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  • 關于球差的概念介紹

    在共軸球面系統中 ,軸上點和軸外點有不同的像差,軸上點因處于軸對稱位置,具有最簡單的像差形式。當軸上物點的物距L確定,并以寬光束孔徑成像時,其像方截距隨孔徑角U(或孔徑高度h)的變化而變化,因此軸上物點發出的具有一定孔徑的同心光束,經光學系統成像后不復為同心光束。在孔徑角很小的近軸區域可以得到物點成像的理想位置l′,任意孔徑角U的成像光線偏離理想像點與光軸相交的位置為L′。我們把軸上物點以某一孔徑角U成像時,其像方截距L′與理想像點的位置l′之差稱為軸上點球差,又稱為軸向球差。與物高無關而與入射光瞳口徑三次方成正比的像差。它使理想像平面中各像點都成為同樣大小的圓斑。軸上物點只有球差這一種像差。通過入射光瞳上不同環帶的光線,經過光學系統后會聚在光軸上的不同點。這些點與近軸光的像點之差稱為軸向球差。......閱讀全文

    關于球差的概念介紹

    在共軸球面系統中 ,軸上點和軸外點有不同的像差,軸上點因處于軸對稱位置,具有最簡單的像差形式。當軸上物點的物距L確定,并以寬光束孔徑成像時,其像方截距隨孔徑角U(或孔徑高度h)的變化而變化,因此軸上物點發出的具有一定孔徑的同心光束,經光學系統成像后不復為同心光束。在孔徑角很小的近軸區域可以得到物點成

    軸向球差的概念

    在共軸球面系統中 ,軸上點和軸外點有不同的像差,軸上點因處于軸對稱位置,具有最簡單的像差形式。當軸上物點的物距L確定,并以寬光束孔徑成像時,其像方截距隨孔徑角U(或孔徑高度h)的變化而變化,因此軸上物點發出的具有一定孔徑的同心光束,經光學系統成像后不復為同心光束。在孔徑角很小的近軸區域可以得到物點成

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    位于光軸以外的物點,由于偏離了共軸球面系統的對稱軸位置,成像后的光束聚焦情況比軸上點要復雜得多。子午面是系統的對稱面,也是光束的對稱面,該平面內的光束經系統成像后仍位于該平面內。因此,可以用平面圖形表示出子午光束的結構。軸外物點B發出充滿入瞳的一束光,這束光以通過入瞳中心的主光線為對稱中心。考察主光

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      相比傳統TEM,由于AC-TEM有效削減了像差,AC-TEM分辨率顯著提高。傳統TEM、STEM的分辨率在納米、亞納米級,而AC-TEM和AC-STEM的分辨率則能夠達到埃級和亞埃級別!分辨率的提高意味著能夠對材料進行更精細更準確的結構表征。

    發育差時的概念

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    零差探測的概念

    零差探測是指探測用的的本振信號經分光器從發射光源分離出來,與調制后的接收信號混頻產生外差信號。該探測方法可省去本振光源。

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    慧差的概念和特點

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    球差經軸上物點發出的電子束斜率較小者,可在理想傷平面中會聚成一個點。如果透鏡光鬧所決定的孔徑角。A1、A2一分別為像方或物方的電子柬有效孔徑角(或半張角)。因為孔徑角為噸的實心錐形電子束中包含有從o”蝎不同孔徑角的各電子束,它會聚在不同位置處,因此在理想像點與zui近透鏡的像點之間的某處.必存在一z

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