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  • 關于XRF的定量分析

    X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比: (10.2) 式中, 為 =100%時,該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2),可以采用標準曲線法,增量法,內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似,否則試樣的基體效應或共存元素的影響,會給測定結果造成很大的偏差。所謂基體效應是指樣品的基本化學組成和物理化學狀態的變化對X射線熒光強度所造成的影響。化學組成的變化,會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收,也會改變熒光增強效應。例如,在測定不銹鋼中 和 等元素時,由于一次X射線的激發會產生 熒光X射線, 在樣品中可能被 吸收,使 激發產生 ,測定 i時,因為Fe的吸收效應使結果偏低,測定 時,由于熒光增強效應使結果偏高。但是,配置相同的基體又幾乎是不可能的。為克服這個問題,目前 射熒光光譜定量方法一般采用基本參數法。該辦法是在考慮各......閱讀全文

    關于XRF的定量分析

      X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比:   (10.2)  式中, 為 =100%時,該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2),可以采用標準曲線法,增量法,內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似

    關于XRF元素定量分析的問題介紹

      1) 不同的元素激發和探測效率不同,有的元素很容易激發和檢測,有的元素很難激發和檢測,那么強度和含量的關系大不相同。  2) X射線熒光光譜分析中一個重要的難點是解決元素之間的吸收增強效應的問題。  最簡單的方法當然是采用標準樣品,通過檢測標準樣品的熒光強度,在熒光強度和含量之間通過最優化算法(

    XRF定量分析的基本信息介紹

      X射線熒光光譜儀(XRF)是用于元素定量分析的儀器,廣泛應用于鋼鐵、水泥、石油化工、環境保護、材料等各個領域,其在制樣方便、無損、快速等方面優于其它分析方法,但其在定量精度和樣品適應范圍等方面一直受到挑戰。  當前XRF廣泛應用的領域往往具備三個特點:一是樣品基體相對穩定,二是分析元素種類有限,

    XRF測試儀的定性及定量分析

    主要是指測試的精確度,一般來說XRF的測試精度比較低,一般測試結果做得比較理想的情況都有10%以上的誤差,同時看在應用在哪些方面的測試,測什么基材的什么元素,本底的影響等。一般是定性分析,現在XRF應用在ROHS比較多,它主要來進行定性分析,看看是否達到ROHS標準要求。當然如果要求不高的百分比的含

    XRF測試儀的定性及定量分析

    主要是指測試的精確度,一般來說XRF的測試精度比較低,一般測試結果做得比較理想的情況都有10%以上的誤差,同時看在應用在哪些方面的測試,測什么基材的什么元素,本底的影響等。一般是定性分析,現在XRF應用在ROHS比較多,它主要來進行定性分析,看看是否達到ROHS標準要求。當然如果要求不高的百分比的含

    XRF元素定量分析的經驗系數法介紹

      經驗系數法不可避免的問題是離不開標準樣品,如果存在元素之間的吸收增強效應,為了通過最優化算法得到元素之間互相的影響系數,需要的標準樣品的個數會更多。即使有足夠多的合格標準樣品(通常是比較難的),得到的數學模型的適用范圍也會受限,通常不能超出標樣涵蓋的范圍。之所以多數X射線熒光分析儀分析的元素種類

    XRF測試儀的定性及定量分析

    主要是指測試的精確度,一般來說XRF的測試精度比較低,一般測試結果做得比較理想的情況都有10%以上的誤差,同時看在應用在哪些方面的測試,測什么基材的什么元素,本底的影響等。一般是定性分析,現在XRF應用在ROHS比較多,它主要來進行定性分析,看看是否達到ROHS標準要求。當然如果要求不高的百分比的含

    XRF測試儀的定性及定量分析

    主要是指測試的精確度,一般來說XRF的測試精度比較低,一般測試結果做得比較理想的情況都有10%以上的誤差,同時看在應用在哪些方面的測試,測什么基材的什么元素,本底的影響等。一般是定性分析,現在XRF應用在ROHS比較多,它主要來進行定性分析,看看是否達到ROHS標準要求。當然如果要求不高的百分比的含

    XRF測試儀的定性及定量分析

    主要是指測試的精確度,一般來說XRF的測試精度比較低,一般測試結果做得比較理想的情況都有10%以上的誤差,同時看在應用在哪些方面的測試,測什么基材的什么元素,本底的影響等。一般是定性分析,現在XRF應用在ROHS比較多,它主要來進行定性分析,看看是否達到ROHS標準要求。當然如果要求不高的百分比的含

    XRF元素定量分析要解決的問題有哪些?

      1) 不同的元素激發和探測效率不同,有的元素很容易激發和檢測,有的元素很難激發和檢測,那么強度和含量的關系大不相同。  2) X射線熒光光譜分析中一個重要的難點是解決元素之間的吸收增強效應的問題。  最簡單的方法當然是采用標準樣品,通過檢測標準樣品的熒光強度,在熒光強度和含量之間通過最優化算法(

    XRF定量分析對標樣有什么要求

    XRF 定量分析對標樣要求一定的濃度范圍。a)?X射線用于元素分析,是一種新的分析技術,但在經過二十多年的探索以后,現在已完全成熟,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外,還與這種元素在樣品中的含量有關。c

    重晶石和硼酸鈣的XRF定量分析方法研究

    核反應堆運行中產生α、β、γ射線、中子及質子流等,為防止核輻射對工作人員及其周圍環境的傷害,核電站采用了兩種防射線混凝土:一種是抵御γ射線為主的以重晶石為骨料的重晶石高密度混凝土,另一種是以防御中子射線為主的含硼酸鈣的褐鐵礦混凝土,因此,對重晶石和硼酸鈣的質量控制就顯得十分重要。其中重晶石的主要檢測

    關于XRF的優點介紹

      分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2-5分鐘就可以測完樣品中的全部元素。  非破壞性。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。  分析精密度高。制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。  測試元素范圍大,WDX可在p

    關于XRF的波長介紹

      元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷,同時發射出具有一定特殊性波長的X射線,根據莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關系如下:  λ=K(Z? s) ?2  式中K和S是常數。

    關于XRF的儀器分類

      根據分光方式的不同,X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類,也X射線熒光分析就是通常所說的能譜儀和波譜儀,縮寫為EDXRF和WDXRF。  通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析,相應的儀器稱之為能譜儀,通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式

    如何利用XRF鹵素檢測儀器進行定量分析?

     如何利用XRF鹵素檢測儀器進行定量分析?  在包含某種元素1的樣品中,照射一次X射線,就會產生元素1的熒光X射線,不過這個時候的熒光X射線的強度會隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多,熒光X射線的強度就會變強。注意到這一點,如果預先知道已知濃度樣品的熒光X射線強度,就可以推算出樣品中

    關于XRF儀器的原理介紹

      X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(X-熒光)。  X射線是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。  XRF工作

    關于XRF的理論基礎

      熒光,顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。  從原子物理學的知識我們知道,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子

    關于XRF的定性分析

      不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長,因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀,對于一定晶面間距的晶體,由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ,從而確定元素成分。事實上,在定性分析時,可以靠計算機自動識別譜線,給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干

    關于XRF的基本分析

      當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位,原子內層電子重新配位,較外層的電子躍遷到內層電子空位,并同時放射出次級X射線光子,此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差,因此,X射線熒光的波長對不同元素是特征的。  根據

    關于XRF儀器的特點介紹

      X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高,對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2~3數量級,靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。

    關于XRF的發展歷程介紹

      1895年倫琴發現X射線;  1910年特征X射線光譜的發現,為X射線光譜學的建立奠定了基礎;  20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世,使得X射線光譜學技術進入了實用階段;  60年代能量色散型X射線光譜儀的出現,促進了X射線光譜學儀器的迅速發展,并使現場和原位X射線光譜分析成為可能

    關于XRF的應用領域介紹

      XRF是一種確定各種材料化學組成的一種分析方法。被測材料可以是固體、液體、粉末或其它形式。XRF還可測定鍍層和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、準確度高、不破壞樣品及樣品前處理簡單等特點。應用范圍廣泛,涉及金屬、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及礦物、地質和環境等領域,在醫藥研究方面,XR

    關于XRF的缺點和不足介紹

      a)難于作絕對分析,故定量分析需要標樣。  b)對輕元素的靈敏度要低一些。  c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

    關于XRF的詳細信息介紹

      X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X-Ray Fluorescence),而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管

    關于XRF的基本原理介紹

      當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為10-12-10-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍

    XRF

    能量色散X熒光光譜儀,簡稱XRF,是一種物理的元素分析方法,具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢,在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。可應用于:1、歐盟RoHS指令限定有害元素檢測: 鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻

    關于定量分析的理論介紹

      定量分析的理論基石是實證主義。從研究的邏輯過程看,定量分析比較接近于假說-演繹方法的研究,既保留重視觀察實驗、收集經驗資料的特點,又保留重視邏輯思維演繹推理的特點,應用假說使得觀察實驗方法和數學演繹形式結合起來。正因為這樣,定量分析往往比較強調實物的客觀性及可觀察性,強調現象之間與各變量之間的相

    關于定量分析的分類介紹

      一、定量分析根據分析方法性質分類  根據分析方法性質的不同,可分為化學分析法和儀器分析法。  化學分析法:是依賴于特定的化學反應及其計量關系來對物質進行分析的方法。  儀器分析法:儀器分析是分析化學中一個重要分支,該方法利用特定的儀器,可以對物質進行定性、定量分析。  二、定量分析根據取樣量分類

    關于定量分析的特征介紹

      一、定量分析的主要特征:實證性,明確性,客觀性。  二、定量分析的定性與定量:  定性分析與定量分析應該是統一的,相互補充的;定性分析是定量分析的基本前提,沒有定性的定量是一種盲目的、毫無價值的定量;定量分析使定性分析更加科學、準確,它可以促使定性分析得出廣泛而深入的結論。  定量分析是依據統計

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