XRF分析技術的相關介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，加上快速測量和結構緊湊的臺式儀器等優點，能實現現場分析并立即得到結果。......閱讀全文
X射線光譜技術(XRF)
X射線光譜技術因其是一種環保型、非破壞性、分析精度高的分析技術[33], 特別是在貴金屬產品、飾品無損檢測方面有其獨特的優勢。用XRFA互標法無損檢測黃金飾品,對金飾品[w(Au)>96%]的測定絕對誤差
由摩擦效應產生X射線的新型XRF技術介紹
摩擦發光是一種通過機械作用（如拉動、撕裂、刮擦、壓碎或者不同材料間的摩擦等）而產生光的現象。例如，當敲碎蔗糖晶體時或者剝離膠帶時就能觀察到這種現象；這種現象從很久之前的古文明時期就被人們所發現。20世紀80年代，人們發現在X射線能量范圍內，真空管內的機械作用能夠產生光；2008年，一批來自美國加
XRF原理的金屬成分分析儀的介紹
金屬成分分析儀是采用XRF（熒光光譜分析）原理，對金屬材料成分進行快速檢測的儀器。由于X射線波長很短，因此是不可見的。但它照射到某些化合物如磷、鉑氰化鋇、硫化鋅鎘、鎢酸鈣等時，由于電離或激發使原子處于激發狀態，原子回到基態過程中，由于價電子的能級躍遷而輻射出可見光或紫外線，這就是熒光。X射線使物
關于XRF的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
關于XRF的基本分析
當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時放射出次級X射線光子，此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的。 根據
XRF分析儀的用途
XRF分析儀用于需要辨別材料的化學成分或樣件合金牌號的應用中。便攜式XRF分析儀可在野外現場采用堪比實驗室的技術對那些龐大、笨重或運送成本很高的樣品進行檢測。在現場進行分析可以實時提供信息，使用戶迅速做出決策。
關于XRF的波長介紹
元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下: λ=K(Z? s) ?2 式中K和S是常數。
關于XRF的優點介紹
分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2-5分鐘就可以測完樣品中的全部元素。 非破壞性。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。 分析精密度高。制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 測試元素范圍大，WDX可在p
XRF測試結果分析方式
定性分析不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜
XRF分析儀樣品制備化學富集法的介紹
1）沉淀法 螯合物沉淀法（DDTC法）是使溶液中的各金屬陽離子與螯合物試劑反應后沉淀過濾，鰲合物沉淀劑常用的有DDTC（銅試劑）、PAN（1-（2-吡啶偶氮）-2-萘酚），8-羥基喹啉，其特點是均可與近20種元素產生螯合物沉淀。 沉淀法是加入適合于溶液中各元素的沉淀劑和共沉淀劑使之反應，然
關于XRF光譜儀的化學分析介紹
主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀
XRF元素定量分析的經驗系數法介紹
經驗系數法不可避免的問題是離不開標準樣品，如果存在元素之間的吸收增強效應，為了通過最優化算法得到元素之間互相的影響系數，需要的標準樣品的個數會更多。即使有足夠多的合格標準樣品（通常是比較難的），得到的數學模型的適用范圍也會受限，通常不能超出標樣涵蓋的范圍。之所以多數X射線熒光分析儀分析的元素種類
XRF、PXRD、FTIR分析技術對中藥材主要組分的研究
長期以來，中藥材質量判別依賴于傳統經驗判別法，主觀性強，為探索制定一種快速簡便、客觀性、重現性好的中藥材質量評價標準新方法，論文以兩種中藥材(太空育種白術與地面組白術，祁山藥與市售山藥)為研究對象，從中醫藥的整體觀出發，共用X射線熒光光譜(XRF)、粉末X射線衍射(PXRD)和傅利葉變換紅外光譜(F
簡述便攜式XRF儀器的相關概念
便攜式XRF儀器為能量型X射線熒光光譜儀，是元素分析應用的兩種通用型 X 射線熒光儀器之一，與波長型XRF不同的是，便攜式XRF儀器通過特征X射線的能量來分析組成物質的元素種類及含量。 元素是一類原子的總稱，原子有原子核和電子組成，電子離原子核越近,受到的束縛作用越強,能級越低。越往外層,電子
關于XRF巖芯掃描儀的技術指標介紹
XRF巖芯掃描分析系統支持大多數沉積物元素組成及含量測試，其采用SSD硅漂移檢測器，有效檢測區域為20mm2，并配有鉻、鉬、銠3個不同類型的X射線光管，適用于不同類型樣品測試，樣品縱向測試最大分辨率為0.1mm；數字X射線成像分析系統主要用于測量巖芯沉積物密度的面分布情況，其采用1000像素的線
超濾技術的相關介紹
超濾技術的關鍵是膜。膜有各種不同的類型和規格，可根據工作的需要來選用。早期的膜是各向同性的均勻膜，即常用的微孔薄膜，其孔徑通常是0.05mm 和0.025mm。近幾年來生產了一些各向異性的不對稱超濾膜，其中一種各向異性擴散膜是由一層非常薄的、具有一定孔徑的多孔"皮膚層"（厚約0.1mm～1.0m
XRF分析的有哪些優勢特點？
XRF分析的精密度和重現性很高。若有合適的標準，分析的準確度非常高，當然沒有標準時也可以分析。測量時間取決于待測的元素數目和要求的精度，在幾秒至30分鐘間變動。測量后的數據處理時間只需幾秒鐘。圖1顯示用EDXRF測得油的土壤樣品一組典型的光譜圖。圖中峰的輪廓清晰可見。峰的位置確定樣品存在的元素，
XRF分析的熔片法程序
1.加熱樣品和硼酸鹽助熔劑的混合物，直到助熔劑融化；2.繼續加熱直到樣品溶解到助熔劑中，并攪拌以使熔體均勻化；3.將熔融玻璃倒入熱模中；4.冷卻以獲得堅固的玻璃盤，無需任何其他處理即可進行X射線測量。要進行融合實驗，必須了解使用的工具，融合混合物的成分，融合前的準備工作以及融合程序。將考慮所有這些，
關于XRF的定量分析
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比： （10.2） 式中， 為 =100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似
XRF鍍層測厚儀的組成介紹
XRF光譜儀的主要部件組成為X射線管、光圈、探測器、對焦系統、相機以及樣品臺。如上圖所示。X射線管是儀器的一部分，產生照射樣品的X射線。光圈是引導X射線指向樣品的裝置的第一部分。XRF儀器中的光圈將決光斑尺寸，正確的光圈選擇對精密度和測量效率至關重要。探測器與相關電子設備一并處理從樣品中激發出的
關于XRF儀器的特點介紹
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
關于XRF儀器的原理介紹
X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。 X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。 XRF工作
關于XRF的發展歷程介紹
1895年倫琴發現X射線； 1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎； 20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段； 60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅速發展，并使現場和原位X射線光譜分析成為可能
X射線熒光光譜分析（XRF）技術的基本理論
眾所周知，X射線在醫療診斷領域得到了廣泛應用，其實，它同時也奠定了諸多功能強大的分析測試技術的基礎，包括X射線熒光（XRF）光譜分析技術。 XRF光譜分析技術可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元
XRF分析技術在土壤重金屬檢測中的應用研究
本文選題來自國家863計劃項目之“高精度手提式X熒光儀的研發”編號為：2012AA06180301。在社會經濟快速發展的今天，我們生活在工業文明的成果中，沒有顧慮到環境問題已經成為危害我們生活質量的關鍵因素。目前來說，在諸多的環境污染問題之中又以土壤環境污染最受大家關注。土壤是人類各種資源的來源地，
XRF光譜儀的主要技術要點
1.探測器的類別，不同型號的探測器比如正比計數盒，Si-pin, SDD和FSDD的表現差異非常大，價格也相差明現。2.光管的選型（功率，靶材，端窗或者側窗，玻璃還是鈹窗窗口，穩定性）3.設備的測試重復性和穩定性非常關鍵，X熒光光譜儀是基于X射線的元素定性和定量分析技術，各生產廠家根據不同的標定曲線
XRF熒光光譜的技術指標
重復性0.1% 能量分辨率小于135eV@5.9keV/1,000cps 分析含量范圍1ppm-100% 元素分析范圍C（6) ~ Am(95)。
XRF合金分析儀簡介
合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料中元素成份的現場測定。是伴隨世界經濟崛起的工業和軍事制造領域必不可少的快速成份鑒定工具。
XRF分析儀檢測什么？
分析儀分析可以通過探測從鎂（Mg）到鈾（U）的元素。XRF分析儀幾乎我們可以直接指向任何樣件進行系統檢測，并獲得更加準確的結果。使用網絡分析儀完成的常見技術應用主要包括廢料分揀、合金牌號的辨別、金屬設備制造業的質量管理控制（QC）、地質勘探或采礦、工業建筑材料的檢測，如：水泥或煤炭等，以及社會消費金
XRF分析儀探測什么？
XRF分析儀可以探測從鎂（Mg）到鈾（U）的元素。XRF分析儀幾乎可以指向任何樣件進行檢測，并獲得準確的結果。使用分析儀完成的常見應用包括廢料分揀、合金牌號的辨別、金屬制造業的質量控制（QC）、地質勘探或采礦、工業材料的檢測，如：水泥或煤炭等，以及消費產品的檢測，以發現漆層中的鉛或其他污染物。