TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的工作原理
1. 利用聚焦的一次離子束在樣品上進行穩定的轟擊，一次離子可能受到樣品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固體樣品表面的一些原子層深入到一定深度，在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。一次離子將其部分能量傳遞給晶格原子，這些原子中有一部分向表面運動，并把能量傳遞給表面離子使之發射，這種過程成為粒子濺射。在一次離子束轟擊樣品時，還有可能發生另外一些物理和化學過程：一次離子進入晶格，引起晶格畸變；在具有吸附層覆蓋的表面上引起化學反應等。濺射粒子大部分為中性原子和分子，小部分為帶正、負電荷的原子、分子和分子碎片；2. 電離的二次粒子（濺射的原子、分子和原子團等）按質荷比實現質譜分離；3. 收集經過質譜分離的二次離子，可以得知樣品表面和本體的元素組成和分布。在分析過程中，質量分析器不但可以提供對于每一時刻的新鮮表面的多元素分析數據。而且還可以提供表面某一元素分布的二次離子圖像。4. TOF（Time of Flight）的獨特之處在于......閱讀全文
飛行時間二次離子質譜儀（TOFSIMS）
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室?【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次
ToFSIMS助力研究人員解開“塔利怪物”之謎
分析測試百科網訊 萊斯特大學的研究團隊最近解開了一塊3億年前的化石“塔利怪物”之謎，利用獨有的眼部表征技術，確定古老的“塔利怪物”為古代脊椎動物。 被俗稱為“塔里怪物”的古老生物化石，是在北美洲的伊利諾伊州煤炭采石場被發現的， “塔利怪物”化石具有一個條紋狀的身體，一條長長的尾巴，在其頭部還具
飛行時間二次離子質譜（TOFSIMS）研究
一、二次離子峰位歸屬煤及烴源巖中的有機組分的二次離子譜非常復雜，再加上目前對SIMS裂分機理掌握不夠，因此，對煤及源巖有機質的SIMS譜圖解釋存在很多問題。目前對TOF-SIMS常見碎片離子峰認識程度綜合于表7-7。本節研究重點是根據對現有峰位的認識，建立與13CNMR,Mirco-FT·IR可以類
TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的工作原理
1. 利用聚焦的一次離子束在樣品上進行穩定的轟擊，一次離子可能受到樣品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固體樣品表面的一些原子層深入到一定深度，在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。一次離子將其部分能量傳遞給晶格原子，這些原子中有一部分向表面運動，并把能量傳遞給表面離子使之發射，這種過程成為粒子
TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的主要用途
1. 摻雜劑與雜質的深度剖析2. 薄膜的成份及雜質測定 （金屬、電介質、鍺化硅 、III-V族、II-V族）3. 超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析4. 硅材料整體分析，包含B, C, O,以及N5. 工藝工具（離子植入）的高精度分析
“同位素地質學專用TOFSIMS科學儀器”項目啟動會召開
3月22日，科技部國家重大科學儀器設備開發專項“同位素地質學專用TOF-SIMS科學儀器”項目啟動會在北京召開。該項目由中國地質科學院地質研究所牽頭，中科院大連化學物理研究所、吉林大學、中國地質科學院礦產資源研究所參與。大連化物所李海洋研究員和王利研究員分別承擔了“精度及高分辨飛行
“同位素地質學專用TOFSIMS科學儀器”開發專項獲新進展
2015年1月27日，國土資源部科技與國際合作司組織有關專家在北京對中國地調局地科院地質所牽頭，中國科學院大連化學物理研究所、吉林大學和中國地調局地科院資源所所等單位參加的“國家重大科學儀器設備開發專項”項目《同位素地質學專用TOF-SIMS科學儀器》（編號：2011YQ050069）
雪迪龍TOFSIMS國產化項目正式啟動，開啟高端分析儀器自主創新新篇章
2025年9月17日，一場承載著高端分析儀器自主化突破使命的盛會——雪迪龍飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）國產化項目啟動儀式，在雪迪龍北京研發生產基地隆重舉行。該項目的正式啟動，不僅標志著雪迪龍在高端質譜儀器領域的國產化征程邁入關鍵階段，更為我國在半導體、新能源等戰略新興產業的核心檢測設備
二次離子質譜儀的發展歷史
自從Dunnoyer 第一次發現離子在真空中沿直線運動已經有100年的歷史，自此以后，分子束的應用在二十世紀持續到二十一世紀，它為重大技術進步和基礎研究奠定了基礎，分子束用于濺射源是其中應用之一。 盡管在是十九世紀中葉濺射的現象已經觀察到，直到十九世紀四十年代，隨著真空技術的進步，Herzog
7400萬－劉敦一團隊入選重大科學儀器設備項目
由中國地質科學院地質所北京離子探針中心牽頭(劉敦一研究員擔任項目負責人)，聯合中國科學院大連化學物理研究所、吉林大學和中國地質科學院礦產資源研究所共同申請的國家重大科學儀器設備開發專項項目“同位素地質學專用TOF-SIMS科學儀器”于近日通過科技部組織的專家評審并正式啟動，獲得7400萬元的專項
從劍橋實驗室到助力中國技術突破：Kore的TOF質譜技術演進史
1991年成立的Kore Technology，是國際飛行時間質譜儀領域的開拓者之一。自成立以來，Kore始終深耕飛行時間質譜儀領域，為全球高校、科研機構及工業用戶提供高端定制化解決方案。2015年，北京雪迪龍科技股份有限公司控股收購Kore公司，不僅豐富了雪迪龍在高端分析儀器領域的業務布局，也為K
面向動態表界面分析的原位液相二次離子質譜新技術研究獲進展
表界面化學是能源、環境和生命等前沿科學領域的核心。在分子水平上表征表界面化學，對闡明上述領域關鍵科學問題的化學本質具有重要意義。然而，表界面層極薄、其物種復雜性及高度動態性，對化學測量學提出了挑戰。飛行時間二次離子質譜（ToF-SIMS）是迅速發展的先進表界面分析技術。而作為基于高真空環境的分析技術
單細胞質譜分析的現狀與發展
2015年10月17日，第二屆全國質譜分析學術報告會在浙江大學紫荊港校區體育館盛大開幕，在5位院士的精彩報告后，多位學者做了高水平的大會報告。 清華大學張新榮教授：單細胞質譜分析的現狀與發展 清華大學張新榮教授做題為《單細胞質譜分析的現狀與發展》的報告。細胞是生命活動的基本單元，在單細胞
聚焦前沿技術－共探半導體痕量成分檢測新路徑
2025年7月17日，“質析毫微?譜繪萬象”半導體痕量成分檢測技術交流會在中國科學院上海應用物理研究所學術交流中心隆重舉行。本次會議由中國物理學會質譜分會、北京雪迪龍科技股份有限公司聯合主辦，中國科學院上海應用物理研究所、分析測試百科網、中國儀器儀表學會分析儀器分會質譜儀器專家組協辦，吸引了眾多
二次離子質譜技術的分析和應用
二次離子質譜是一種具有超高分辨率和靈敏度的固體表面分析技術。它可以分析氫元素到鈾元素在內的所有元素和同位素，還可以得到固體表面官能團和分子結構等信息。SIMS可以分為靜態SIMS（SSIMS）和動態SIMS（DSIMS）兩種類型，通過不同掃描類型，得到二次離子質譜圖、化學成像、動態深度剖析曲線等
二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。中文名 二次離子
清華大學儀器共享平臺泰思肯－高分辨高靈敏度表面分析系統
儀器名稱：高分辨高靈敏度表面分析系統儀器編號：22000545產地：捷克生產廠家：泰斯肯型號：S9000X出廠日期：購置日期：2021-12-30所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>高分辨高靈敏度表面分析分室放置地點：逸夫技術科學樓A136固定電話：62797277固定手機：固定email：
清華大學儀器共享平臺泰斯肯－高分辨高靈敏度表面分析系統
儀器名稱：高分辨高靈敏度表面分析系統儀器編號：22000545產地：捷克生產廠家：泰斯肯型號：S9000X出廠日期：購置日期：2021-12-30所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>高分辨高靈敏度表面分析分室放置地點：逸夫技術科學樓A136固定電話：62797277固定手機：固定email：
飛行時間二次離子質譜共享
儀器名稱：飛行時間二次離子質譜儀器編號：13027664產地：德國生產廠家：ION-TOF GmbH型號：TOF.SIMS 5出廠日期：2012.5購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：理科樓D-104固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-6
質譜應用沙龍：探索質譜極限助力生命健康研究
分析測試百科網訊 2018年3月30日，2018年度北京質譜年會在北京蟹島會議中心召開。30日下午，舉辦了分會場學術沙龍，分別是：食品與環境，醫藥與生命科學，無機質譜技術及應用（ICP-MS沙龍暨第十七期原子光譜沙龍），質譜新技術/新方法。學術應用及產業界的專家都分享了各領域的新技術及新應用，與
關于飛行時間二次離子質譜儀的介紹
飛行時間二次離子質譜儀(ToF-SIMS)。在此類質譜儀中，二次離子被提取到無場漂移管，二次離子沿既定飛行路徑到達離子檢測器。由于給定離子的速度與其質量成反比，因此它的飛行時間會相應不同，較重的離子到達檢測器的時間會比較輕的離子更晚。此類質譜儀可同時檢測所有給定極性的二次離子，并具有極佳質量分辨
兩臺“特殊”質譜儀落戶核工業北京地質研究院
核工業北京地質研究院分析測試研究中心是以核能材料、放射性標準物質的制備、地質礦產和環境分析測試技術研究與服務為主的綜合性檢測實驗室技術機構，也是核工業地質行業的仲裁分析測試實驗室，是地質行業同位素分析、微束分析等領域的權威機構。 核工業北京地質研究院分析測試研究中心采購了兩臺特殊的質譜儀，今年
二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。
直播預告|3位專家分享二次離子質譜技術前沿研究
直播時間：2024年6月24日（周一）18:00——20:00直播平臺：科學網APPhttps://weibo.com/l/wblive/p/show/1022:2321325046574324515136（科學網微博直播間鏈接）科學網微博科學網視頻號【直播簡介】2024 年 06 月 24 日，F
化學所在鉑類抗癌化合物分子作用機制研究方面取得進展
金屬抗腫瘤藥物損傷DNA會導致一系列細胞應激反應，其中最直接的就是多種核蛋白對DNA損傷的識別和結合，因此探索DNA結合蛋白對藥物抗癌活性的調控作用具有重要意義。中國科學院化學研究所研究員汪福意團隊利用功能化納米金作為親合富集工具，應用基于質譜的蛋白質組學研究方法，從腫瘤細胞裂解液中富集、捕獲和定性
飛行時間二次離子質譜法
飛行時間二次離子質譜法Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS原理超真空環境下向樣品射入1次離子束，從樣品的淺表層（1~3nm）釋放出2次離子。將2次離子導入飛行時間（TOF型）質譜儀，就可以獲得樣品最表層的質譜。此時，再通過調
材料質譜分析
主要包括電感耦合等離子體質譜ICP-MS和飛行時間二次離子質譜法TOF-SIMS（1） 電感耦合等離子體質譜(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用電感耦合等離子體作為離子源的一種元素質譜分析方法；該離子源
質譜分析
主要包括電感耦合等離子體質譜ICP-MS和飛行時間二次離子質譜法TOF-SIMS（1） 電感耦合等離子體質譜(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用電感耦合等離子體作為離子源的一種元素質譜分析方法；該離子源產生的樣
專家學者齊聚南京－共話質譜分析新方法
分析測試百科網訊 2016年12月18日，2016年全國生命分析化學學術大會質譜分析新方法分會在南京國際展覽中心召開。分會邀請了清華大學張新榮、南師師范大學陳大勇、浙江大學潘遠江、香港浸會大學蔡宗葦等10余位質譜方面的專家學者作精彩報告。 質譜分析新方法分會現場 清華大學 張新榮 清華大學
七大材料結構分析方法七——探針和掃描顯微分析
所謂探針，就是探測固體表面信息的針。探針射向或接近固體表面某微區，所激發的某些物理信號攜帶該微區的結構信息。 常用儀器：電子探針X射線顯微分析儀（EPA），俄歇電子能譜（AES），X射線光電子能譜儀（XPS），掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡，飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）等 應用實例