實驗室光學儀器波長色散譜儀定量分析條件的選擇
1)X光管的高壓和電流選擇對于不同的X射線管,所選用的電壓和電流是不同的。如端窗靶X射線管,高壓電源供給X射線管的電壓和電流為60kV和125mA。設置的X射線管高壓和電流的乘積不能超過譜儀給出的總功率。且譜儀推薦的電流和電壓是根據元素而定的,而不是根據實際試樣而定的。因此在選擇高壓時,設定值必須大于待測元素的激發電位。下表為推薦的高壓: 2)角度的校正、背景的扣除和計數時間的確定角度的選擇取決于待測元素所選的譜線和晶體。盡可能使所選譜線避免基體中其他元素的譜線的干擾。背景產生的原因有:有樣品引起的,原級X射線譜在樣品中產生散射線,其強度隨樣品成分變化而變化或是被測譜線附件存在譜線干擾;也有是由于樣品產生的射線和儀器相互作用引起的,如晶體熒光和分光晶體引起的高次線等。背景對微量元素的檢測限和準確度均有較大影響。背景校正方法有理論背景校正法、實測背景扣除法等。在X射線熒光光譜分析中,測定強度時的計數方法通常分為定時法和定......閱讀全文
實驗室光學儀器波長色散譜儀定量分析條件的選擇
1)X光管的高壓和電流選擇對于不同的X射線管,所選用的電壓和電流是不同的。如端窗靶X射線管,高壓電源供給X射線管的電壓和電流為60kV和125mA。設置的X射線管高壓和電流的乘積不能超過譜儀給出的總功率。且譜儀推薦的電流和電壓是根據元素而定的,而不是根據實際試樣而定的。因此在選擇高壓時,設定值必須大
實驗室光學儀器色散譜儀能量色散依定量條件的選擇
能量色散譜儀定量分析條件的選擇與波長色散譜儀定量分析條件的選擇相比較,相對于所用儀器來說要簡單一些,但能量色散譜儀種類繁多,如有用二次靶的,也有用偏振光的,它們各有特色,因此應在熟悉所用儀器性能的條件下,就其特性選擇最佳分析條件,以滿足分析要求。它的條件選擇主要有:提供給X射線管的管壓和管電流、譜線
定量分析中實驗條件的選擇
為了激發某元素的某一線系的特征X射線，入射電子的能量必須大于該元素此線系臨界激發能。同時，為了能得到足夠的X射線強度，入射電子束也要有足夠的強度。一般應按如下幾個基本考慮來選擇實驗條件。1)試樣中產生X射線的區域應盡可能地小，以減小被分析區域內外部干擾，更好地發揮電子探針分析的微區化優勢。2)為減小
能譜干擾波長色散X射線光譜分析儀的介紹
在各種探測器結合脈沖幅度分析器使用時，對一定波長的譜線，將產生具有平均脈沖幅度正比于光子能量的脈沖幅度分布。這種脈沖幅度分布的能譜干擾，不只是來自激發源、樣品成光路中的干擾線，也可能來自計數器的逃逸峰在氣體探測器中，決定于所充的情性氣體種類（Ar、Kr或Xe等）及其能量分辨率；閃爍探測器則決定于
能量色散譜儀
能量色散譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點，將其分開并檢測，不必使用分光晶體，而是依靠半導體探測器來完成。這種半導體探測器有鋰漂移硅探測器，鋰漂移鍺探測器，高能鍺探測器、Si-PIN光電二極管探測器（圖1-10）等。早期的半導體探測器需要利用液氮制冷，隨著技術的進步，新型的探測器利用半導體制冷技
XRF的兩大類型，波長色散型和能譜色散型區別何在？
X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。 波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶體分光而后
波長色散熒光光譜儀簡介
此種儀器的靈敏度比能量色散的高一個數量級，也就是說，所測的數據并不存在“灰色地域”，不存在測定后還需拿到檢測機構復檢。但儀器的價格比能量色散的貴很多，特別是進口的都在百萬元以上，所以沒有外國公司建議用。儀器操作和能量色散一樣，不需要專業人員。 波長型最大優點是用在原材料廠上，其測定的數據準確，給
能量色散和波長色散X熒光光譜儀的區別
掃描電鏡束流小，電子探針能譜分析結果比掃描電鏡能譜精確一個數量級，電子探針元素面掃描可以用能譜，也可以用波譜，一般對輕元素（C以下），波譜較準確，相對來說波譜掃描時間較長，一般定性及半定量基本用能譜。
概述波長色散X射線光譜分析儀譜線干擾的消除
在X射線光譜法中，如上所述，譜線干擾的來源基本上可分為兩方面，即發生于儀器和樣品本身。屬于樣品中固有的干擾線除采用化學分離方法去除干擾元素外，有的也可以利用儀器方法來克服，或者進行數學上的校正，現在，對以上兩種來源的干擾線，如何從儀器上克服和進行數學上的校正，分別討論如下： 1）激發源 對
概述波長色散X射線光譜分析儀干擾譜線的來源
XRF分為波長色散和能量色散兩大分支，由于激發、色散和檢測方法不同，他們對譜線干擾的處理辦法有所不同。這里主要討論應用普通X光管激發的波長色散X射線光譜分析儀法中的譜線干擾問題。對于利用各種激發源的能散法，只作簡單比較。為區別兩種方法的譜線干擾，分為稱它們為波長干擾和能譜干擾。
波長干擾波長色散X射線光譜分析儀的介紹
①X射線管 由X射線管發射出來的干擾線，首先，可能來自靶材本身，包括靶元素及有關雜質（例如鎢靶中的銅）的發射線，其次，在x射線管的長期使用中，可能由于燈絲及其它有關構件（包括銀焊料）的升華噴濺或其它原因，造成靶面或管窗的玷污，也是產生干擾線的一種來源。再次，由于x射線管構件受激發或陰極電子束
波長色散熒光光譜儀的相關介紹
波長法是因其激發出的熒光足夠強，進到儀器中用來分析的光譜是單一元素（“過濾”了不需測的元素），不含其它元素的光譜，所以測量數據很準確。這種儀器的靈敏度比能量色散型高一個數量級，也就是說，所測的數據并不存在“灰色地域”，不存在測定后還需拿到檢測機構復檢。缺點是，波長法需將被測材料粉碎壓制成樣本后測
波長色散X射線熒光光譜儀
我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看，依然是建立在布拉格定律基礎之上，但儀器面目全新。縱觀30年來的發展軌跡，可總結出如下特點 。(1) 現代控制技術的應用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀80年代起，一些機械部件為電子線路所取代，
實驗室光學儀器拉曼光譜的定量分析
一、激光拉曼光譜定量分析原理由 Placzek理論可知,當氣體樣品中含N個分子,并以90°方式收集散射光時,斯托克斯拉曼譜帶的強度I由下列方程式表示:? ? ? ? ? (1)式中,K是系數,其值僅和方程中其他量所取單位有關;I0和ν0是激發光的強度和頻率;ν是分子的簡正振動頻率;K是 Boltzm
能量色散和波長色散X熒光光譜儀比較和說明
1、測量精度：波長色散類X熒光光譜儀有其固有的高分辨率和高精度，能提供極高的穩定性和優良的分析精度，但對樣品的形狀和制備方法有所要求；能量色散X熒光光譜儀如果經過精心的設計和方法優化，也可提供行業接受的測量結果，它的一個優點是可以在不對樣品進行處理的情況下給出可供參考的數據。目前波長色散類儀器也已經
簡介能量色散譜儀的原理
能量色散譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點，將其分開并檢測，不必使用分光晶體，而是依靠半導體探測器來完成。這種半導體探測器有鋰漂移硅探測器，鋰漂移鍺探測器，高能鍺探測器等。X光子射到探測器后形成一定數量的電子-空穴對，電子-空穴對在電場作用下形成電脈沖，脈沖幅度與X光子的能量成正比。在一段時
波長色散型和能量色散型XRF的相關介紹
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射 線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。 因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型: 波長色
波長色散X射線熒光光譜儀的特點
它的工作原理是：試樣受X射線照射后，元素的原子內殼層電子被激發，并產生殼層電子躍遷而發射出該元素的特征X射線，通過探測器測量元素特征X射線的波長（能量）的強度與濃度的比例關系，便可進行定量分析?? 波長色散X射線熒光光譜儀的特點是什么呢？?? 1.可用于固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析?? 2
波長色散X射線熒光光譜儀簡介
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。 優點： 不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高,樣品制備簡單。
波長色散X射線熒光光譜儀簡介
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。
波長分散譜儀簡介
在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2方向上被（與分光晶體以2：1的角速度同步轉
生化儀雙波長測定中輔助波長的選擇
雙波長的應用是為了消除樣品中對測定有干擾的物質的影響,而實際應用中選擇輔助波長主要用于消除脂血、溶血、黃疸的干擾。脂血樣品中的脂質吸收光譜從300～600ｎｍ均有吸收,呈逐漸下降的趨勢；溶血樣品中的血紅蛋白在350ｎｍ、400ｎｍ、540ｎｍ、580ｎｍ有4個吸收峰；黃疸樣品中的膽紅素在300
實驗室分析方法紅外光譜定量分析測量、操作條件的選擇
（一）定量譜帶的選擇理想的定量譜帶應是孤立的，吸收強度大，遵守吸收定律，不受溶劑和樣品其他組分干批，盡量避免在水蒸氣和CO2的吸收峰位置測量。當對應不同定量組分而選擇兩條以上定量帶時，譜帶強度應盡量保持在相同數量級，對于固體樣品，由于散射強度和波長有關，所以選擇的譜帶最好在較窄的波數范圍內。（二）溶
如何確定質譜定量分析選擇依據
使試樣中各組分電離生成不同荷質比的離子，經加速電場的作用，形成離子束，進入質量分專析器，利用電場和磁場使屬發生相反的速度色散——離子束中速度較慢的離子通過電場后偏轉大，速度快的偏轉小；在磁場中離子發生角速度矢量相反的偏轉，即速度慢的離子依然偏轉大，速度快的偏轉小；當兩個場的偏轉作用彼此補償時，它
波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的區別
多數人到現在還不清楚如何的區分波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡單的介紹兩者之間的原理結構，一分鐘快速掌握其中的奧秘。 日本理學大功率臺式波長色散X射線熒光光譜儀 新型Supermini200擁有改良的軟件功能和更
波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的區別
多數人到現在還不清楚如何的區分波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡單的介紹兩者之間的原理結構，一分鐘快速掌握其中的奧秘。 日本理學大功率臺式波長色散X射線熒光光譜儀 新型Supermini200擁有改良的軟件功能和更
波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的區別
多數人到現在還不清楚如何的區分波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡單的介紹兩者之間的原理結構，一分鐘快速掌握其中的奧秘。 日本理學大功率臺式波長色散X射線熒光光譜儀 新型Supermini200擁有改良的軟件功能和更
能量色散譜儀的工作原理簡介
能量色散譜儀(energy dispersive spectxrmleter: EDS)是x射線能譜分析的一種儀器。在電子與物質相互作用時，采用能聚焦的入射電子可以激發初級x射線，不同元素發射出來的特征x射線波長不同，能量也不同。利用x射線能量不同而展譜一般稱為x射線能譜分析或能量色散x射線分析
能量色散譜儀的概述和特點
能量色散譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點，將其分開并檢測，不必使用分光晶體，而是依靠半導體探測器來完成。這種半導體探測器有鋰漂移硅探測器，鋰漂移鍺探測器，高能鍺探測器等。X光子射到探測器后形成一定數量的電子-空穴對，電子-空穴對在電場作用下形成電脈沖，脈沖幅度與X光子的能量成正比。在一段時
波長色散式X射線熒光光譜儀的簡介
布拉格角范圍：13到98度28波 分析晶體：氟化鋰200，可選其他晶體 元素范圍：Kα 22-48（鈦到銀） 元素范圍：Lα 56-92（鋇到鈾） 準直器: 20千分之一發散 （探源） 檢測器：10千分之一接收 X-射線探源：X-射線管、鎢電極、鈹窗 X-射線管電壓：30KV連續電壓 X-射線管