關于XRF的波長介紹
元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下: λ=K(Z? s) ?2 式中K和S是常數。......閱讀全文
關于XRF的波長介紹
元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下: λ=K(Z? s) ?2 式中K和S是常數。
關于XRF的優點介紹
分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2-5分鐘就可以測完樣品中的全部元素。 非破壞性。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。 分析精密度高。制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 測試元素范圍大，WDX可在p
波長色散型和能量色散型XRF的相關介紹
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射 線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。 因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型: 波長色
關于XRF儀器的原理介紹
X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。 X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。 XRF工作
關于XRF儀器的特點介紹
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
關于XRF的發展歷程介紹
1895年倫琴發現X射線； 1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎； 20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段； 60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅速發展，并使現場和原位X射線光譜分析成為可能
關于XRF的缺點和不足介紹
a)難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。 b)對輕元素的靈敏度要低一些。 c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
關于XRF的詳細信息介紹
X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管
關于XRF的應用領域介紹
XRF是一種確定各種材料化學組成的一種分析方法。被測材料可以是固體、液體、粉末或其它形式。XRF還可測定鍍層和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、準確度高、不破壞樣品及樣品前處理簡單等特點。應用范圍廣泛，涉及金屬、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及礦物、地質和環境等領域，在醫藥研究方面，XR
關于XRF的基本原理介紹
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍
關于濾光片波長的介紹
能從紫外到紅外任意波長﹑λ為 1～500埃的各種干涉濾光片。金屬－介質膜濾光片的峰值透射率不如全介質膜高，但后者的次峰和旁帶問題較嚴重。薄膜干涉濾光片中還有一種圓形或長條形可變干涉濾光片，適宜于空間天文測量。此外，還有一種雙色濾光片，它與入射光束成45°角放置，能以高而均勻的反射和透射率將光束分
關于XRF光譜儀的物理原理介紹
當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質
關于反射鏡的波長的介紹
般的光源是由不同波長的單色光所混合而成的復色光，所謂的“單色光”是指白光或太陽光經三菱鏡折射所分離出光譜色光--紅、橙、黃、綠、藍、靛、紫等七個顏色，因為這種被分解的色光，即使再一次通過三菱鏡也不會再分解為其他的色光，所以將這種不能再分解的色光叫做單色光；而由“單色光”所混合的光稱為“復色光”。
關于XRF的儀器分類
根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也X射線熒光分析就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。 通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式
關于XRF元素定量分析的問題介紹
1) 不同的元素激發和探測效率不同，有的元素很容易激發和檢測，有的元素很難激發和檢測，那么強度和含量的關系大不相同。 2) X射線熒光光譜分析中一個重要的難點是解決元素之間的吸收增強效應的問題。 最簡單的方法當然是采用標準樣品，通過檢測標準樣品的熒光強度，在熒光強度和含量之間通過最優化算法（
單波長XRF在鋰電池負極材料元素分析的應用
一、 應用概述 鋰電池負極材料中的雜質元素直接影響電池的充放電性能，石墨是主流的鋰電池負極材料。隨著鋰離子電池對性能的要求提升，對于負極材料中雜質元素的限值越來越低，常規使用ICP-OES分析負極材料中雜質元素，樣品處理復雜和費時費力，滯后于生產質量控制要求，且無法分析痕量的Si、P、S、Cl
XRF分析的基本介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
關于XRF的理論基礎
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子
關于XRF的基本分析
當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時放射出次級X射線光子，此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的。 根據
關于XRF的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
關于XRF光譜儀的化學分析介紹
主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀
關于紅外溫度計的波長范圍的介紹
目標材料的發射率和表面特性決定測溫儀的光譜響應或波長。對于高反射率合金材料,有低的或變化的發射率。在高溫區,測量金屬材料的最佳波長是近紅外,可選用0.18-1.0μm波長。其他溫區可選用1.6μm、2.2μm和3.9μm波長。由于有些材料在一定波長是透明的,紅外能量會穿透這些材料,對這種材料應選
關于X射線的波長和能量的相關介紹
1、X射線的波長 元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下： λ=K(Z? s) ?2 式中K和S是常數。 2、X射線的能量 而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或
XRF鍍層測厚儀的組成介紹
XRF光譜儀的主要部件組成為X射線管、光圈、探測器、對焦系統、相機以及樣品臺。如上圖所示。X射線管是儀器的一部分，產生照射樣品的X射線。光圈是引導X射線指向樣品的裝置的第一部分。XRF儀器中的光圈將決光斑尺寸，正確的光圈選擇對精密度和測量效率至關重要。探測器與相關電子設備一并處理從樣品中激發出的
XRF鍍層測厚儀的相關介紹
XRF鍍層測厚儀對焦系統確保每次測量中X射線管、零部件和探測器間的X射線可測量且幾何光路連續一致；否則會導致結果不準確。XRF鍍層測厚儀相機幫助用戶精確定位測量區域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以精確定位需要測量的區域。樣品可放置于固定或可移動的XRF鍍層測厚儀樣
選擇XRF技術的優勢介紹
相比其他分析技術，XRF具有許多優勢。 其速度較快。能夠測量多種類型的元素及其在不同類型材料中的含量濃度。此外，其屬于非破壞性技術，僅需制備少量樣品甚至完全不需要制備樣品，因此，其相比其他技術成本較低。 這也就是為什么全球這么多人選擇使用XRF技術進行日常的材料分析工作。
XRF鍍層測厚儀的技術介紹
XRF技術的最小檢測厚度為大約1nm。如果低于這個水平，則相應的特征X射線會淹沒于噪聲信號中，無法對其進行識別。最大范圍約為50μm左右。如果在該水平之上，則鍍層厚度將導致內層發射的X射線無法穿透鍍層而到達探測器。即厚度的任何進一步增加都不會導致更多的X射線到達探測器，因此厚度達到飽和無法測出變
XRF分析技術的相關介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
XRF的能量相關信息介紹
而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光子具有的能量為: E=hν=h C/λ 式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。 因此，只要測出熒光X射線的波長或者能量，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外
關于XRF的定量分析
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比： （10.2） 式中， 為 =100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似