高低溫全自動探針臺Opus3SLT共享
儀器名稱：高低溫全自動探針臺-Opus 3 SLT儀器編號：22007413產地：韓國生產廠家：Semics Inc.型號：Opus 3 SLT出廠日期：購置日期：2022-06-30所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>高精尖放置地點：荷清大廈高精尖一層實驗室固定電話：010-62799552-1168固定手機：15210967285固定email：jtyang@mail.tsinghua.edu.cn聯系人：楊建濤（010-61453947,15210967285,jtyang@mail.tsinghua.edu.cn）王艷平（010-66668888,15010148547,yanpingwang1009@mail.tsinghua.edu.cn）分類標簽：集成電路技術指標：卡盤（Chuck）能承載200KG。配備OCR影像識別及自動對針系統。對針鏡頭為對準探針的上看方式，完全自動，量產不需要每次人工對準配備G......閱讀全文
高低溫全自動探針臺Opus－3－SLT共享
儀器名稱：高低溫全自動探針臺-Opus 3 SLT儀器編號：22007413產地：韓國生產廠家：Semics Inc.型號：Opus 3 SLT出廠日期：購置日期：2022-06-30所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>高精尖放置地點：荷清大廈高精尖一層實驗室固定電話：010-62799552-1
高低溫真空探針臺簡介
高低溫真空探針臺，是一款為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測試條件下進行非破壞性的電學表征和測量平臺。 高低溫真空探針臺在不同測試環境、不同溫度條件下可對微結構半導體器件、微電子器件及材料進行電學特性表征測試。 SCG系列高低溫真空探針臺
高低溫真空微波探針臺
高低溫真空微波探針臺是一種用于電子與通信技術領域的工藝試驗儀器，于2016年10月16日啟用。 技術指標 1、六個探針臂接口，可以安裝六個探針臂。2、一個CF40 真空抽氣口，一個快速破真空進氣口。3、載物Chuck 溫度范圍：4K-500K ；CF法蘭接口，系統極限真空優于5*10-6Pa
高低溫真空磁場探針臺簡介
高低溫真空磁場探針臺是具備提供高低溫、真空以及磁場環境的高精度實驗臺，它的諸多設計都是專用的。因此，高低溫磁場探針臺的配置主要是根據用戶的需求進行選配及設計。例如，要求的磁場值，均勻區大小、均勻度大小、樣品臺的尺寸等，均于磁力線在一定區域內產生的磁通密度相關聯；位移臺還可與磁流體密封搭配，實現水
高低溫真空探針臺產品概述
可進行真空環境下的高低溫測試（4.2K~500K），可升級加載磁場，低溫防輻射屏設計，樣品臺采用高純度無氧銅制作，溫度均勻性更好，溫度傳感器采用有著良好穩定性和重復性的PT100或者標定過的硅二極管作為測溫裝置，支持光纖光譜特性測試，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動，器件的高頻特性(支持高67GHz
手動探針臺Semishare－SH12共享應用
儀器名稱：手動探針臺-Semishare SH-12儀器編號：18026682產地：中國生產廠家：森美協爾型號：Semishare SH-12出廠日期：購置日期：2018-10-25所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>高精尖放置地點：荷清大廈高精尖一層實驗室固定電話：固定手機：1521096728
JKLS500原位拉伸冷熱臺/高低溫探針臺
JK-LS500原位拉伸冷熱臺/高低溫探針臺原位拉伸冷熱臺是一款研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。原位拉伸冷熱臺 JK-LS500采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃溫度下材料的動態應力應變特性測試，可與顯微分析、電學分析相結合。原位拉伸冷熱臺 FS500需要與溫度控制器、
顯微探針臺Cascade－EPS150FA共享應用
儀器名稱：顯微探針臺-Cascade EPS150FA儀器編號：18030302產地：中國生產廠家：Cascade型號：EPS150FA出廠日期：購置日期：2018-11-15所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>高精尖放置地點：荷清大廈A座一層固定電話：010-62799552-1168固定手機：
探針臺的高精度探針臺
目前世界出貨量第一的型號吸收了最新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關技術，這種全新的高精度系統為下一代小型化的設計及多種測試條件提供保證。特性1：OTS-最近的位置對正系統（光學目標對準） OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術，來源于東京精密的度量技
大功率探針臺MPI－TS2000HP共享
儀器名稱：大功率探針臺-MPI TS2000HP儀器編號：22013848產地：中國臺灣生產廠家：MPI CORPORATION型號：TS2000-HP出廠日期：購置日期：2022-08-12所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>高精尖放置地點：荷清大廈A座一層實驗室固定電話：010-6279955
高頻半自動探針臺Cascade－Summit－12000BM共享
儀器名稱：高頻半自動探針臺-Cascade Summit 12000B-M儀器編號：19000171產地：德國生產廠家：Cascade型號：出廠日期：購置日期：2020-04-24所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>高精尖放置地點：荷清大廈高精尖一層實驗室固定電話：固定手機：13671270461
高低溫真空探針臺主要是做什么的
高低溫真空探針臺可以對器件進行非破壞性的測試。它可以對材料或器件的電學特性測量、光電特性測量、參數測量、high Z測量、DC測量、RF測量和微波特性測量提供一個測試平臺。優測國芯的高低溫真空探臺該設備已經成為測量納米電子材料（碳納米管、晶體管、單個電子晶體管、分子電子材料、納米線），量子線、點、量
直流半自動探針臺Cascade－Summit－12000BM共享應用
儀器名稱：直流半自動探針臺-Cascade Summit 12000B-M儀器編號：19000811產地：德國生產廠家：Cascade型號：Summit 12000B-M出廠日期：購置日期：2019-08-15所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>高精尖放置地點：荷清大廈高精尖一層實驗室固定電話：固
探針臺分類
探針臺從操作上來區分有：手動，半自動，全自動 從功能上來區分有：溫控探針臺，真空探針臺（超低溫探針臺），RF探針臺，LCD平板探針臺，霍爾效應探針臺，表面電阻率探針臺 經濟手動型 根據客戶需求定制 chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選） X-Y移動
什么是探針臺，探針臺的分類有哪些？
探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。 探針臺分類 探針臺從操作上來區分有：手動，半自動，全自動 從功能上來區分有：溫控探針臺，真空探針臺（超低溫探針臺），RF
低溫探針臺用途
高低溫真空探針臺可以對器件進行非破壞性的測試。可以對材料或器件的電學特性測量、光電特性測量、參數測量、highZ測量、DC測量、RF測量和微波特性測量提供一個測試平臺。優測國芯的高低溫真空探臺該設備已經成為測量納米電子材料（碳納米管、晶體管、單個電子晶體管、分子電子材料、納米線），量子線、點、量子隧
探針臺如何工作
探針臺可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針尖端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針尖端都被設置在正確的位置，就可以對待測物進行測試。對于帶有多個芯片的晶圓，使用者可以抬起壓盤，壓盤將探針頭與芯片分開，然后將工作臺移到下一個芯片上，
高精度探針臺
目前世界出貨量第一的型號吸收了最新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關技術，這種全新的高精度系統為下一代小型化的設計及多種測試條件提供保證。 特性1：OTS-最近的位置對正系統（光學目標對準） OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術，來源于東京精密
探針臺的功能
1.集成電路失效分析 2.晶圓可靠性認證 3.元器件特性量測 4.塑性過程測試(材料特性分析) 5.制程監控 6.IC封裝階段打線品質測試 7.液晶面板的特性測試 8.印刷線路板的電性測試 9.低噪音/低電流測試 10.微波量測(高頻) 11.太陽能電池領域檢測分析 12.
探針臺如何工作？
探針臺可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針尖端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針尖端都被設置在正確的位置，就可以對待測物進行測試。對于帶有多個芯片的晶圓，使用者可以抬起壓盤，壓盤將探針頭與芯片分開，然后將工作臺移到下一個芯片
探針臺如何工作
探針臺可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針尖端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針尖端都被設置在正確的位置，就可以對待測物進行測試。對于帶有多個芯片的晶圓，使用者可以抬起壓盤，壓盤將探針頭與芯片分開，然后將工作臺移到下一個芯片上，
手動探針臺用途
探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。手動探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測
低溫探針臺用途
高低溫真空探針臺可以對器件進行非破壞性的測試。可以對材料或器件的電學特性測量、光電特性測量、參數測量、highZ測量、DC測量、RF測量和微波特性測量提供一個測試平臺。優測國芯的高低溫真空探臺該設備已經成為測量納米電子材料（碳納米管、晶體管、單個電子晶體管、分子電子材料、納米線），量子線、點、量子隧
高精度探針臺
目前世界出貨量第一的型號吸收了最新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關技術，這種全新的高精度系統為下一代小型化的設計及多種測試條件提供保證。 特性1：OTS-最近的位置對正系統（光學目標對準） OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術，來源于東京精密
磁場低溫探針臺
磁場低溫探針臺是一種用于物理學領域的計量儀器，于2017年3月6日啟用。 技術指標 1、 ±2.5T垂直磁場 2、 10K基礎溫度，溫度范圍：10K-500K 3、 制冷方式：閉循環制冷，不需要消耗液氦 4、 控溫穩定性：優于±200mK 5、 探針臂X方向可移動距離不小于51mm
探針臺的分類
探針臺可以按照使用類型與功能來劃分，也可以按照操作方式來劃分成：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺。 手動探針臺系統顧名思義是手動控制的，這意味著晶圓載物臺、顯微鏡以及定位器/操縱器都是由使用者手動移動的。因此一般是在沒有很多待測器件需要測量或數據需要收集的情況下使用手動探針臺。該類探針臺
國產濺射臺共享
儀器名稱：國產濺射臺儀器編號：02011815產地：中國生產廠家：中科院微電子中心自制型號：JS-3出廠日期：200107購置日期：200210所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>薄膜工藝放置地點：微電子所新所一層微納平臺固定電話：固定手機：固定email：聯系人：魏治乾（010-62781090
掃描探針顯微鏡共享
儀器名稱：掃描探針顯微鏡儀器編號：05017496產地：日本生產廠家：日本精工公司型號：SPI4000/SPA300HV出廠日期：200410購置日期：200512所屬單位：材料學院>新型陶瓷國家重點實驗室>王曉慧實驗室放置地點：逸夫樓2202固定電話：固定手機：固定email：聯系人：張輝（010
掃描探針顯微鏡共享
儀器名稱：掃描探針顯微鏡儀器編號：04001035產地：美國生產廠家：美國維易科精密公司型號：DI-3100出廠日期：200307購置日期：200402所屬單位：航院>強度與振動中心>電鏡室放置地點：103-105固定電話：固定手機：固定email：聯系人：華心（010-62772379,13701
簡介手動探針臺用途
探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。 手動探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配