掃描探針顯微鏡（SPM）針尖
1、STM針尖：W絲、Pt-Ir絲。超高真空一般用W絲，通過電化學腐蝕、高溫退火或原位處理以去除氧化層。大氣中一般用Pt-Ir絲，直接剪切制成。2、AFM針尖：Si、SiN4材料，通過微加工光刻的方法制備。......閱讀全文
SPM納米加工技術
? ? ? ?提示：掃描探針顯微鏡( scanning probe microscopes，SPM)，包括掃描隧道顯微鏡( STM)、原子力顯微鏡(AFM)、激光力顯微鏡(LFM)、磁力顯微鏡(MFM)等。SPM成為人類在納米尺度上，觀察、改造世界的一種新工具。STM是通過探測隧道電流來感知物體表面
輕敲模式原子力顯微鏡的優化
? ? 經過近二十多年的科學技術的發展，原子力顯微鏡（AFM）已從實驗室走向 了市場，從單純的AFM儀器發展出了系列掃描探針顯微鏡（SPM），并完善了 它的設計理論。本文就SPM的理論進行了深入的研究和分析，對SPM的基本結 構以及每個環節進行了詳細的總結，并從SPM的理論出發，在以前的激光力顯 微
HORIBA收購SPM制造商－首次實現拉曼與SPM真正耦合
具有50多年拉曼光譜儀制造經驗的全球拉曼(Raman)技術領導者HORIBA Scientific今年年初宣布成功收購美國頂尖掃描探針顯微鏡(SPM)制造商AIST-NT。收購前，雙方經歷了長達四年的合作。這次收購意味著掃描探針顯微鏡與拉曼光譜技術實現真正意義的耦合，NanoRaman將會有完整
計量型原子力顯微鏡
? ? ?第一臺在納米測量中,在中等測量范圍內,具有微型光纖傳導激光干涉三維測量系統、可自校準和進行絕對測量的計量型原子力顯微鏡。它的誕生,可使目前用于納米技術研究的掃描隧道顯微鏡定量化,并將其所測量的納米量值直接與米定義相銜接。使人們更加準確地了解納米范圍內的各種物理現象,并對它們進行更精確的分析
島津在京發布高分辨原子力顯微鏡新品SPM8100FM
分析測試百科網訊 2017年8月28日，島津“跨界拓新 見微知著” SPM-8100FM新品發布會在北京舉行。 SPM-8100FM新品發布會現場 島津企業管理（中國）有限公司分析測試儀器市場部事業部部長 曹磊 島津企業管理（中國）有限公司分析測試儀器市場部事業部部長曹磊為發布會致辭。
布魯克推出全新XR系列SPM－拓展納米材料表征界限
分析測試百科網訊 近日，布魯克宣布推出Dimension XR?系列掃描探針顯微鏡（SPM）。新系統主要是AFM系統方面創新，包括布魯克獨有的DataCube納米電子模式，用于能源研究的AFM-SECM，以及全新的AFM-nDMA模式，該模式首次將聚合物納米力學與體動力學機械分析（DMA）相關聯
SPM的成像模式有些哪？
? ? ? SPM是一類儀器的統稱，最主要的SPM是STM和以AFM為代表的掃描力顯微鏡（Scanning Force Microscope，SFM）。SPM的兩個關鍵部件是探針（Probe）和掃描管（Scanner），當探針和樣品接近到一定程度時，如果有一個足夠靈敏且隨探針-樣品距離單調變化的物理
SPM與SEM的圖像比較
SPM(掃描探針顯微鏡)與SEM(掃描電子顯微鏡)相比，SEM歷史更長且在各方面的發展已日漸成熟。而SPM正處在方興未艾的發展之中，軟件/硬件不斷開發升級，應用技術也在不斷開拓。更重要的是，SPM并非是在溯尋SEM的發展歷史，而是朝著一個嶄新的方向在發展。雖然從名稱上看二者類似，但從本質來講，“掃描
AFM盤點：應用及熱點市場需求探討
當下，中國原子力顯微鏡市場也不例外，隨市場容量的不斷增長，競爭日趨激烈。近日，第十七屆北京分析測試學術報告會及展覽會(BCEIA ?2017)在北京國家會議中心隆重開幕。若干AFM生產廠商悉數亮相展會，借此機會，儀器信息網編輯對AFM主流產品的技術特點、典型用戶及典型應用案例、各廠商對AFM熱點市場
相關探針和電子顯微鏡?（CPEM）的關聯成像技術簡介
LiteScope?是一種獨特的掃描探針顯微鏡（SPM）。?它設計用于輕松集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中。?組合互補的SPM和SEM技術使其能夠利用兩者的優勢。使用LiteScope?及其可更換探針系列，可以輕松進行復雜的樣品分析，包括表面形貌，機械性能，電性能，化學成分，磁性能等的表征。相關
原子力顯微鏡是不是掃描探針顯微鏡
原子力顯微鏡（AFM）是掃描探針顯微鏡（SPM）的一種。SPM也包括STM等。可參看《分子手術與納米診療：納米生物學及其應用》。
AFM納米材料與粉體材料的分析
?納米材料與粉體材料的分析在材料科學中，無論無機材料或有機材料，在研究中都有要研究文獻，材料是晶態還是非晶態。分子或原子的存在狀態中間化物及各種相的變化，以便找出結構與性質之間的規律。在這些研究中AFM?可以使研究者，從分子或原子水平直接觀察晶體或非晶體的形貌、缺陷、空位能、聚集能及各種力的相互作用
一種新型的掃描探針顯微鏡SPM和掃描電子顯微鏡SEM簡介
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'} p.p2 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px
掃描探針顯微鏡（SPM）針尖
1、STM針尖：W絲、Pt-Ir絲。超高真空一般用W絲，通過電化學腐蝕、高溫退火或原位處理以去除氧化層。大氣中一般用Pt-Ir絲，直接剪切制成。2、AFM針尖：Si、SiN4材料，通過微加工光刻的方法制備。
掃描探針顯微鏡（SPM）結構
1、探針：STM金屬探針，AFM微懸臂、光電二極臂2、機械控制系統：壓電掃描器、粗調定位裝置、振動隔離系統3、電子學控制系統：電子學線路、接口，控制軟件
掃描探針顯微鏡（SPM）特點
1.掃描隧道顯徽鏡（STM）和原子力顯微鏡同其他顯微鏡相比具有分辨率高、工作環境要求低、待測樣品要求低、不需要重金屬投影等優點，所以它們觀察到的圖像更能直接反映樣品的原有特點。 2.借助于快速的計算機圖像采集系統時，STM和AFM還可以用來觀察細胞，亞細胞水平甚至是分子水平上的快速動態變化過程
原子力顯微鏡在材料科學研究中的應用
? ? ? ?AFM 是利用樣品表面與探針之間力的相互作用這一物理現象，因此不受STM 等要求樣品表面能夠導電的限制，可對導體進行探測，對于不具有導電性的組織、生物材料和有機材料等絕緣體，AFM 同樣可得到高分辨率的表面形貌圖像，從而使它更具有適應性，更具有廣闊的應用空間。AFM 可以在真空、超高真
布魯克探針是一項創新性的產品設計，其功能強大
布魯克探針是一項創新性的產品設計，其功能強大 作為全球*一家能夠提供*AFM/SPM儀器和*AFM/SPM探針的企業，布魯克公司深刻理解每個單獨的組件對于一整套高性能AFM系統的價值。布魯克公司以的生產工藝，專業的AFM領域背景，得天獨厚的生產裝備，賦予探針制造眾多的優勢，確保在廣泛的應
島津SPM8100FM型高分辨原子力顯微鏡
島津SPM-8100FM型高分辨原子力顯微鏡 產品技術特點——中國AFM市場目前正在走向成熟，成熟市場源于用戶的成熟，按應用需求采購，追求性價比，看中售后服務將是今后AFM市場的指向標。各廠商都會針對應用開發相應的軟件和硬件。對于島津而言，緊緊抓住超高分辨和原位測試兩個技術基點。 高分辨一直都是
拿到AFM數據后，如何處理
現今市面上不同商家多種型號AFM設備并存，然而各自支持數據格式卻不盡統一，這對AFM用戶進行后期數據分析處理難免造成一些困擾。在此，謹整理一些不同的AFM數據后期處理方法，以方便有需求者。（需要說明的是，在此列舉的實例雖然受限于相關設備軟件，但其想法可推廣于其他AFM設備甚至其他掃描類顯微鏡如SPM
掃描探針顯微鏡（SPM）的特點
1、局域探針：探測樣品的局域特性、表面形貌、電子結構、電場、磁場等其他局域特性、2、高分辨率：STM x、y 0.1nm，Z 0.01nm3、可在不同環境下成像：大氣、超高真空、溶液、低溫、高溫4、對樣品無損傷、無干擾5、實時、動態過程的研究：吸附、脫附、結構相變、化學反應6、譜學特性測量：掃描隧道
原子力顯微鏡在生命科學與材料研究中的重要價值
原子力顯微鏡以其操作方便，對樣品處理要求不高，原子級分率低，樣本可在空氣中成者液體中直接觀察，可檢測的樣品范圍廣等優點，贏得了越越廣闊的應用，利用AFM可以觀察生物制品的形態結構、檢測生物力、觀察品體的三結構及插體的生長等，這勢必會進一步推動生命科學，材料科學的一步發展。 一、生命科學中的
掃描探針顯微鏡（SPM）結構及特點
掃描探針顯微鏡（SPM）結構1、探針：STM金屬探針，AFM微懸臂、光電二極臂。2、機械控制系統：壓電掃描器、粗調定位裝置、振動隔離系統。3、電子學控制系統：電子學線路、接口，控制軟件。掃描探針顯微鏡（SPM）特點1、局域探針：探測樣品的局域特性、表面形貌、電子結構、電場、磁場等其他局域特性、2、高
AFM曲線測量
曲線測量SFM除了形貌測量之外，還能測量力對探針-Zt（Zs）。它幾乎包含了所有關于樣品和針尖間相互作用的必要信息。當微懸臂固定端被垂直接近，然后離開樣品表面時，微懸臂和樣品間產生了相對移動。而在這個過程中微懸臂自由端的探針也在接近、甚至壓入樣品表面，然后脫離，此時原子力顯微鏡/AFM測量并記錄了探
AFM應用實例
應用實例1．應用于紙張質量檢驗。 2．應用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．評定材料納米尺度表面形貌特征陶瓷膜表面形貌的三維圖象
AFM應用實例
應用實例?? 1．應用于紙張質量檢驗。 2．應用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．評定材料納米尺度表面形貌特征? 原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而
AFM位置檢測
位置檢測部分主要是由激光和激光檢測系統組成。而反饋系統中主要包含一系列的壓電陶瓷管。壓電陶瓷是一種性能奇特的材料，當在壓電陶瓷對稱的兩個端面加上電壓時，壓電陶瓷會按特定的方向伸長或縮短。而伸長或縮短的尺寸與所加的電壓的大小成線性關系。即可以通過改變電壓來控制壓電陶瓷的微小伸縮。通常把三個分別代表X，
什么是AFM
明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微
快速AFM－技術
快速AFM 技術通常的AFM掃描速度較慢，不能滿足許多動態現象的研究需求，快速AFM 技術(high speed?AFM，HS-AFM)的核心限制因素是微懸臂探針的自然帶寬，其在真空、大氣及液體環境下分別是幾赫茲，幾千赫茲和幾萬赫茲。因此，在液體環境下更容易實現HS-AFM，但還需要具有高帶寬(兆赫
什么是AFM
明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微