X射線熒光光譜儀無標樣分析方法
對于以固體進樣為主的X射線熒光分析技術，要獲得一套高質量的固體標準樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應用范圍。 而X射線熒光光譜無標樣分析技術是20世紀90年代推出的新技術，其目的是不用標準樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測量標準樣品，儲存強度和工作曲線，然后將這些數據轉到用戶的X射線熒光分析系統中，并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移。因此，無標樣分析不是不需要標樣，而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來做，用戶將用戶儀器和廠家儀器之間的計數強度差異進行校正。其優點是采用了制造商的標樣、經驗與知識，包括測量條件，自動譜線識辨，背景扣除，譜線重疊校正，基體校正等。無標樣分析技術可以在沒有標準樣品的情況下分析各種樣品中的七十幾個元素，應用范圍較廣，但其適用性也帶來了分析準確度的局限性。 商檢系統已經將X射線熒光光譜無標樣分析技術應用到了進出口的金屬材料和礦產品的檢驗中。尤其在進口鐵礦中涉及安全衛生環保要......閱讀全文
X射線熒光光譜儀無標樣分析方法
對于以固體進樣為主的X射線熒光分析技術，要獲得一套高質量的固體標準樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應用范圍。 而X射線熒光光譜無標樣分析技術是20世紀90年代推出的新技術，其目的是不用標準樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測量標準樣品，儲存強度和工作曲線，然后將這些數據
X射線熒光光譜儀制樣要求
X射線熒光光譜儀制樣要求：? 樣品的尺寸(直徑x高)50x 40mm，重量400g。? 1、定量分析? 定量分析是對樣品中元素進行準確定量測定。定量分析需要一組標準樣品做參考。常規定量分析一般需要5個以上的標準樣品才能建立較可靠的工作曲線。? 常規X射線熒光光譜定量分析對標準樣品的基本要求：
X?射線熒光制樣方法淺談（一）
導言： 第13期的論壇線上講座還未結束,第14期的線上講座又接踵而至,本期講座我們邀請了XRF版面的專家ljzllj先生就?XRF制樣的方法與大家一起交流切磋。ljzllj先生一直從事XRF儀器的應用等各方面的研究工作。對XRF的儀器比較熟悉。歡迎大家就X?射線熒光制樣方法的問題前來提問，也歡迎XR
X?射線熒光制樣方法淺談（二）
一、概論 X?射線熒光光譜法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性；用于制作校準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過?程。X?射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布
X射線熒光光譜儀的分析方法介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點，分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。X射線熒光光譜法有如下特點：?分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方
X射線熒光光譜儀的分析方法介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點，分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。X射線熒光光譜法有如下特點：?分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方
X熒光光譜儀制樣方法
一、X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。 X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度
X射線熒光光譜儀原理分析
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集
X射線熒光光譜儀X射線防護系統的故障分析
為了防止X射線泄漏，高壓發生器只有在射線防護系統正常的情況下才能啟動。射線防護系統正常與否，主要檢查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射線熒光光譜儀是一個封閉系統，面板是最外層的射線防護裝置，如果有一塊面板不到位，儀器就有射線泄漏的可能。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器，面板沒有完全合
X射線熒光光譜儀X射線防護系統故障分析
為了防止X射線泄漏，高壓發生器只有在射線防護系統正常的情況下才能啟動。射線防護系統正常與否，主要檢查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射線熒光光譜儀是一個封閉系統，面板是最外層的射線防護裝置，如果有一塊面板不到位，儀器就有射線泄漏的可能。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器，面板沒有完全合上
微區成分的X射線能譜無標樣定量分析簡化模型
本文對作者建立的微區成分無標樣定量分析法進行了簡化,使原有的計算量大為減少。用簡化模型對Cu-Si,FeS2,NaCl,GaAs試樣和多元鋼樣原實驗數據進行了定量計算,并與原模型多元程序計算結果進行比較。結果表明,這種簡化是合理的。?
多元氧化物成分的無標樣x射線能譜定量分析
本文將多元合金成分的無標樣x射線能譜定量分析方法推廣到有固定化合價的氧化物成分的分析。對MgAl2O4、YAG(Y3Al5O12)、La2Ti2O7、YIC(Y3Fe5O12)、GGG(Gd3Ga5O12、Mn0.6Zn0.4Fe2O4和NaxWO3（x=0.68）等氧化物成分的分析,除了Na的誤差
X射線熒光分析方法的簡介
X射線熒光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時，除發生散射現象和吸收現象外，還能產生次級X射線，即熒光X射線。熒光X射線的波長只取決于物質中原子的種類。因此，根據熒光X射線的波長就可確定物質的元素組分；再根據該熒光X射線的強度，還可定量分析所屬元素的含量。20世紀50年代開始發展，6
X射線熒光光譜儀中X射線的由來和性質分析
X射線熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所
X射線熒光光譜儀X射線防護系統出現故障可以怎么樣解決
X射線熒光光譜儀是一種常用的光譜儀產品，可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分
X射線熒光光譜儀檢測分析原理
X射線熒光光譜分析儀可以對各種樣品的元素組成進行定量分析，包括壓片、融珠、粉末液體、甚至是龐大的樣品。它使用一種高功率X射線管達到了檢測限低和測量時間短的效果。具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。 X射線熒光光譜分析儀物理原理 當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生
X熒光光譜儀制樣方法詳談
一、X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分
X熒光光譜儀制樣方法（一）
一、X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。X?射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是
X熒光光譜儀制樣方法（三）
粉末樣品誤差主要來源：（1）?粒度效應?粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強度越高，輕元素尤甚。原子序數越小，對粒度越敏感；同一元素粒度越小，制樣穩定性越好。一般要求粒度小于200?目。（2）?偏析?偏析是指組分元素在樣
X熒光光譜儀制樣方法（二）
制備固體樣品時要注意：（1）?樣品的分析面不能有氣孔，析出物和多孔質現象。（2）?防止偏析。造成偏析的因素：合金的組成和密度；鑄模的材料、形狀和厚度；合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。（3）?樣品的冷卻速度。當樣品化學組成相同由于熱過程不同測得的X?射線強度不同，含C?量高的鋼鐵樣品這
X熒光光譜儀制樣方法詳談
一、固體樣品1、固體樣品的主要缺點是，一般情況下不能采用各種添加法：如標準添加（或稀釋）法、低（或高）吸收稀釋法、內標法等。若所有樣品中已經含有適當的、一定濃度的內標元素，則上述的最后兩種方法還是可用的。另外，也不能進行化學濃縮和分離。表面結構和成分有時也難取得一致。可能弄不到現成的標樣，而人工合成
X射線熒光光譜儀定量分析方法簡介
X射線熒光光譜法是一種相對分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強度，要找到熒光強度與樣品濃度的關系，需要一套高質量的標準樣品，根據元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強度按一定關系進行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎測試同類型樣品元素的組成和含量。
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
X射線熒光分析方法的優點介紹
①分析的元素范圍廣，除少數輕元素外，周期表中幾乎其他所有的元素都能進行分析。隨著儀器的改進，分析元素已經擴展到F，O，C等輕元素。 ②熒光X射線譜簡單，譜線干擾少，對于化學性質極其相似的元素，如稀土、鋯鉿、鉑系等，不需經過復雜的分離，就能成功地完成分析工作。 ③分析的濃度范圍較寬，從常量組分