聚焦前沿技術共探半導體痕量成分檢測新路徑
2025年7月17日，“質析毫微?譜繪萬象”半導體痕量成分檢測技術交流會在中國科學院上海應用物理研究所學術交流中心隆重舉行。本次會議由中國物理學會質譜分會、北京雪迪龍科技股份有限公司聯合主辦，中國科學院上海應用物理研究所、分析測試百科網、中國儀器儀表學會分析儀器分會質譜儀器專家組協辦，吸引了眾多科研院所、高校專家學者，半導體產業鏈企業技術負責人，檢測儀器研發精英等齊聚一堂，共同探討半導體檢測技術的前沿動態與國產化發展之路。半導體痕量成分檢測技術交流會參會人員合影半導體痕量成分檢測技術交流會 會議伊始，分析測試百科網總經理卞利萍女士作為本次盛會的主持人，用飽滿的熱情迎接各位與會嘉賓。隨后，中國物理學會質譜分會理事長方向、上海市科委科技基礎設施與平臺建設處處長張露璐、北京雪迪龍科技股份有限公司董事長敖小強以及中國科學院上海應用物理研究所所務委員黃鶴飛依次上臺發表精彩致辭，為本次會議拉開帷幕。中國物理學會質譜分會理事長 方向 ......閱讀全文
聚焦前沿技術－共探半導體痕量成分檢測新路徑
2025年7月17日，“質析毫微?譜繪萬象”半導體痕量成分檢測技術交流會在中國科學院上海應用物理研究所學術交流中心隆重舉行。本次會議由中國物理學會質譜分會、北京雪迪龍科技股份有限公司聯合主辦，中國科學院上海應用物理研究所、分析測試百科網、中國儀器儀表學會分析儀器分會質譜儀器專家組協辦，吸引了眾多
質析毫微·譜繪萬象——半導體痕量成分檢測技術交流會
由中國物理學會質譜分會，北京雪迪龍科技股份有限公司聯合主辦，中國科學院上海應用物理研究所，分析測試百科網，中國儀器儀表學會分析儀器分會質譜儀器專家組協辦的質析毫微·譜繪萬象——半導體痕量成分檢測技術交流會將于2025年7月17日在上海·中國科學院上海應用物理研究所學術交流中心舉行。 當前全球半
雪迪龍在京召開質譜技術應用研討會
2015年9月29日，由中國儀器儀表學會分析儀器分會和北京雪迪龍科技股份有限公司共同舉辦的質譜儀技術應用研討會在北京溫都水城召開，，會議邀請了十幾位業內知名的專家，對質譜技術的原理、應用等進行討論。 眾所周知，北京雪迪龍科技股份有限公司在今年6月收購了英國Kore
二次離子質譜SIMS應用：從半導體材料到生命科學
在2012年以前，汪福意研究員一直帶領團隊通過有機質譜，如電噴霧電離質譜(ESI-MS)、基質輔助激光解析電離質譜(MALDI-MS)等進行藥物相互作用組學研究、抗腫瘤藥物的研究和開發等工作。一次與生物學家偶然的討論給汪福意帶來了啟發，他萌生了使用高空間分辨率的二次離子質譜成像進行化
從劍橋實驗室到助力中國技術突破：Kore的TOF質譜技術演進史
1991年成立的Kore Technology，是國際飛行時間質譜儀領域的開拓者之一。自成立以來，Kore始終深耕飛行時間質譜儀領域，為全球高校、科研機構及工業用戶提供高端定制化解決方案。2015年，北京雪迪龍科技股份有限公司控股收購Kore公司，不僅豐富了雪迪龍在高端分析儀器領域的業務布局，也為K
雪迪龍TOFSIMS國產化項目正式啟動，開啟高端分析儀器自主創新新篇章
2025年9月17日，一場承載著高端分析儀器自主化突破使命的盛會——雪迪龍飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）國產化項目啟動儀式，在雪迪龍北京研發生產基地隆重舉行。該項目的正式啟動，不僅標志著雪迪龍在高端質譜儀器領域的國產化征程邁入關鍵階段，更為我國在半導體、新能源等戰略新興產業的核心檢測設備
二次離子質譜概述
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分子吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。 用一次離
二次離子質譜技術
海洋有機地球化學檢測方法二次離子質譜技術簡述 摘要：海洋有機地球化學是通過研究與還原性碳相關的物質來揭示海洋生態系的 結構、功能與演化的一門科學。由于其中的有機組分通常以痕量、復雜的混合物 形式存在，且是不同年齡、不同來源、不同反應歷史生源物質的集成產物，所以 總體分析困難較大。目前主要是從整體水平
二次離子質譜的原理
??? 二次離子質譜是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子，通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。它利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表
二次離子質譜的結構
??? 近年來，二次離子質譜這一前沿的分析技術越來越多地被用在了科學研究當中，應用范圍較為廣泛。然而，依然有很多小白對二次離子質譜的基本結構不太了解。那么二次離子質譜的組成結構是怎樣的呢？都有哪些功能和特點？今天小編就來簡單盤點一下。? 二次離子質譜主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次
二次離子質譜的特點
1.獲得樣品最表層1-3個原子信息深度信息； 2.可以檢測同位素，用于同位素分析 ； 3.達到ppm~ ppb級的探測極限。 4. 可以并行探測所有元素和化合物，離子傳輸率可以達到100%。 5.采用高效的電子中和槍，可以精確的分析絕緣材料。 6. 具有很小的信息深度（小于1nm）；可
質譜檢測原理
質譜法的原理如下：待測化合物分子吸收能量（在離子源的電離室中）后產生電離，生成分子離子，分子離子由于具有較高的能量，會進一步按化合物自身特有的碎裂規律分裂，生成一系列確定組成的碎片離子，將所有不同質量的離子和各離子的多少按質荷比記錄下來，就得到一張質譜圖。由于在相同實驗條件下每種化合物都有其確定的質
質譜檢測原理
質譜法的原理如下：待測化合物分子吸收能量（在離子源的電離室中）后產生電離，生成分子離子，分子離子由于具有較高的能量，會進一步按化合物自身特有的碎裂規律分裂，生成一系列確定組成的碎片離子，將所有不同質量的離子和各離子的多少按質荷比記錄下來，就得到一張質譜圖。由于在相同實驗條件下每種化合物都有其確定的質
質譜檢測mrm模式哪些離子干擾
正離子模式：[M+H]+、[M+NH4]+、[M+Na]+、[M+K]+、[2M+H]+等， 負離子模式：[M-H]-、[2M-H]-、[M+B]- （B是酸根離子）等。 負離子模式下也可以用甲酸或乙酸，流動相不用換。
二次離子質譜儀的質譜原理
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基于質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基于一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如圖1所示）。帶有幾千電子伏特能量的一次離子轟擊樣品表面，在轟擊的區域引發一系列物理及化學過程，包括一次離子散射及表面原子、原子
雪迪龍色譜儀可用于半導體電子氣體中部分痕量雜質的實時監測
每經AI快訊，有投資者在投資者互動平臺提問：公司有芯片，半導體相關業務嗎 雪迪龍（002658.SZ）11月16日在投資者互動平臺表示，目前公司色譜儀產品可用于半導體電子氣體中部分痕量雜質的實時監測，公司全資子公司比利時傲領公司可提供完整的半導體電子特氣分析解決方案，且具備豐富的項目經驗。未來
質譜檢測是什么
質譜檢測是一種與光譜并列的譜學方法。質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜分析是一種測量離子荷質比（電荷-質量比）的分析方法，其基本原理Joseph?John?Thomson是使試樣中各組分在離
質譜檢測是什么
質譜檢測是一種與光譜并列的譜學方法。質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜分析是一種測量離子荷質比（電荷-質量比）的分析方法，其基本原理Joseph?John?Thomson是使試樣中各組分在離
質譜檢測是什么
質譜檢測是一種與光譜并列的譜學方法。質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜分析是一種測量離子荷質比（電荷-質量比）的分析方法，其基本原理Joseph?John?Thomson是使試樣中各組分在離
質譜檢測是什么
質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜法在一次分析中可提供豐富的結構信息，將分離技術與質譜法相結合是分離科學方法中的一項突破性進展。在眾多的分析測試方法中，質譜學方法被認為是一種同時具備高特異性
質譜檢測是什么
質譜檢測是一種與光譜并列的譜學方法。質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜分析是一種測量離子荷質比（電荷-質量比）的分析方法，其基本原理Joseph?John?Thomson是使試樣中各組分在離
質譜檢測是什么
質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜法在一次分析中可提供豐富的結構信息，將分離技術與質譜法相結合是分離科學方法中的一項突破性進展。在眾多的分析測試方法中，質譜學方法被認為是一種同時具備高特異性
質譜檢測是什么
質譜檢測是一種與光譜并列的譜學方法。質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜分析是一種測量離子荷質比（電荷-質量比）的分析方法，其基本原理Joseph?John?Thomson是使試樣中各組分在離
質譜檢測是什么
質譜檢測是一種與光譜并列的譜學方法。質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜分析是一種測量離子荷質比（電荷-質量比）的分析方法，其基本原理Joseph?John?Thomson是使試樣中各組分在離
質譜檢測是什么
質譜檢測是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜法在一次分析中可提供豐富的結構信息，將分離技術與質譜法相結合是分離科學方法中的一項突破性進展。在眾多的分析測試方法中，質譜學方法被認為是一種同時具備高特異性和高靈敏度
質譜干擾離子
質譜儀種類很多，不同類型的質譜儀主要差別在于離子源。離子源的不同決定了對被測樣品的不同要求，同時，所得信息也不同。質譜儀的分辨率同樣十分重要，高分辨質譜儀可給出化合物的組成式，對于未知物定性至關重要。因此，在進行質譜分析前，要根據樣品狀況和分析要求選擇合適的質譜儀。 目前，
質譜干擾離子
質譜儀種類很多，不同類型的質譜儀主要差別在于離子源。離子源的不同決定了對被測樣品的不同要求，同時，所得信息也不同。質譜儀的分辨率同樣十分重要，高分辨質譜儀可給出化合物的組成式，對于未知物定性至關重要。因此，在進行質譜分析前，要根據樣品狀況和分析要求選擇合適的質譜儀。 目前，有機質譜儀主要有兩大
飛行時間二次離子質譜共享
儀器名稱：飛行時間二次離子質譜儀器編號：13027664產地：德國生產廠家：ION-TOF GmbH型號：TOF.SIMS 5出廠日期：2012.5購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：理科樓D-104固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-6
質譜圖的質譜中主要離子峰
從有機化合物的質譜圖中可以看到許多離子峰，這些峰的m/z和相對強度取決于分子結構，并與儀器類型，實驗條件有關。質譜中主要的離子峰有分子離子峰、碎片離子峰、同位素離子峰、重排離子峰及亞穩離子峰等。正是這些離子峰給出了豐富的質譜信息，為質譜分析法提供依據。分子受電子束轟擊后失去一個電子而生成的離子M+稱
質譜再布局，雪迪龍擬出資800萬元參與設立控股子公司！
8月5日，雪迪龍（002658）發布公告，公司擬與北京懷柔硬科技創新服務有限公司共同出資設立控股子公司懷眾質譜（北京）技術有限公司。控股子公司注冊資本為1000萬元，其中公司以自有資金出資800萬元，占控股子公司注冊資本的80.00%，懷柔硬科技公司出資200萬元，占20.00%。 控股子公司