確調整樣品的高度，使樣品分析表面位于分光譜儀聚焦圓的圓周上。 (2) 加速電壓 電子探針電子槍的加速電壓一般為3～50kV，分析過程中加速電壓的選擇應考慮待分
電子探針X射線微區分析能譜儀分析特點
具有以下優點（與波譜儀相比） 能譜儀探測X射線的效率高。 在同一時間對分析點內所有元素X射線光子的能量進行測定和計數，在幾分鐘內可得到定性分析結果，而波譜儀只能逐個測量每種元素特征波長。 結構簡單，穩定性和重現性都很好（因為無機械傳動），不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，適于粗糙表面分析。
電子探針X射線顯微分析儀的陰極發光介紹
陰極發光是指晶體物質在高能電子的照射下，發射出可見光紅外或紫外光的現像。陰極發光現象和發光能力、波長等均與材料基體物質種類和含量有關。陰極發光效應對樣品中少量元素分布非常敏感，可以作為電子探針微區分析的一個補充，根據發光顏色或分光后檢測波長即可進行元素分析。從陰極發光的強度差異還可以判斷一些礦物
電子探針分析方法
利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數。分析前要根據試驗目的制備樣品，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。 1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素
掃描電子顯微鏡（SEM）和電子探針顯微分析裝置（EPMA）
掃描電子顯微鏡和電子探針顯微分析儀基本原理相同，但很多人分不清其差異，實際上需要使用電子探針領域比較少，而掃描電鏡相對普遍。掃描電子顯微鏡（SEM），主要用于固體物質表面電子顯微高分辨成像，接配電子顯微分析附件，可做相應的特征信號分析。 最常用的分析信號是聚焦電子束和樣品相互作用區發射出的元素特征X
電子探針的功能和應用特點
電子探針是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器，可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中某一微小區域，使其發出特征X射線
電子探針分析的基本介紹
以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗,又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是：以動能為10～30千電子伏的細聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從而產生特征X
關于電子探針X射線顯微分析儀的俄歇電子介紹
入射電子與樣品相互作用后，元素原子內層軌道的電子轟擊出來成為自由電子或二次電子，而留下空位，從而原子不穩定。則外層高能電子填充空位，釋放出能量，釋放的能量一方 面以輻射特征X射線的方式釋放，另一方面釋放的能量被該原子吸收，從而從另一軌道上轟擊出電子，該電子為俄歇電子。俄歇電子發生的幾率隨原子序
解剖顯微鏡的特點簡介
1． 雙目鏡筒中的左右兩光束不是平行，而是具有一定的夾角——體視角（一般為12度---15度），因此成像具有三維立體感； 2． 像是直立的，便于操作和解剖，這是由于在目鏡下方的棱鏡把像倒轉過來的緣故； 3． 雖然放大率不如常規顯微鏡，但其工作距離很長 4． 焦深大，便于觀察被檢物體的全層。
電子探針顯微鏡之定量分析準確度高
電子探針是目前微區元素定量分析最準確的儀器。電子探針的檢測極限(能檢測到的元 素最低濃度)一般為（0.01－0.05）wt%， 不同測量條件和不同元素有不同的檢測極限，但 由于所分析的體積小，所以檢測的絕對感量極限值約為 10-14 g，定量分析的相對誤差為(1— 3)%，對原子序數大于 1
體視顯微鏡簡介及特點
體視顯微鏡指從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。體視顯微鏡又稱“實體顯微鏡”“立體顯微鏡”，是一種具有正像立體感地目視儀器，被廣泛地應用于生物學、醫學、農林、工業及海洋生物各部門。它具有如下地特點1． 雙目鏡筒中的左右兩光束不是平行，而是具有一定的夾角——體視角，因此成像具有三維立體
體視顯微鏡簡介及特點
?體視顯微鏡指從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。體視顯微鏡又稱“實體顯微鏡”“立體顯微鏡”，是一種具有正像立體感地目視儀器，被廣泛地應用于生物學、醫學、農林、工業及海洋生物各部門。它具有如下地特點1． 雙目鏡筒中的左右兩光束不是平行，而是具有一定的夾角——體視角，因此成像具有三維立