理學推出全反射X射線熒光光譜儀鎘元素檢測有優勢
近日，日本理學宣布推出新一代理學NANOHUNTER II臺式全反射X射線熒光（TXRF）光譜儀，液體或固體表面高靈敏度痕量元素分析達到ppb水平。全反射X射線熒光光譜通過一種途徑使X射線入射光束剛好擦過樣品，來實現低背景噪音、高靈敏度的超微量元素測量。NANOHUNTER II臺式全反射X射線熒光（TXRF）光譜儀 全反射X射線熒光分析是利用原級X射線束能在樣品表面產生全反射激發進行X射線熒光分析的裝置和方法。由于其取樣量小、檢出限低的優勢，克服了常規XRF取樣量大、靈敏度低這些最明顯的缺陷，因而常用來解決地學、材料、微電子、環境、生物醫學、刑偵和考古等學科中超微量樣品的超痕最元素分析的難題。 由于環保法規日益嚴格，使用更簡單的方法進行低至ppb級別分析的需求不斷上升，諸如工廠廢液等中的砷（As）、硒（Se）和鎘（Cd）分析。據悉，使用NANOHUNTER?II光譜儀，即使是非常小的樣本尺寸也能進行ppb級的分析，僅僅......閱讀全文
蛋白CAD分析靈敏度
8月23日，國家藥典委員會公布了2020年版《中國藥典》四部通則增修訂內容。隨著2020年版《中國藥典》頒布的臨近，飛飛帶您一起來回顧下這些年各國藥典的變化。 美國藥典（USP） 藥物：琥珀酸美托洛爾，常用于治療高血壓、冠心病和心律失常 特點：弱紫外吸收和無紫外吸收雜質 檢測方法：將原先
高靈敏度X射線熒光光譜儀的特點
高靈敏度X射線熒光光譜儀具備重金屬痕量檢測能力，快速基本參數法（Fast FP）提升元素精確定量水平，兩項核心技術的結合，為XRF元素檢測帶來新的應用前景。 1、單色化聚集激發技術 高靈敏度X射線熒光光譜儀采用雙曲面彎晶單色化器，優化元素的激發效率與減少X射線管連續散射線背景，提升元素熒光射
如何提高GC分析靈敏度
1.樣品濃縮樣品濃度低于儀器檢測限時，采用濃縮方法往往是提高分析靈敏度的有效途徑。比如分析水和食品中的殘留農藥時，其濃度常常是ppb（10-9g/ml）到ppt（10-12g/ml檢測器是達不到這一檢測限的。所以必須對樣品進行濃縮。常用的方法有：（1）液-液萃取之后揮發溶劑，然后再定容；（2）用固相
如何提高GC分析靈敏度
1.樣品濃縮 樣品濃度低于儀器檢測限時，采用濃縮方法往往是提高分析靈敏度的有效途徑。比如分析水和食品中的殘留農藥時，其濃度常常是ppb（10-9g/ml）到ppt（10-12g/ml檢測器是達不到這一檢測限的。所以必須對樣品進行濃縮。常用的方法有：（1）液-液萃取之后揮發溶劑，然后再定容；（2
質譜儀靈敏度低原因分析
a. 質譜儀調諧未達到最佳狀態，排除方法是重新調諧質譜儀;b.質譜儀的質量標尺校準不精確，排除方法是重新校準質譜儀的質量標尺;c.離子源被污染，排除方法是對離子源依次用甲醇、丙酮超聲清洗各15min;d.離子源溫度過高或過低，導致樣品分解或吸附在離子源內，排除方法是調節離子源溫度;e.柱子伸人離子源
X射線衍射分析
XRD物相分析是基于多晶樣品對X射線的衍射效應，對樣品中各組分的存在形態進行分析。測定結晶情況，晶相，晶體結構及成鍵狀態等等。 可以確定各種晶態組分的結構和含量。靈敏度較低，一般只能測定樣品中含量在1%以上的物相，同時，定量測定的準確度也不高，一般在1%的數量級。XRD物相分析所需樣品量大（0.1g
X射線衍射分析
建立在X射線與晶體物質相遇時能發生衍射現象的基礎上的一種分析方法。應用這種方法可進行物相定性分析和定量分析、宏觀和微觀應力分析 ?。① 物相定性分析:每種晶體物相都有一定的衍射花樣，故可根據不同的衍射花樣鑒別出相應的物相類別。由于這種方法能確定被測物相的組成，在機械工程材料特別是金屬材料的研究中應用
氦質譜檢漏靈敏度分析
? ? 采用氦質譜真空檢漏對真空泄漏率要求較高的大容器檢漏時檢漏靈敏度的高低是衡量檢漏結果精確與否的重要指標之一。“要充分發揮檢漏儀的能力，以求得盡可能高的檢漏靈敏度。必須對輔助真空系統進行合理設計。”通過對檢漏靈敏度的分析確定檢漏儀在真空系統中的連接方式，可以達到檢漏目的的連接方式有兩種。 檢漏
高靈敏度相機的原理分析
高靈敏度相機是指成像器件能探測到光子數小于500個，對微弱光進行成像。 高靈敏度相機可以分為進行單光子探測的ICCD，在10個光子數下有優勢的EMCCD，在高分辨率高速度且高靈敏下的SCMOS，為降低熱噪聲提高靈敏度的制冷型CCD 原理 目標物體在相機的芯片上形成的每個
氦質譜檢漏靈敏度分析
? ? 采用氦質譜真空檢漏對真空泄漏率要求較高的大容器檢漏時檢漏靈敏度的高低是衡量檢漏結果精確與否的重要指標之一。“要充分發揮檢漏儀的能力，以求得盡可能高的檢漏靈敏度。必須對輔助真空系統進行合理設計。”通過對檢漏靈敏度的分析確定檢漏儀在真空系統中的連接方式，可以達到檢漏目的的連接方式有兩種。 檢漏
臨床檢驗分析靈敏度（檢測限）
一、 分析靈敏度（檢測限）1． 檢測的最低分析物濃度為檢測系統的分析靈敏度或稱檢測限。這個濃度限值對毒檢驗在法庭上特別重要，希望通過檢測知道樣品中究竟有無藥物，這是很關鍵的。另外，腫瘤標志物及許多特定蛋白應該有一個可檢測的最低濃度或某個量；如：前列腺特異蛋白（PSA），這是病人治療后監視復發的重
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
X射線能譜分析
能量色散譜儀(EDS)原來是一種核物理分析設備。由于半導體檢測器制造和微信號低噪聲電子學技術的進步,EDS的分辨率(譜線半高寬)由60年代的300ev提高到70年代的150ev,能對Al、Si這類較輕的元素的X射線譜作出明確的鑒別,因此從70年代開始,EDS被大量地用作熒光X射線分析和組裝到掃描電鏡
X射線顯微分析
中文名稱X射線顯微分析英文名稱X-ray microanalysis定 義應用X射線顯微分析器探測細胞或組織的微小區域內元素成分的技術。應用學科細胞生物學（一級學科），細胞生物學技術（二級學科）
X射線分析的簡介
利用 X射線與物質間的交互作用來分析物質的結構、組織和成分的一種材料物理試驗。 X射線是德國人W C 倫琴于 1895年發現的。它是一種肉眼不可見的射線，但能使感光材料感光和熒光物質發光；具有較強的穿透物質的本領；能使氣體電離；與可見光一樣，它是沿直線傳播的，在電磁場中不發生偏轉。由于當時對其
高靈敏度能量分辨型X射線探測器研究新進展
近日，中國科學院深圳先進技術研究院先進材料科學與工程研究所研究員楊春雷團隊以A novel energy-resolved radiation detector based on the optimized CIGS photoelectric absorption layer為題，在Journ
原裝ELISA試劑盒靈敏度分析
抗原各種表位的反應性。原裝ELISA試劑盒酶表抗體為與HBsAg有不同結合位點的鼠復合單位，可測得HBsAg變異樣品，提高檢測的特異性（99.98%）提高檢測的靈敏度，應用Parl Ehrich 學說（PEI）HBsAg標準品，對ad標準品的靈敏度為0.05ng/ml對ay原裝ELISA試劑
氦質譜檢漏靈敏度分析方法
? ? 對真空漏率要求較高的大容器檢漏一般采用氦質譜真空檢漏，此時檢漏靈敏度的高低是衡量檢漏結果精確與否的重要指標之一。要充分發揮檢漏儀的能力，以求得盡可能高的檢漏靈敏度，必須對輔助真空系統進行合理設計。下面通過對檢漏靈敏度的分析確定檢漏儀在本套真空系統中的連接方式。 通過對檢漏儀的調節，能使其在
質譜分析法術語靈敏度
靈敏度（sensibility）質譜儀的靈敏度通常用原子離子的轉換效率來定義，即用接收器接收到的離子數去除以進入離子源電離區域的樣品原子總數之比的百分數；質譜儀的絕對靈敏度通常用接收器檢測到的離子最小量度量；定量測量方法的靈敏度記為方法流程空白值標準偏差的3倍。取決于離子源的電離效率，離子在離子源、
X射線衍射分析的物相分析
晶體的X 射線衍射圖像實質上是晶體微觀結構的一種精細復雜的變換，每種晶體的結構與其X射線衍射圖之間都有著一一對應的關系，其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質混聚在一起而產生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據。制備各種標準單相物質的衍射花樣并使之 規范化，將待分析物質的衍射花樣與之對照，從而
射線熒光分析的相關介紹
X射線熒光分析：確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
熒光Ⅹ射線分析的基本介紹
熒光X射線分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一臺波長色散X射線熒光
X射線熒光應用及分析
a)?X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。? ??b)?每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。????c)?根據各元素的特征X射線的強
X射線衍射分析的簡介
X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線
X射線熒光分析技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光分析技術分類
X射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF)；而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一
X射線熒光應用及分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。c) 根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各
簡述－X－射線熒光分析技術
X 射線熒光分析技術（XRF）作為一種快速分析手段，為我國的相關部門提供了一種可行的、低成本的并且及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。相對于其他分析方法（例如發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等），XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理，快速、方便、測量成本低等明顯優勢，特別適
X射線熒光應用及分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。 c) 根據各元素的特征X射線的強度，
X射線能譜分析原理
X射線能譜分析原理? ???X射線能譜定性分析的理論基礎是Moseley定律，即各元素的特征X射線頻率ν的平方根與原子序數Z成線性關系。同種元素，不論其所處的物理狀態或化學狀態如何，所發射的? 特征X射線均應具有相同的能量。? ??X射線能譜定性分析是以測量特征X射線的強度作為分析基礎，可分為有標樣