澳大利亞要無償轉讓高端二次離子質譜技術中國卻犯難
82歲的劉敦一最近有了個新頭銜——敦儀（北京）科技發展有限公司（以下簡稱“敦儀科技”）董事長兼總經理。此前，他擔任國家科技基礎條件平臺北京離子探針中心主任多年，建設了以兩臺進口高靈敏度、高分辨率二次離子探針質譜（SHRIMP）為主體的大型科學儀器共享平臺，極大推動了我國地球科學的發展。北京離子探針中心目前在運行的SHRIMP儀器這一次，從科研院所到公司，從研究人員到總經理，劉敦一在耄耋之年的轉型是為了研發制造出我國自主知識產權的二次離子探針質譜儀。讓劉敦一欣喜的是，這一項目在圈內的被重視程度超出預期。近日召開的中國制造高分辨率二次離子質譜發布會暨首臺國產HR—SIMS研制項目啟動會，竟吸引了11位兩院院士，其中包括90歲的光學和儀器專家、中國工程院院士金國藩、89歲的地質學家、中國科學院院士李廷棟。到會的還有地球科學、核科學、生命科學等領域的著名專家20余名。他們都在關注，這一從澳大利亞落地到中國的大型儀器制造項目，能否成為推動......閱讀全文
擁有高端質譜核心技術的機會近在眼前－我們該如何運營
【導語】質譜技術在我國的最早應用應用與地質領域。半個世紀前的質譜以磁式質譜為主，其體積龐大，結構復雜，對儀器操作人員的要求極高；儀器使用者一定要熟知原理，甚至要自己會維修，這樣才能“玩”轉應用。“玩”了半個世紀質譜的劉敦一教授正是其中一位，而他不僅“玩”轉了超難的磁式質譜，還“玩”出了一個超高效
劉敦一：奉獻質譜60年－中國需長期支持質譜研發
導讀：2020-2023年中國質譜學術大會將于2023年6月9-13日在杭州舉辦，本次大會是中國質譜界的一次盛會，旨在促進學界團結進步、和諧發展、共贏未來，提高學術交流水平，推動質譜技術在各大科技領域的廣泛應用。大會由中國物理學會質譜分會聯合中國化學會質譜分析專業委員會和中國儀器儀表學會分析儀器分會
澳大利亞要無償轉讓高端二次離子質譜技術－中國卻犯難
82歲的劉敦一最近有了個新頭銜——敦儀（北京）科技發展有限公司（以下簡稱“敦儀科技”）董事長兼總經理。此前，他擔任國家科技基礎條件平臺北京離子探針中心主任多年，建設了以兩臺進口高靈敏度、高分辨率二次離子探針質譜（SHRIMP）為主體的大型科學儀器共享平臺，極大推動了我國地球科學的發展。北京離子探針中
二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。
SIMS(secondary－ion－mass－spectroscopy)二次離子質譜圖文
1.儀器介紹二次離子質譜（SIMS）是一種用于通過用聚焦的一次離子束濺射樣品表面并收集和分析噴射的二次離子來分析固體表面和薄膜的組成的技術。SIMS是最靈敏的表面分析技術，元素檢測限為百萬分之幾到十億分之一。Schematic of a typical dynamic SIMS instrument
二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。中文名 二次離子
硅中氧、碳的二次離子質譜(SIMS)分析
硅中氧、碳的二次離子質譜（SIMS）分析何友琴馬農農王東雪（電子材料研究所??天津?300192）摘?要?本文采用相對靈敏度因子法，對硅中氧、碳含量的SIMS定量分析方法進行研究。通過對樣品進行預濺射的方法，氧、碳的的檢測限分別可達到6.0e16atoms/cm3、2.0e16atoms/cm3。關
飛行時間二次離子質譜（TOFSIMS）研究
一、二次離子峰位歸屬煤及烴源巖中的有機組分的二次離子譜非常復雜，再加上目前對SIMS裂分機理掌握不夠，因此，對煤及源巖有機質的SIMS譜圖解釋存在很多問題。目前對TOF-SIMS常見碎片離子峰認識程度綜合于表7-7。本節研究重點是根據對現有峰位的認識，建立與13CNMR,Mirco-FT·IR可以類
劉敦一：儀器應用全球共享－中國的儀器研發要從高端入手
造自己的儀器從高端入手、緊跟應用需求 地質學研究需要高精尖的儀器，劉敦一教授領導的團隊不只是在使用最先進的儀器，同時也在研發我國自己的儀器，自主研發了二次離子質譜和串聯飛行時間質譜的關鍵部件和關鍵技術、新產品、新裝置和計算機軟件等19項，申報了18項ZL，已獲2項國內發明ZL和1項國外發明
北京離子探針中心離子探針質譜儀器研發進入攻堅階段
2010年1月16-17日，由北京離子探針中心主辦的“2009北京SHRIMP成果報告會”在京隆重舉行。中國科學院多位院士、政府相關部門負責人以及來自全國各地的地學界同仁等約100人出席了開幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流會”已經成為中國地學界同仁們進行學術交
二次離子質譜儀（SIMS）
二次離子質譜儀（SIMS）分析方法介紹美信檢測 失效分析實驗室 1.簡介?二次離子質譜儀（secondary ion mass spectroscopy，簡稱SIMS），是利用質譜法分析初級 離子入射靶面后，濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。二次離子質譜儀分 析對象包括金屬及合金、半導
動態二次離子質譜分析（DSIMS）
動態二次離子質譜分析（D-SIMS）1. 飛行時間二次離子質譜技術二次離子質譜技術（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，D-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子的質量來測定元素種類，具有極
二次離子質譜SIMS應用：從半導體材料到生命科學
在2012年以前，汪福意研究員一直帶領團隊通過有機質譜，如電噴霧電離質譜(ESI-MS)、基質輔助激光解析電離質譜(MALDI-MS)等進行藥物相互作用組學研究、抗腫瘤藥物的研究和開發等工作。一次與生物學家偶然的討論給汪福意帶來了啟發，他萌生了使用高空間分辨率的二次離子質譜成像進行化
二次離子質譜概述
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分子吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。 用一次離
二次離子質譜技術
海洋有機地球化學檢測方法二次離子質譜技術簡述 摘要：海洋有機地球化學是通過研究與還原性碳相關的物質來揭示海洋生態系的 結構、功能與演化的一門科學。由于其中的有機組分通常以痕量、復雜的混合物 形式存在，且是不同年齡、不同來源、不同反應歷史生源物質的集成產物，所以 總體分析困難較大。目前主要是從整體水平
二次離子質譜的特點
1.獲得樣品最表層1-3個原子信息深度信息； 2.可以檢測同位素，用于同位素分析 ； 3.達到ppm~ ppb級的探測極限。 4. 可以并行探測所有元素和化合物，離子傳輸率可以達到100%。 5.采用高效的電子中和槍，可以精確的分析絕緣材料。 6. 具有很小的信息深度（小于1nm）；可
二次離子質譜的原理
??? 二次離子質譜是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子，通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。它利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表
二次離子質譜的結構
??? 近年來，二次離子質譜這一前沿的分析技術越來越多地被用在了科學研究當中，應用范圍較為廣泛。然而，依然有很多小白對二次離子質譜的基本結構不太了解。那么二次離子質譜的組成結構是怎樣的呢？都有哪些功能和特點？今天小編就來簡單盤點一下。? 二次離子質譜主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次
二次離子質譜儀的質譜原理
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基于質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基于一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如圖1所示）。帶有幾千電子伏特能量的一次離子轟擊樣品表面，在轟擊的區域引發一系列物理及化學過程，包括一次離子散射及表面原子、原子
已知月球地質壽命“延長”約10億年
近日，《科學》在線發表了關于嫦娥五號月球樣品的首個研究成果。中國地質調查局中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心研究員劉敦一和地質所海外高級訪問學者、澳大利亞科廷大學教授Alexander Nemchin領銜的研究團隊，證明月球在19.6億年前仍存在巖漿活動，使目前已知的月球地質壽命“延長”了
第34屆中國質譜學會學術年會報告－探討質譜技術新進展
分析測試百科網訊 2016年9月10日，由中國質譜學會主辦，中國科學院青海鹽湖研究所和安特百科（北京）技術發展有限公司聯合承辦的“第34屆中國質譜學會學術年會暨全國會員代表大會”在西寧召開（相關報道：第34屆中國質譜學會學術會在西寧開幕 共享質譜頂尖技術）。會議首日，15位報告人分別作了精彩的大
飛行時間二次離子質譜共享
儀器名稱：飛行時間二次離子質譜儀器編號：13027664產地：德國生產廠家：ION-TOF GmbH型號：TOF.SIMS 5出廠日期：2012.5購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：理科樓D-104固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-6
飛行時間二次離子質譜儀（TOFSIMS）
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室?【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次
7400萬－劉敦一團隊入選重大科學儀器設備項目
由中國地質科學院地質所北京離子探針中心牽頭(劉敦一研究員擔任項目負責人)，聯合中國科學院大連化學物理研究所、吉林大學和中國地質科學院礦產資源研究所共同申請的國家重大科學儀器設備開發專項項目“同位素地質學專用TOF-SIMS科學儀器”于近日通過科技部組織的專家評審并正式啟動，獲得7400萬元的專項
北京兩臺離子探針儀器全球最忙成績最好
在過去10年里，北京離子探針中心的兩臺高分辨二次離子探針質譜儀(SHRIMP Ⅱ和SHRIMP Ⅱe-MC)或許是全球最忙及成績最好的科學儀器。在12月18日該中心十周歲慶祝會上，中心主任劉敦一教授表示，以這兩臺儀器為核心的大型科學儀器共享平臺，極大推動了我國地球科學的發展。 過去10年，
學者綜述二次離子質譜技術發展
近日，應《自然-綜述-方法導論》（Nature Reviews Methods Primers）的邀請，香港科技大學（廣州）教授翁祿濤與合作者共同撰寫了題為《二次離子質譜》（Secondary ion mass spectrometry）的綜述論文，同期還配發了導論總覽（PrimeView）對該論文
二次離子質譜可完成癌細胞分析
哥德堡大學（University of Gothenburg）進一步開發了二次離子質譜的應用，以幫助研究人員更好地檢測身體中的有害細胞。“該方法可以變得重要，例如對于乳腺癌組織的未來分析。”博士生Tina Angerer說。該方法可以被描述為首先通過在其處噴射氣體射彈從一片組織釋放分子和原子，然后使
3D成像——二次離子質譜技術
質譜成像技術能將基質輔助激光解吸電離質譜的離子掃描與圖像重建技術結合，直接分析生物組織切片，產生任意質荷比(m/z)化合物的二維或三維分布圖。其中三維成像圖是由獲得的質譜數據，通過質譜數據分析處理軟件自動標峰，并生成該切片的全部峰值列表文件，然后成像軟件讀取峰值列表文件，給出每個質荷比在全部質譜圖中
二次離子質譜技術的分析和應用
二次離子質譜是一種具有超高分辨率和靈敏度的固體表面分析技術。它可以分析氫元素到鈾元素在內的所有元素和同位素，還可以得到固體表面官能團和分子結構等信息。SIMS可以分為靜態SIMS（SSIMS）和動態SIMS（DSIMS）兩種類型，通過不同掃描類型，得到二次離子質譜圖、化學成像、動態深度剖析曲線等
二次離子質譜可完成癌細胞分析
分析測試百科網訊 哥德堡大學（University of Gothenburg）進一步開發了二次離子質譜的應用，以幫助研究人員更好地檢測身體中的有害細胞。 “該方法可以變得重要，例如對于乳腺癌組織的未來分析。”博士生Tina Angerer說。該方法可以被描述為首先通過在其處噴射氣體射彈從一片